打破瓶颈：在数秒之内完成相控阵数据的分析

检测人员知道：相控阵技术不仅可以提供强大的成像功能，探测到缺欠和缺陷，而且还可以生成大量的数据。随着相控阵技术的不断发展，数据文件中所包含的信息也是有增无减。在检测之后即将完成客户的合同之时，分析相控阵数据的工作往往成为最艰巨的挑战之一。在不了解可能延迟的时间，不清楚将在被检部件中探测到什么缺陷的情况下，承诺在有限的时间内完成合同任务，对于检测公司来说，无异于每天处于紧张的豪赌状态中。幸运的是，我们的OmniScan系列探伤仪如今与VeriPhase公司开发的自动探测技术（ADT）软件配套使用，可以帮助用户确定分析目标，从而可使用户更迅速、更高效地完成分析工作。

自动探测技术软件与OmniScan探伤仪配套使用

自动探测技术软件如何工作？

自动探测技术（ADT）软件在获取了OmniScan的数据文件时，会对这些文件进行处理。软件会通过使用一个自动填充的缺陷报表为用户的数据文件创建一个新的副本，而且还会创建一个自动填充的xlsx报告文件。用户的原始数据文件始终不会受到改动。

对于探测到的每个缺陷指示，自动探测技术（ADT）软件都会提供一个置信度等级。由软件探测到的每个可能的缺陷指示都会被添加标记，因此有助于用户集中精力将宝贵的时间花费在可能会存在缺陷的区域。

除了通过提供预先填充的缺陷报表可以帮助用户节省时间之外，ADT软件还可以评估数据的质量，发现耦合剂缺失或数据丢失等问题，并有助于确保所获得的数据符合规范的要求。如果用户在设置检测的过程中出现失误，软件则会帮助用户发现错误，从而有助于减少潜在的人为错误。

由ADT软件自动填充的OmniPC缺陷报表

软件会提供什么信息？

ADT软件使用原始数据文件。这就意味着，闸门放在哪里并不重要，软件会查看探伤仪采集的所有数据，并将这些数据填充到缺陷报表中。软件会将光标自动放置在其探测到的每个缺陷指示上，并在缺陷报表中自动填充必要的信息，其中包括每个缺陷指示的高度、长度、体积位置、深度、波幅、扫查位置，及置信度等级。当用户在缺陷报告中从上向下查看所有的缺欠和缺陷指示时，光标会从一个位置移动到另一个位置，以显示当前选中缺陷指示的最相关的组，从而可大大加快缺陷分析和缺陷表征的过程。