Pomiar chropowatości powierzchni podłoża płytki drukowanej przy użyciu laserowego mikroskopu konfokalnego Olympus OLS5000

Papier do druku atramentowego

1. Zastosowanie

Podczas wydruku atramentowego kolor jest utrwalany poprzez wnikanie atramentu do papieru. Kropelki atramentu są wchłaniane do porów papieru. W niektórych przypadkach może to jednak prowadzić do rozlania atramentu. Aby zapewnić najwyższą możliwą jakość obrazu, producenci wytwarzają papier, który minimalizuje rozlewanie atramentu. Papier powlekany, który jest szeroko stosowany do druku atramentowego, pochłania atrament zarówno w warstwie powlekającej, jak i w spodniej warstwie papierowej, ułatwiając kontrolę rozmiaru drobnych punktów, zapewniając dobry rozwój kolorów i precyzyjne odwzorowanie cienkich linii. Papier powlekany jest szeroko stosowany do produkcji profesjonalnych ulotek i innych dokumentów o małych wymiarach. Papier błyszczący używany do druku atramentowego charakteryzuje się gładką powierzchnią i nadaje się do takich zastosowań jak wydruki fotograficzne. Stan włókien i profil powierzchni (chropowatość) warstwy powlekającej w tych rodzajach papieru znacząco wpływa na jakość druku. W związku z tym producenci muszą wykonywać pomiary chropowatości powierzchni papieru, aby zagwarantować, że wytwarzają produkt o wysokiej jakości. Konwencjonalne metody pomiaru chropowatości, takie jak stykowy pomiar chropowatości przy użyciu rysika, mogą uszkodzić papier, co utrudnia ocenę chropowatości.

2. Rozwiązanie firmy Olympus

W skaningowym mikroskopie laserowym 3D Olympus LEXT wykorzystywany jest bezstykowy rysik, co umożliwia wykonywanie trójwymiarowych, wysoce precyzyjnych pomiarów profilu powierzchni o wysokiej jakości. Mikroskop LEXT umożliwia użytkownikom obserwację nierówności i pomiar chropowatości powierzchni papieru. Konfokalny układ optyczny mikroskopu umożliwia rejestrowanie wyrazistych obrazów 2D, dzięki czemu użytkownicy mogą z łatwością obserwować splot włókien papierowych lub stan powlekanej powierzchni. Funkcja grubości warstwy dostępna w mikroskopie jest skuteczna przy obserwacji obrazu przekrojowego lub mikroskopijnych nierówności na gładkiej powierzchni.