Inspection de l’unité de contrôle d’alimentation

L’unité de contrôle d’alimentation (PCU, en anglais) est un dispositif qui commande l’alimentation électrique utilisée pour faire avancer un véhicule électrique. Plusieurs semi-conducteurs d’alimentation sont utilisés à l’intérieur de la PCU. Des défauts sur les wafers peuvent se produire en raison d’une dégradation des équipements de fabrication, d’un réglage inadapté, d’une erreur humaine ou d’une contamination.

Notre solution

Le microscope numérique DSX1000 est une solution polyvalente permettant l’inspection des wafers. Avec un seul et même système, vous pouvez choisir parmi diverses méthodes d’observation pour détecter les défauts à faible grossissement, puis identifier les types de défauts à fort grossissement.

Microscope numérique de la gamme DSX Voir les détails du produit

Défauts de motif des semi-conducteurs, irrégularités du film et mesure de la largeur des lignes

Les dimensions du motif des semi-conducteurs doivent être mesurées correctement pour garantir de bonnes performances. Le microscope à balayage laser OLS5100 vous permet de mesurer facilement et précisément les dimensions du motif.

Microscope à balayage laser de la gamme OLS Voir les détails du produit

Mesure de la largeur et du pas du motif de câblage des semi-conducteurs