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概述
45MG超声测厚仪:
操作简便、坚固耐用、性能可靠
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45MG是一款配备有标准测量功能和软件选项的高级超声测厚仪。这款独具特色的仪器与奥林巴斯的所有双晶和单晶测厚探头相兼容,是一款集多种解决方案于一机的创新型仪器,可用于几乎所有测厚应用。
标准功能
提供基本配置的45MG仪器是一款简单易学的测厚仪,操作人员只需少量的培训,就可以处理大多数常见的测厚应用。不过,添加了可选购软件选项和探头之后的45MG仪器,就会变成一款非常先进的测厚仪,可以进行典型的初级仪器不能完成的应用。此外,大多数选项可以在购买仪器时分别购买,或在日后需要时购买。
- 与所有奥林巴斯双晶探头兼容,可对内部腐蚀金属的厚度进行测量
- 最小值/最大值模式
- 两个报警模式
- 差值模式
- 时基B扫描
- 缩减率
- 增益调整(标准、高、低)
- 通过密码锁定仪器
带有可选橡胶保护套和支架的45MG仪器
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可选功能
只需几次按键,即可完成从简单的腐蚀测厚仪到多功能精确测厚仪的华丽变身。45MG测厚仪提供5个需密码激活的软件选项,从而跻身于工业领域中用途广泛的测厚仪行列。
- 回波到回波/穿透涂层(THRU-COAT):使用回波到回波选项,仪器屏幕上会显示金属的实际厚度,而涂层的厚度会被忽略。穿透涂层选项测量金属厚度与非金属涂层的厚度,两种厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此,在进行厚度测量时,无需去掉材料表面上的漆层或涂层。
- 单晶:这个选项可对很多材料,如:金属、塑料、复合材料、玻璃及陶瓷,进行非常精确的厚度测量。这个选项可与范围在2.25 MHz到30
MHz的单晶Microscan探头相兼容。
- 单晶高穿透:这个选项可对较厚或衰减性较高的材料,如:玻璃纤维或铸造金属,进行厚度测量。可与范围在0.5 MHz到30
MHz的单晶Microscan探头相兼容。这个选项包含单晶选项。
- 数据记录器:45MG测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器,可方便地存储和传输厚度读数和波形数据。这个选项包含基于Windows的GageView接口程序。
- 带有波形调整功能的实时A扫描:用户使用这个可选配实时A扫描模式,可以在测厚仪的显示屏上直接查看超声波形(或称A扫描),核查厚度测量读数,对增益和空白设置进行手动调整,以在具有挑战性的应用中大幅增强测量性能。这个有益的选项包含手动增益调整、扩展空白、首个回波空白、范围及延迟等参数。
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在恶劣环境中正常操作
- 坚固耐用,设计符合IP67标准。
- 爆炸性气氛测试:通过了美军标准MIL-STD-810F方法511.4程序I中规定的测试。
- 撞击测试:通过了美军标准MIL-STD-810G方法516.5程序I中规定的测试,每轴6个循环,15 g,11 msec半弦波。
- 振动测试:通过了美军标准MIL-STD-810G方法514.5程序I附录C图6中的测试,一般暴露:每轴1小时。
- 宽泛的操作温度范围
- 可选购带有支架的橡胶保护套
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室内显示设置,可选A扫描模式 |
仪器设计,便于操作
- 简洁的键区,只用单手(左手或右手)即可操控仪器
- 浏览方便的用户界面,可直接访问大多数功能
- 内置microSD存储卡和可插拔microSD存储卡的存储方式
- USB通信端口
- 可选字母数字式数据记录器,可存储475000个厚度读数或20000个波形
- 默认或自定义单晶探头设置(可选购)
- 通过密码保护方式锁定仪器
- 彩色透反QVGA显示,带有室内和室外颜色设置,具有很高的清晰度
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室外显示设置,可选A扫描模式 |
技术规格
测量 > 双晶探头测量模式
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从激励脉冲后的精确延迟到第一个回波之间的时间间隔
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测量 > 回波到回波(可选)
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在两个连续底面回波之间的时间间隔,不计漆层或涂层的厚度
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测量 > 穿透涂层测量(可选)
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利用单个底面回波,测量金属的实际厚度和涂层厚度(使用D7906-SM、D7906-RM和D7908探头)
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测量 > 单晶探头测量模式(可选)
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模式1:激励脉冲与第一个底面回波之间的时间间隔
模式2:延迟块回波与第一个底面回波之间的时间间隔(使用延迟块或水浸式探头)
模式3:在激励脉冲之后,位于第一个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔(使用延迟块探头或水浸式探头)
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测量 > 厚度范围
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0.080 mm ~ 635 mm,视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定(要测量整个厚度范围需要使用单晶选项)
