Mikroskopy Evident pro kontrolu polovodičových waferů a plochých displejů poskytují nejvyšší úroveň účinnosti, zajišťují rychlé uvedení do provozu, snadnou obsluhu, analýzu poruch a rozšiřitelnost pro uživatele. Náš výběr mikroskopů pro kontrolu polovodičů je určen pro bezpečný přenos waferů, ideální pro kontrolu vad polovodičů. Kromě automatizovaných systémů pro manipulaci s wafery lze pro podrobnou analýzu malých defektů v polovodičích použít digitální mikroskop. Níže si prohlédněte naši kompletní nabídku mikroskopů pro kontrolu plochých displejů a polovodičů. |
Řadiče waferu sérieŘada řadiče waferu AL120 je inspekční mikroskop pro kontrolu polovodičů, který umožňuje snadný přenos křemíkových i složených polovodičových waferů, včetně karbidu křemíku (SiC) a arsenidu galia (GaAs), z kazety na pracovní stolek mikroskopu s rozšířenými možnostmi a flexibilitou, a to vše při zachování ergonomického a uživatelsky přívětivého designu.
Řadič waferu AL120-12 je mikroskop pro kontrolu polovodičů, ideální pro levnější zpětnou kontrolu, který je a je kompatibilní s FOUP (front opening unified pod) i FOSB (front opening shipping box). Bezpečný a ergonomický design zajišťuje bezpečnost operátora při efektivním přenosu waferů, včetně tenkých a deformovanýchpokroucených waferů.
Mikroskopické systémy MX63 a MX63L jsou optimalizovány pro vysoce kvalitní kontrolu waferů o velikosti až 300 mm. Kompatibilní s plochými panelovými displeji, deskami plošných spojů a dalšími velkými vzorky, jejich modulární designy vám umožňují vybrat komponenty, které potřebujete, a přizpůsobit systém vaší aplikaci.
Naše dDigitální kamery k mikroskopům Evident vám umožňují pořizovat vysoce kvalitní snímky vzorků. Naše kamery s vysokým rozlišením a vynikající věrností barev umožňují zobrazovat ostré živé obrazy v plném rozlišení a nabízejí jasné pozorování a zaostřování v reálném čase.
Řada objektivů MXPLFLN společnosti Evident byla navržena tak, aby současně poskytovala vysoké rozlišení a dlouhou pracovní vzdálenost, což je ideální pro kontrolu polovodičových waferů.
Optimalizujte váš mikroskop pro kontrolu waferů a pracovní postupPřečtěte si, jak mohou výrobci polovodičových waferů zlepšit kontrolu kvality waferů optimalizací svého vybavení a pracovních postupů. | |
Možnosti zobrazování pro kontrolu elektroniky a polovodičů v blízké infračervené oblastiZjistěte, jak kontrolní mikroskopy Evident vylepšují zobrazování v blízké infračervené oblasti pro kontrolu polovodičů. | |
Kontrola schématu obvodu na vzorcích waferuZjistěte, jak průmyslové mikroskopy MX63/MX63L společnosti Evident pro kontrolu polovodičů/FPD představují účinnou alternativu ke konvenčním metodám pozorování vzorků waferů. |
您即将被转换到我们的本地网站。