Evident Logo原
Olympus Logo

联系我们   联系我们  

工业解决方案
Careers
Careers

显微镜解决方案
配置

Vysoce spolehlivý modulární systém

Šest konfigurací navržených pro model BX53M vám poskytuje flexibilitu při výběru potřebných funkcí.

Obecné použití

Speciální použití

Základní

Snadné nastavení se základními funkcemi

Standardní

Jednoduché použití
s univerzálními upgrady

Pokročilá

Podpora řady pokročilých funkcí

Fluorescence

Ideální pro
fluorescenční pozorování

Infračervené

Navrženo pro infračervené pozorování při kontrole integrovaných obvodů

Polarizace

Navrženo pro pozorování dvojlomových charakteristik

LCD barevný filtr

LCD barevný filtr
(přenos/SP)

(Mikrostruktura s feritovými zrny)

Mikrostruktura s feritovými
zrny
(odraz/TP)

Měděný drát cívky

Měděný drát cívky
(SP + TP/MIX)

Odolnost u IC vzoru

Odolnost u IC vzoru
(FL + TP/MIX)

IC vzor – vrstvení silikonu

IC vzor – vrstvení silikonu
(IR)

Azbest

Azbest
(POL)

Základní

Standardní

Pokročilá

Fluorescence

Infračervená

Polarizační

Viz tabulka specifikací

 Základní Standardní Pokročilá Fluorescence Infračervená Polarizační
Rám mikroskopu Odražené nebo odražené/procházející Odražené nebo odražené/procházející Odražené světlo Procházející světlo
Standardní R-BF nebo T-BF R-BF nebo T-BF nebo DF R-BF nebo T-BF nebo DF nebo MIX R-BF nebo T-BF nebo DF nebo FL R-BF nebo IR T-BF nebo POL
Volitelné příslušenství DIC DIC/MIX DIC DIC/MIX － －
Jednoduchý iluminátor － ■■ － － －
Popis clony － ■■■ － ■
Kódovaný hardware － ■■■ － ■
Index měřítka zaostření ■■■■■■
Správce intenzity světla ■■■ － － ■
Ovládání ručním spínačem □□■□ － －
Pozorování pomocí technologie MIX □□■□ － －
Objektivy Vyberte si ze 3 objektivů na základě zamýšleného použití Vyberte si ze 3 objektivů na základě zamýšleného použití Objektivy pro IR Objektivy pro POL
Stolek Vyberte si z 5 stolků podle velikosti vzorků Vyberte si z 5 stolků podle velikosti vzorků Stolek pro POL

METODA POZOROVÁNÍ

R-BF:  světlé pole (odražené světlo)
T-BF:  světlé pole (odražené/procházející světlo)
DF:  tmavé pole
DIC:  diferenciální kontrast rušení / jednoduchá polarizace
MIX:  MIX
FL:  fluorescence
IR:  infračervené pásmo
POL:  polarizace

*T-BF lze použít při výběru rámu mikroskopu pro „odražené/procházející“ světlo.

39■40: Standard
41□42: Volitelné příslušenství

Příklad konfigurací pro vědeckou analýzu materiálů

Modulární design umožňuje využít různé konfigurace dle potřeb uživatelů.
Níže naleznete několik příkladů konfigurace pro vědeckou analýzu materiálů.

Kombinace odraženého a odraženého/procházejícího světla BX53M

V sérii BX3M jsou k dispozici dva typy rámů mikroskopu. Jeden pouze pro odražené světlo a jeden pro odražené i procházející světlo. Oba rámy lze konfigurovat pomocí ručních, kódovaných nebo motorizovaných součástí. Rámy disponují schopností ESD pro ochranu elektronických vzorků.