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测量 > 材料声速范围
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0.508 mm/μs ~ 18.699 mm/μs
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测量 > 分辨率(可选)
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低分辨率:0.1 mm
标准分辨率:0.01 mm
单晶选项:0.001 mm
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测量 > 探头频率范围
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标准:2.25 MHz ~ 30 MHz(-3 dB);高穿透(单晶选项):0.50 MHz ~ 30 MHz(-3 dB)
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一般规格 > 操作温度范围
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-10 °C ~ 50 °C
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一般规格 > 键区
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密封、以色彩区分功能的键区,带有触感及声音反馈
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一般规格 > 机壳
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防撞击、防水、装有密封垫的机壳,机壳上的接口密封。 设计符合IP67标准。
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一般规格 > 外型尺寸(宽 × 高 × 厚)
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总体尺寸:91.1 mm × 162 mm × 41.1 mm
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一般规格 > 重量
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430.9克
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一般规格 > 电源供应
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3节AA电池 / USB电源供应
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一般规格 > 电池供电时间
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3节AA碱性电池:20 ~ 21小时
3节AA镍氢电池:22 ~ 23小时
AA锂电池:35 ~ 36小时
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一般规格 > 标准
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设计符合EN15317标准
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显示 > 彩色透反QVGA显示
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液晶显示,显示屏尺寸:54.61毫米 × 41.15毫米
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显示 > 检波
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全波、射频波、正半波、负半波(波形选项)
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输入/输出 > USB
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2.0客户端
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输入/输出 > 存储卡
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最大容量:2 GB可插拔microSD存储卡
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内置数据记录器(可选) > 数据记录器
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45MG通过USB或microSD卡识别、存储、调用、清除及传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。
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内置数据记录器(可选) > 容量
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475000个厚度测量读数,或20000个带厚度值的波形
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内置数据记录器(可选) > 文件名、ID编码和注释
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不超过32个字符的文件名,不超过20个字符的字母数字位码,每个位有4个注释。
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内置数据记录器(可选) > 文件结构
