半导体与平板显示器检测显微镜
Os microscópios para inspeção de painéis de display planos e wafers semicondutores oferecem o mais alto nível de eficiência, garantindo rápida inicialização, fácil operação, análise de falhas e capacidade de expansão para os usuários. Nossa seleção de microscópios para inspeção de semicondutores foi projetada para a transferência segura de wafers, sendo ideal para a inspeção de defeitos nos semicondutores. Além dos sistemas de manuseio automático de wafers, o microscópio digital pode ser empregado para uma análise detalhada de pequenos defeitos dentro dos semicondutores. Explore abaixo nossa linha completa de microscópios para inspeção de semicondutores e de painéis de display planos. |
Microscópio para inspeção de wafers semicondutores
AL120
A série AL120 de manipuladores de wafers é um microscópio para inspeção de semicondutores que permite a fácil transferência de wafers semicondutores compostos e de silício, incluindo carboneto de silício (SiC) e arseneto de gálio (GaAs), da cassete para a platina do microscópio com flexibilidade e recursos aprimorados, tudo isso mantendo um design ergonômico e fácil de usar.
AL120-12
Ideal para inspeção de back-end de custo reduzido, o manipulador de wafers AL120-12 é um microscópio para inspeção de semicondutores compatível com FOUP (front opening unified pod, caixa unificada com abertura frontal) e FOSB (caixa de envio com abertura frontal). O design ergonômico e seguro mantém a segurança do operador enquanto transfere os wafers com eficácia, incluindo wafers finos e empenados.
MX63/MX63L
Os sistemas de microscópio MX63 e MX63L são otimizados para inspeções de alta qualidade de wafers de até 300 mm. Compatíveis com painéis de display planos, placas de circuito e outras amostras grandes, seu design modular permite que você escolha os componentes de que precisa para adaptar o sistema à sua aplicação.
Equipamento para inspeção de semicondutores e painéis de display planos
Câmeras digitais para microscópios
As câmeras digitais para microscópio da Evident permitem que você capture imagens de amostras com alta qualidade. Apresentando alta resolução e excelente fidelidade de cor, nossas câmeras permitem que imagens dinâmicas nítidas sejam exibidas em resolução total, oferecendo uma observação clara e focagem em tempo real.
Objetivas para inspeção de wafers semicondutores
A série de objetivas MXPLFLN da Evident foi projetada para oferecer alta resolução e longa distância de trabalho simultaneamente, sendo ideal para inspeção de wafers semicondutores.
Recursos adicionais para inspeção de wafers semicondutores
Otimize seu microscópio para inspeção de wafers e seu processo de trabalhoSaiba como os fabricantes de wafers semicondutores podem melhorar o controle de qualidade da inspeção de wafers otimizando o seu equipamento e seus processos de trabalho. |  |
Recursos de formação de imagem de infravermelho próximo para inspeção de componentes eletrônicos e semicondutoresDescubra como os microscópios de inspeção da Evident aprimoram a formação de imagem de infravermelho próximo para a inspeção de semicondutores. | |
Inspeção do padrão de circuito em amostras de waferDescubra como os microscópios industriais MX63/MX63L para a inspeção de semicondutores/FPD da Evident oferecem uma alternativa eficiente aos métodos de observação convencionais de amostras de wafer. |
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