概述
Řešení přizpůsobená na míru Vašim potřebám
Naším posláním je poskytovat Vám přizpůsobená inspekční řešení na míru pro optimalizaci Vašich pracovních postupů. | S využitím naší přední světové produktové řady vytváříme hardwarová a softwarová kontrolní řešení na míru.Konstruujeme a vytváříme přizpůsobená hardwarová a softwarová inspekční řešení založená na potenciálu naší produktové řady, jenž představuje špičku na celosvětovém trhu. Náš specializovaný sortiment v oblasti mikroskopie disponuje vlastnostmi, které výrazně rozšiřují rozsah analyzovatelných vzorků. Můžeme s vámi také navázat přímou spolupráci a společně vytvořit hardwarové a softwarové systémy, které posílí Vaše možnosti automatizovaného zkoušení. |
Cílená řešeníRozšiřte schopnosti svého inspekčního vybavení pomocí řešení na míru cílené oblasti využití. Software přizpůsobený na míruPřizpůsobený softwarový pracovní postup pro průmyslovou mikroskopovou kontrolu. Řešení pro laserovou skenovací mikroskopiiPokročilé vlastnosti laserových skenovacích mikroskopů vhodné pro velké a těžké vzorky. Mikroskopová řešení pro polovodičeAutomatizujte kontrolu polovodičů pomocí přizpůsobené mikroskopové technologie. Řešení pro světelnou mikroskopiiVšestranné stojany pro kontrolu velkých a těžkých komponent. |
Postupy na míruPokud se vám nepodaří najít, co hledáte, v naší nabídce cílených produktů, naše plně přizpůsobená řešení vám poskytnou ještě více možností. Své zařízení můžete rozšířit o specializované funkce, které rychle a efektivně překonají konkrétní inspekční výzvy. Stačí zaslat žádost o přizpůsobené řešení prostřednictvím formuláře níže a naši inženýři se s vámi obratem spojí, abychom mohli vaše řešení prodiskutovat. |
Technické informace k mikroskopovým řešením na míruIntegrátorům systémů, kteří používají naše řešení na míru k návrhu a vývoji produktů, poskytujeme referenční návrhy (technické informace). Níže naleznete 3D a 2D CAD výkresy, ze kterých si můžete nastudovat rozvržení řešení mikroskopů, podpůrný software k ověření dálkově řízeného provozu systémů a potvrzení odeslání a přijetí příkazů a také návody k použití se seznamem řídicích příkazů externí komunikace s jejich funkcemi. Než si tyto informace stáhnete, pečlivě si přečtěte níže uvedené Vyloučení odpovědnosti a vyjádřete souhlas s podmínkami použití. Vyloučení odpovědnosti: Referenční návrhy
Zjistěte, jak vám mohou naše řešení na míru pomoci. Obraťte se na nás ještě dnes. Poznámka:
|
工业激光显微镜
Možnosti nad rámec konvenčníchImplementujte všechny pokročilé funkce laserového skenovacího mikroskopu LEXT™ OLS5100 pro materiálovou analýzu velkých a těžkých vzorků. |
Laserový skenovací mikroskop OLS5100 spojuje mimořádnou přesnost a optickou výkonnost s inteligentními nástroji, díky kterým je použití systému skutečně snadné. Přidejte přizpůsobené možnosti, které vám poskytnou úplnou sadu pokročilých měření a funkcí. |
Přizpůsobte průmyslový skenovací mikroskop svým potřebám
- Stolky pro vysoké zatížení
- Velké mostové stojany
- Pracovní stanice s vysokou stabilitou
- Stabilní vrchní kamenný podstavec
- Aktivní antivibrační stolní jednotka
- Boxy s řízeným prostředím
- Upínače na míru
- Otočný podtlakový držák waferů
- Otočný držák waferů
- Upínače se závitovými otvory
Laserový skenovací mikroskop OLS5100-TM – měřte velké vzorky v nanometrovém měřítku
Mikroskop OLS5100 je vybaven několika možnostmi přizpůsobení pro měření velkých elektronických dílů, například křemíkových waferů či desek plošných spojů, ale i měření těžkých komponent, včetně automobilových dílů, v nanometrovém měřítku. Mezi tyto možnosti patří:
- Motorizované stolky o rozměru až do 300 × 300 mm pro kontrolu velkých a těžkých vzorků
- Stolky s vyšší nosností až do 30 kg
- Ruční posun v ose Z pro snadnější měření vzorků různých výšek
Velké mostové stojany – vysoká stabilita pro měření nadměrně velkých vzorkůStabilita je pro kontrolu s vysokým rozlišením u komponent, jako jsou křemíkové wafery, elektronika a velké automobilové díly, klíčovým faktorem. Přizpůsobitelný velký mostový stojan je konstruován tak, aby zajišoval preciznost a přesnost měření prováděných pomocí mikroskopu OLS5100. Vyznačuje se následujícími vlastnostmi:
|
Přizpůsobitelné pracovní stanice s vysokou stabilitou – maximalizace preciznosti měřeníDosažení optimální preciznosti měření v nanometrovém měřítku při kontrole vzorků, jako jsou elektronické komponenty, vyžaduje vybavení, které je schopno minimalizovat vliv vnějších vibrací. Naše pracovní stanice s vysokou stabilitou umožňují provádět precizní kontroly v nanometrovém měřítku. Pracovní stanice zahrnují:
Tyto komponenty pracovních stanic lze využít k vytvoření na klíč dodaného řešení nebo je lze zakoupit jednotlivě podle vašich požadavků. |
Stabilní vrchní kamenný podstavec – optimalizované pracovní prostředíDosažení vhodných podmínek prostředí pro optimální preciznost při provádění kontrol v nanometrovém měřítku u elektronických komponent a jiných předmětů může být obtížně řešitelným úkolem. Vrchní kamenný podstavec pomáhá zajistit, že operátor je schopen získávat spolehlivá měření s vysokým rozlišením.