Příklad konfigurace BX53MRF-S

Příklad konfigurace BX53MRF-S

Příklad konfigurace BX53MTRF-S

Příklad konfigurace BX53MTRF-S

Kombinace BX53M IR

Kombinace BX53M IR

IR objektivy lze použít pro kontrolu, měření a zpracovatelské aplikace polovodičů, kde je pro zobrazení vzoru nutné pozorování skrz křemík.pro polovodičové kontroly, měření a zpracování, kde zobrazení vzoru vyžaduje metodu zobrazení pomocí silikonu. K dispozici máte infračervené (IR) objektivy 5× až 100× s korekcí chromatické aberace od viditelné vlnové délky až po téměř infračervené spektrum. Při práci s velkým zvětšením lze otáčením korekčního prstence u řady čoček LCPLNIR docílit korekce aberace způsobené tloušťkou vzorku. Jasný obraz získáte s jediným objektivem.

Kliknutím zde získáte další informace o IR objektivu

Kombinace polarizovaného světla BX53M

Optika polarizovaného světla BX53M poskytuje geologům správné nástroje pro vysoce kontrastní zobrazování v polarizovaném světle. V oborech, jako je identifikace minerálů, zkoumání optických vlastností krystalů a pozorování sekcí pevných hornin, lze těžit ze stability systému a přesného optického zarovnání.

Ortoskopická konfigurace BX53-P

Ortoskopická konfigurace BX53-P

Konoskopická/ortoskopická konfigurace BX53-P

Konoskopická/ortoskopická konfigurace BX53-P

Bertrandova čočka pro konoskopické a ortoskopické pozorování

Díky nástavci U-CPA pro konoskopické pozorování je přepínání mezi ortoskopickým a konoskopickým pozorováním jednoduché a rychlé. Lze zaostřit pro snadnou viditelnost vzorců rušení na zadní ohniskové rovině. Blok pole Bertrand umožňuje dosáhnout vždy ostrých a jasných konoskopických obrazů.

Bertrandova čočka pro konoskopické a ortoskopické pozorování
Rozsáhlá řada kompenzátorů a vlnových desek

Rozsáhlá řada kompenzátorů a vlnových desek

K dispozici je pět různých kompenzátorů pro měření dvojlomu v tenkých sekcích hornin a minerálů. Úroveň zpoždění měření se pohybuje v rozmezí 0 až 20 λ. Pro snadnější měření a dosažení vysokého kontrastu obrazu lze použít kompenzátory Berek a Senarmont, které mění úroveň zpoždění v celém zorném poli.

Rozsah měření u kompenzátorů

Kompenzátor Rozsah měření Hlavní využití
Silný kompenzátor Berek (U-CTB) 0 až 11 000 nm
(20 λ) 		Měření s vysokou úrovní zpoždění (R*> 3 λ)
(krystaly, makromolekuly, vlákna atd.)
Berek (U-CBE) 0 až 1 640 nm
(3 λ) 		Měření úrovně zpoždění
(krystaly, makromolekuly, živé organismy atd.)
Kompenzátor Senarmont (U-CSE) 0 až 546 nm
(1 λ) 		Měření úrovně zpoždění (krystaly, živé organismy atd.)
Zvýšení kontrastu obrazu (živé organismy atd.)
Brace-Koehlerův kompenzátor
1/30 λ (U-CBE2) 		0 až 20 nm
(1/30 λ) 		Měření kontrastu obrazu (živé organismy atd.)
Křemenný klín (U-CWE2) 500 až 2 200 nm
(4 λ) 		Přibližné měření úrovně zpoždění
(krystaly, makromolekuly atd.)

*R = úroveň zpoždění
Pro přesnější měření se doporučuje použít kompenzátory (mimo modelu U-CWE2) spolu s filtrem rušení 45-IF546.

Optika bez napětí

Díky naší sofistikované konstrukční a výrobní technologii bylo možné u objektivů UPLFLN-P omezit vnitřní namáhání na minimum. To znamená vyšší hodnotu EF, což zajistí vynikající kontrast obrazu.

Kliknutím zde získáte další informace o objektivu UPLFLN-P
Kliknutím zde získáte další informace o objektivu PLN-P/ACHN-P
Systém BXFM

Systém BXFM

Systém BXFM lze přizpůsobit speciálním požadavkům nebo integrovat do jiných nástrojů. Modulární konstrukce umožňuje jednoduché přizpůsobení jedinečným prostředím a konfiguracím s řadou speciálních malých osvětlovačů a upevňovacích držáků.

