380nm～1050nmの可視光から近赤外まで幅広い波長領域での分光測定を実現

オリンパスの近赤外顕微分光測定機USPM-RU- Wは、可視光領域から近赤外領域まで の幅広い波長での分光測定を、スピーディ高精細に行います。通常の分光光度計では 測定できない、微小エリアや、曲面の反射率 の測定が容易にできるため、光学素子や微小電子部品などにも最適です。

• 充実の分光測定機能
• 曲面・微小エリアの高速・高精度測定を実現
• 多様なアプリケーション

充実の分光測定機能

反射率、膜厚、物体色、透過率、入射角45度の反射率といった様々な分光測定をこの一台で可能とします。

反射率測定

対物レンズで集光したø17～70μmの微小スポットの反射率を高速・高精度に測定するため、微細な電子部品やレンズなどの曲面測定に最適です。回転ステージを使用すると、レンズ周辺部の反射率測定も簡単にできます。

反射率測定光路イメージ
反射率測定例：レンズ	反射率測定例：レンズ周辺部

膜厚測定の画面例

膜厚測定 反射率データを活用して、約50nm～約10μmの単層膜、多層膜の膜厚測定を行います。

物体色の測定画面例

物体色測定 反射率データからXY色度図、L*a*b*色度図、および関連する数値を表示します。

透過率測定　(オプション)

ステージ下部からφ2mmの平行光を透過させることで、平面サンプルの透過率を測定します。偏光素子ユニットをつけるとP偏光・S偏光測定にも対応します。

透過率測定光路イメージ

入射角45度の反射率測定（オプション）

φ2mmの平行光を、側面から45度面に反射させ、反射率を測定します。偏光素子ユニットをつけるとP偏光・S偏光測定にも対応します。

45度反射率測定光路イメージ

曲面・微小エリアの高速・高精度測定を実現

光学系イメージ

高速測定を実現 フラットフィールドグレーティング及びラインセンサを用いた全波長同時分光測定により、高速測定を実現します。

反射率測定イメージ

微細部品、レンズの反射率測定に最適 ø17～70μmの測定エリアで非接触測定を可能にする専用対物レンズを新たに設計しました。通常の分光光度計では測定できない、微細な電子部品やレンズなどの曲面でも、再現性の高い測定を実現します。

裏面反射光カットの原理

反射率測定時の裏面反射防止処理は不要 専用対物レンズと輪帯照明の組み合わせにより、被検物裏面の反射防止処理を行わずに最薄0.2mmの反射率*を測定します。 *40×対物レンズ使用時、当社測定条件での測定。

選べる膜厚測定方法

測定された分光反射率データから単層膜や多層膜の膜厚解析を行います。用途に応じて最適な測定法を選択できます。

ピークバレー法膜厚解析経過情報例

ピークバレー法 測定された分光反射率値のピーク及びバレーの周期性から膜厚を算出する方法で、単層膜測定に有効です。複雑な設定が不要のため、簡単に求めることができます。

フーリエ変換法膜厚解析経過情報例

フーリエ変換法 測定された分光反射率値の周期性から膜厚を算出する方法で、単層膜及び多層膜測定に有効です。 ピーク及びバレーの検出が困難な場合などに、ノイズの影響をほとんど受けずに解析できます。

カーブフィット法膜厚解析経過情報例

カーブフィット法 測定された分光反射率値と、ある膜構造で計算された反射率の差が最小となる構造を推定することにより膜厚を算出する方法で、単層膜及び多層膜測定に有効です。 ピーク及びバレーの現れない薄い膜の解析もできます。

多様なアプリケーション

多様化する測定ニーズに高速、高精度にお応えします。

球面・非球面のレンズ、フィルタ、ミラーなどの光学素子の反射率測定によるコーティング評価、物体色測定、膜厚測定に。 デジタルカメラレンズ プロジェクタレンズ ピックアップレンズ メガネレンズ

LEDリフレクタ、半導体基板などの微小電子部品の反射率測定、膜厚測定に。 LEDパッケージ 半導体基板

平面光学素子、カラーフィルタ、光学フィルムなどの反射率測定、膜厚測定、透過率測定に。 液晶カラーフィルタ 光学フィルム

プリズムやミラーなどの45度入射による反射率測定に。 プリズム ミラー