Inspección de unidades de control de potencia

La unidad de control de potencia (PCU) es un dispositivo que controla la energía eléctrica usada durante la conducción de un vehículo eléctrico. Dentro de estas PCU, se emplean múltiples semiconductores de potencia. Y, en las obleas electrónicas de los semiconductores, pueden generarse daños debido al uso de equipamiento de fabricación degradado, ajustes inadecuados, errores humanos o contaminación.

Solución Olympus

El microscopio digital DSX1000 es una solución versátil para la inspección de obleas electrónicas. A partir de una variedad de métodos de observación, que se hallan en un solo sistema, es posible hacer la elección justa para detectar defectos a través una baja magnificación y, después, identificar los tipos de dichos defectos usando una alta magnificación.

Microscopio digital de la serie DSX Ver detalles del producto

Defectos de patrón, irregularidades de película y medición de ancho de línea en semiconductores

Las dimensiones del patrón para los semiconductores deben ser medidas correctamente a fin de asegurar un rendimiento adecuado. El microscopio de escaneo láser OLS5100 le permite medir las dimensiones de los patrones con facilidad y precisión.

Microscopio de escaneo láser de la serie OLS Ver detalles del producto

Medición del ancho y paso del patrón de cableado para semiconductores