Modulární design, vytvořte si systém podle svých představ

Rámy mikroskopu

K dispozici jsou dva rámy mikroskopů pro odražené světlo, z nichž jeden nabízí i možnost pro procházející světlo. K dispozici je adaptér pro zvednutí osvětlovače, v případě větších vzorků.

Odražené světlo Procházející světlo Výška vzorku
1 BX53MRF-S ■ － 0 až 65 mm
2 BX53MTRF-S ■ ■ 0 až 35 mm
1, 3 BX53MRF-S + BX3M-ARMAD ■ － 40 až 105 mm
2, 3 BX53MTRF-S + BX3M-ARMAD ■ ■ 40 až 75 mm

Pohodlně dostupné příslušenství pro práci s mikroskopem

－ HP-2 Ruční lis
－ COVER-018 Protiprachový kryt

Rámy mikroskopu

Stojánky

Pro mikroskopická pozorování, při kterých se vzorek nevejde na stolek, lze osvětlovač a optiku namontovat na větší stativ nebo na jiné zařízení

Konfigurace BXFM + osvětlovač BX53M

1 BXFM-F Rozhraní rámu je připevněno na 32mm sloupek
2 BX3M-ILH Držák osvětlovače
3 BXFM-ILHSPU Přední pružina pro BXFM
5 SZ-STL Velký stativ

Konfigurace BXFM + osvětlovač U-KMAS

1 BXFM-F Rozhraní rámu je připevněno na 32mm sloupek
4 BXFM-ILHS Držák U-KMAS
5 SZ-STL Velký stativ

Stojánky

Tubusy

Pro mikroskopické zobrazování okuláry nebo pro pozorování kamerou vyberte tubusy podle typu zobrazení a také polohy operátora, během pozorování.

FN Typ Typ úhlu Obraz Počet dioptrií –
nastavovací mechanismy
1 U-TR30-2 22 Trinokulární Pevný Obrácený 1
2 U-TR30IR 22 Trinokulární pro IR Pevný Obrácený 1
3 U-ETR-4 22 Trinokulární Pevný Vzpřímený －
4 U-TTR-2 22 Trinokulární Naklápěcí Obrácený －
5 U-SWTR-3 26,5 Trinokulární Pevný Obrácený －
6 U-SWETTR-5 26,5 Trinokulární Naklápěcí Vzpřímený －
7 U-TLU 22 Jeden port － － －
8 U-SWATLU 26,5 Jeden port － － －
Tubusy

Osvětlovače

Osvětlovač promítá světlo na vzorek na základě zvolené metody pozorování. Softwarová rozhraní s kódovanými osvětlovači umožňují načtení polohy kostky a automatické rozpoznávání metody pozorování.

Osvětlovače

 Kódovaná funkce Zdroj světla Světlé pole (BF) TP DIC POL IR FL MIX AS/FS
1 BX3M-RLAS-S Poloha pevné kostky (3) LED – vestavěné ■ ■ ■ ■ － － ■ ■
2 BX3M-URAS-S Poloha připojitelné kostky (4) LED ■ ■ ■ ■ － － ■ ■
Halogen ■ ■ ■ ■ ■ － ■ ■
Rtuť/světlovod ■ ■ ■ ■ － ■ ■ ■
3 BX3M-RLA-S

LED ■ ■ ■ ■ － － ■ ■
Halogen ■ ■ ■ ■ ■ － ■ ■
4 BX3M-KMA-S

LED – vestavěné ■ － ■ ■ － － ■ －
5 BX3-ARM Mechanické rameno pro procházející světlo
6 U-KMAS

LED ■ － ■ ■ － － ■ －
Halogen ■ － ■ ■ ■ － ■ －

Světelné zdroje

Světelné zdroje a napájecí zdroje pro osvětlení vzorku, vyberte vhodný světelný zdroj pro metodu pozorování.