Aktivní antivibrační jednotky mohou být bezproblémově integrovány do stojanu mikroskopu – což představuje vysoce kompaktní řešení – nebo je možné použít antivibrační stolní jednotku, podle vašich potřeb provádění kontrol. |
Aktivní antivibrační stolní jednotka – eliminuje malé vibrace, čímž napomáhá vyšší preciznostiPři použitích, která vyžadují rozlišení v nanometrovém měřítku, jako je například kontrola waferů, mohou přesnost měření ovlivnit i lehké kročeje či minimální hluk. Aktivní antivibrační stolní jednotka je navržena tak, aby eliminovala vnější vibrace, a zároveň se vyznačuje několika vlastnostmi, které zvyšují stabilitu a preciznost měření:
|
Box s řízeným prostředím – výkonný nástroj pro kontroly prováděné v čistých prostoráchOchranný kryt mikroskopu zajišuje vhodné pracovní prostředí, které zlepšuje přesnost měření a omezuje hluk vznikající skenováním při použití standardních systémů LEXT. Abychom pomohli uživatelům udržet efektivní pracovní postup kontroly za použití ochranného krytu, je box s řízeným prostředím vybaven několika inovativními charakteristikami konstrukčního provedení:
|
Mikroporézní podtlakové upínače – optimální upevnění choulostivých vzorkůPřesná kontrola tenkých a pružných objektů, například tenkých vrstev pro RFID, fotovoltaických panelů a křemíkových substrátových disků, vyžaduje úchyty, které zajišují rovnoměrnou upínací sílu a způsobují jen minimální deformaci vzorků. Mikroporézní podtlakový upínač zachovává během kontroly rovinnost a neporušenost choulostivých vzorků. Toho je dosaženo pomocí rovnoměrného sání zajišovaného mikropóry namísto sacími otvory nebo drážkami.
|
Otočný podtlakový držák waferů – stabilní a bezpečné upevnění diskuAby byla zajištěna účinná kontrola waferů, musí držáky vzorků poskytovat snadnou navigaci po vzorku a stabilní upevnění vzorku. Podtlakový držák waferů je vybaven několika vlastnostmi, které pracovní postup kontroly substrátových disků zefektivňují:
|
Otočný držák waferů – zefektivnění kontroly diskůOtočný držák waferů poskytuje přímočarou a hospodárnou alternativu pro upevnění vzorků tam, kde není vyžadováno podtlakové sání.
|
Upínače se závitovými otvory – snadná kontrola s přizpůsobenými upínačiČasto jsou požadovány přizpůsobené upínače, do kterých lze během kontroly upevnit trubky, kostky a jiné nepravidelné objekty. K upevnění široké škály vzorků lze využít vložku se závitovými otvory o rozměru 150 mm × 110 mm × 5,5 mm, opatřenou 68 rovnoměrně rozloženými závitovými otvory M3. |
Poznámka k oblasti použitíAutomatizace měření drsnosti povrchu u kriticky důležitých automobilových komponentKomponenty motorů s vnitřním spalováním musí být vyrobeny za splnění přísných tolerancí a náročných norem povrchové úpravy, aby bylo dosaženo optimální výkonnosti motoru. Laserový skenovací mikroskop OLS5100 3D je schopen provádět vysoce přesná bezkontaktní měření drsnosti povrchových ploch. Jako takový se velmi dobře hodí pro kontrolu kvality automobilových komponent. | |
Výrobce komponent motoru se obrátil na společnost Evident s požadavkem na zlepšení svého pracovního postupu měření drsnosti povrchových ploch. Společnost Evident spolupracovala s výrobcem na vytvoření vysoce automatizovaného, na míru přizpůsobeného řešení s využitím mikroskopu LEXT. V rámci kompletního řešení byly zcela automatizovány tyto úkony:
Automatizací tohoto pracovního postupu došlo k významnému zvýšení produktivity a snížení počtu chyb způsobených operátorem. Precizní měření musí být navíc prováděna za podmínek řízeného prostředí. U tohoto použití výrobce požadoval také automatické zaznamenávání a ukládání hodnot lokální teploty a vibrací pozadí na server systému MES. Společnost Evident zajistila integraci těchto funkcí do systému výrobce. |
数码显微镜
Možnosti nad rámec konvenčníchRozšiřte možnosti svého digitálního mikroskopu DSX1000, a to využitím komponent přizpůsobených pro kontrolu velkých a vysokých vzorků. |