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6个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构
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内置数据记录器(可选) > 报告
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机载报告,总结了数据统计和最小值/最大值
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标准套装
- 45MG数字式超声测厚仪
- AA碱性电池
- 2阶梯试块和耦合剂
- USB数据线
- 《用户手册》,存于CD盘上
- 测量功能:最小值/最大值模式、两个报警模式、差值模式、B扫描、缩减率、可编程的锁定功能
软件选项
- 45MG-SE (U8147022):单晶选项,使用频率范围为2.25 MHz ~ 30 MHz的单晶探头。
- 45MG-HP (U8147023):单晶高穿透选项,使用频率范围为0.5 MHz ~ 30 MHz的单晶探头。
- 45MG-EETC (U8147021):回波到回波和穿透涂层。
- 45MG-WF (U8147019):波形选项。
- 45MG-DL (U8147020):内置数据记录器,包含GageView接口程序。
选购配件
- MICROSSD-ADP-2GB(U8779307):2 GB外置microSD存储卡
- 45MG-RPC (U8779676):带支架的橡胶保护套
软件选项
45MG测厚仪提供5个需密码激活的软件选项,从而跻身于工业领域中用途广泛的测厚仪行列。
回波到回波 测厚仪通过使用多重底面回波,显示不计涂层厚度的实际金属厚度: - 自动回波到回波
- 手动回波到回波(仅用于A扫描选项),可进行以下操作:
| 穿透涂层技术
使用单个底面回波测量金属的实际厚度。这个技术可以分别显示金属和涂层的厚度,两种厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此,要测量金属材料的厚度,无需去掉其表面的漆层和涂层。穿透涂层测量技术使用D7906-SM、D7906-RM和D7908双晶探头。
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A扫描中显示的自动回波到回波模式 | 显示涂层厚度和钢材厚度的穿透涂层模式(波形选项未被激活)
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可调整第一个回波空白的手动回波到回波模式 | 显示可选波形的穿透涂层模式 |
用户使用单晶软件选项,可以完成分辨率高达0.001毫米的精确厚度测量。可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。可测量以下材料和产品:
- 大多数薄材料和厚材料
- 壁厚薄如0.08毫米的塑料瓶、管、管道及薄片材料
- 壁厚薄如0.10毫米的金属容器、钢卷材、机加工部件
- 汽缸孔、涡轮叶片
- 玻璃灯泡、瓶子
- 薄壁玻璃纤维、橡胶、陶瓷及复合材料
- 曲面部分或内圆角半径较小的容器
用户使用这个选项可在使用低频单晶探头(低到0.5 MHz)的情况下,测量橡胶、玻璃纤维、铸件及复合材料等较厚或声波衰减性较强的材料。这个选项包含单晶选项。
- 大多数较厚或声波衰减性较强的材料
- 厚金属铸件
- 厚橡胶轮胎、履带
- 玻璃纤维船体、储罐
- 复合材料板
- 对于频率范围为0.5 MH到1.0 MHz的探头,分辨率为0.01毫米
45MG测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器,可方便地存储和传输厚度读数和波形数据。数据记录器选项包含GageView接口程序。 数据记录器选项 - 内置存储容量为475000个厚度读数,或20000个带有厚度读数的波形
- 不超过32个字符的文件名
- 不超过20个字符的识别码(ID#)(TML#)
- 6个文件格式:递增型、序列型、带自定义点的序列型、两维栅格、锅炉型及通过GageView在PC机上手动创建的文件格式
- 内置microSD存储卡和可插拔microSD存储卡
- 可以在内置microSD存储卡和可插拔microSD存储卡之间拷贝文件
- 标准USB通信性能
- 单晶探头设置的双向传输
- 机载统计报告
- 机载DB栅格视图,使用3种可编辑的颜色
- GageView接口程序可与45MG测厚仪通信,方法是:
- 通过USB端口
- 读取microSD存储卡中的数据,或在存储卡中写入信息
- 可将内部文件以与Excel兼容的CSV(逗号分隔值)格式或.txt格式,直接导出到microSD存储卡中
在PC机上可以看到:通过为栅格中的数据使用不同的颜色,可以清晰地表明超出容差的厚度情况。
可以方便地生成并打印包含测量值、ID识别码及其它参数的测量报告。
| 机载DB栅格视图,使用3种可编辑的颜色
GageView接口程序 - GageView接口程序包含在数据记录器选项中
- 这个基于Windows的应用程序可以收集、创建、打印及管理来自45MG测厚仪的数据
- 创建数据集和测量总结
- 编辑所存数据
- 显示数据集和测量总结文件;文件包含厚度读数、测厚仪设置值及探头设置值
- 从测厚仪上下载厚度测量总结,或将厚度测量总结上传至测厚仪
- 将测量总结导出到电子表格程序及其它程序中
- 收集快照截屏
- 打印有关厚度、设置表格、统计及彩色栅格的报告
- 升级45MG软件
- 下载和上传单晶探头设置文件
在PC机上可以看到:通过为栅格中的数据使用不同的颜色,可以清晰地表明超出容差的厚度情况。
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用户使用这个可选配实时A扫描模式,可以在测厚仪的显示屏上直接查看超声波形(或称A扫描),核查厚度测量读数,对增益和空白设置进行手动调整,以在具有挑战性的应用中大幅增强测量性能。这个有益的选项包含手动增益调整、扩展空白、首个回波空白、范围及延迟等参数。
探头
奥林巴斯可为用户提供种类齐全的探头、线缆、耦合剂、校准试块以及配件,以满足各种精确超声测厚应用的要求。
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