Digitální mikroskop DSX1000 spojuje snadné použití s pokročilými funkcemi a zefektivňuje tak pracovní postup kontroly. Vylepšete svůj digitální mikroskop pomocí řešení přizpůsobených pro kontrolu velkých a vysokých vzorků. |
Přizpůsobte digitální mikroskop svým vlastním potřebám |
Vzpřímené rámyMěření velkých vzorků při velkém zvětšení Přizpůsobený vzpřímený rám mikroskopu DSX1000 umožňuje provádět přesná měření velkých nebo těžkých vzorků. | Přibližovací hlava pro fluorescenční mikroskopiiPomocí fluorescence toho uvidíte více Odhalte více vad během kontroly. Mezi oblasti použití patří měření důležitých rozměrů křemíkových waferů či zjišování trhlin u desek s pájenými plošnými spoji. | Naklápěcí rámyPrecizní měření velkých vzorků z více úhlů Naše naklápěcí rámy zefektivňují proces kontroly a poskytují lepší porozumění objemovým vzorkům. |
Přednosti výrobkuSegmentované kruhové LED světlo poskytuje detaily blízké 3D kontrolePoužitím světla o různých vlnových délkách lze dosáhnout vylepšení u takových typů kontrol, jako jsou například forenzní zkoumání dokumentů, detekce trhlin, zkoumání nátěrů a laků. | |
Společnost Evident vyvinula pro mikroskop DSX1000 segmentovaná kruhová LED světla, jejichž použitím je možné během kontroly odhalit jemné detaily vzorku:
|
半导体显微镜
Možnosti nad rámec konvenčníchOdkryjte všechen potenciál automatizovaných polovodičových kontrol s naším přizpůsobeným hardwarem a softwarem. |
Systémy polovodičových mikroskopů MX63 a MX63L nabízí kvalitní pozorování waferů do rozměru 300 mm, plochých displejů, desek plošných spojů a dalších velkých vzorků. Tyto ergonomické a uživatelsky přívětivé systémy se vyznačují modulárním provedením, díky kterému je lze využít v mnoha různých oblastech použití. Pro zefektivnění kontrol lze řadu MX63 přizpůsobit použitím těchto komponent:
|
Přizpůsobte polovodičový mikroskop svým potřebám |
Plná motorizaceObjevte naše motorizované X-Y stolky a osy Z pro automatizované polovodičové kontroly. | Vylepšené zobrazováníPoužijte prošlé IČ světlo ke kontrolám prováděným skrz křemíkové vzorky, například ke kontrolám poškození čipu nebo detekci zkratu. | Zakázkové držáky vzorkůVyberte si z řady držáků vzorků, které lze přizpůsobit pro různé oblasti použití. |
Přizpůsobený software pro optimalizaci vašeho pracovního postupu kontrolyVyužijte na maximum všechny výhody motorizovaného stolku pomocí řešení se softwarem přizpůsobeným vašim potřebám. Náš software PRECiV™ lze přizpůsobit vašemu konkrétnímu pracovnímu postupu. |
Například přizpůsobené řešení Navigace na waferu nabízí pracovní postup s měřením ve více polohách. Podívejte se na video, ve kterém se dozvíte, jak toto řešení definuje rozvržení waferu a naviguje k různým bodům na waferu za účelem jejich zobrazení. |
Kontaktujte nás, rádi s vámi vaše požadavky projednáme |
光学显微镜
Možnosti nad rámec konvenčníchRozšiřte možnosti svých světelných mikroskopů a stereoskopických mikroskopů všestrannými stojany určenými pro kontrolu větších vzorků. |
Světelné mikroskopy se používají při kontrole kvality a k podrobnému zkoumání nově vyvíjených materiálů, elektronických zařízení, kovů a chemikálií. Stereoskopické mikroskopy nabízí zřetelné stereoskopické zobrazení spolu s pohodlným a ergonomickým ovládáním. Přizpůsobené stojany pro světelné mikroskopy a stereoskopické mikroskopy poskytují vysokou stabilitu, která zaručuje větší preciznost měření, a spolu s motorizovaným posuvem v ose Z zefektivňují kontrolu velkých vzorků. |
Přizpůsobte si světelné a stereoskopické mikroskopy
| Jednosloupové stojanySnadné nastavení pro kontrolu velkých vzorků Při provádění kontrol vzorků různých velikostí je z hlediska efektivity kontrol naprosto klíčová možnost rychle nastavit výšku mikroskopu. |
Poznámka k oblasti použitíPořízení většího počtu měření za kratší dobu
|