Světelné zdroje

Standardní konfigurace světelného LED zdroje

1 BX3M-LEDR LED lampová skříň pro odražené světlo
2 U-RCV Převodník pro tmavé pole pro model BX3M-URAS-S, potřebný pro pozorování ve světlém/tmavém poli
3 BX3M-PSLED Zdroj napájení pro LED lampovou skříň, vyžaduje systém BXFM
4 BX3M-LEDT LED lampová skříň pro procházející světlo

Konfigurace fluorescenčního zdroje osvětlení

5 U-LLGAD Světlovodný adaptér
2 U-RCV Převodník pro tmavé pole pro model BX3M-URAS-S, potřebný pro pozorování v tmavém poli
6 U-LLG150 Světlovod, délka: 1,5 m
7 U-LGPS Světelný zdroj pro fluorescenci
8, 9 U-LH100HG (HGAPO) Skříň rtuťové výbojky pro fluorescenci
2 U-RCV Převodník pro tmavé pole pro model BX3M-URAS-S, potřebný pro pozorování v tmavém poli
10 U-RFL-T Zdroj napájení pro 100W rtuťovou lampu

Konfigurace zdroje světla s halogenovou žárovkou a halogenovou IČ žárovkou

11 U-LH100IR Skříň halogenové žárovky pro IČ
12 U-RMT Prodlužovací kabel pro skříň halogenové žárovky s délkou kabelu 1,7 m (dle potřeby použití prodlužovacího kabelu)
13, 14 TH4-100 (200) 100V (200V) zvláštní zdroj napájení pro 100W/50W halogenové lampy
15 TH4-HS Ruční spínač intenzity halogenové lampy (stmívání TH4-100 (200) bez ručního přepínače)

Hlavice

Nástavec pro objektivy a posuvníky. Vyberte podle počtu a typů objektivů; možno s posuvným nástavcem nebo bez něj.

Hlavice

 Typ Otvory Světlé pole (BF) TP DIC MIX ESD Počet
otvorů pro vycentrování
1 U-P4RE Ruční 4 ■

■

4
2 U-5RE-2 Ruční 5 ■

3 U-5RES-ESD Kódováno 5 ■

■

4 U-D6RE Ruční 6 ■

■

5 U-D6RES Kódováno 6 ■

■

6 U-D5BDREMC Motorizovaný pohon 5 ■ ■ ■ ■

7 U-D6BDRE Ruční 6 ■ ■ ■ ■

8 U-D5BDRES-ESD Kódováno 5 ■ ■ ■ ■ ■

9 U-D6BDRES-S Kódováno 6 ■ ■ ■ ■ ■

10 U-D6REMC Motorizovaný pohon 6 ■

■

11 U-D6BDREMC Motorizovaný pohon 6 ■ ■ ■ ■ ■

12 U-D5BDREMC-VA Motorizovaný pohon 5 ■ ■

Posuvníky

Vyberte šoupátko pro doplnění tradičního pozorování ve světlém poli. Posuvník DIC poskytuje topografické informace o vzorku s možností zvýšení kontrastu nebo rozlišení. Posuvník MIX přináší flexibilitu v oblasti osvětlení díky segmentovanému zdroji světla s diodou LED na dráze tmavého pole.

Posuvníky

Posuvník DIC

Typ Objem oříznutí Dostupné objektivy
1 U-DICR Standard Střední

MPLFLN*1, MPLFLN-BD*2, LMPLFLN, LMPLFLN-BD, MXPLFLN, MXPLFLN-BD, MPLAPON a LCPLFLN-LCD

*1 Modely 1,25× a 2,5× nepodporují pozorování DIC.
*2 Model 2,5× nepodporuje pozorování DIC.

Posuvník MIX

Dostupné objektivy
2 U-MIXR-2 MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD, MPLN-BD, MXPLFLN-BD

Kabel

U-MIXRCBL* Kabel U-MIXR, délka kabelu: 0,5 m

*Pouze MIXR

Řídicí jednotka a ruční spínače

Řídicí jednotky k propojení hardwaru mikroskopu s počítačem a ruční spínače pro indikaci a ovládání hardwaru.

Konfigurace BX3M-CB (CBFM)

1 BX3M-CB Řídicí jednotka pro systém BX53M
2 BX3M-CBFM Řídicí jednotka pro systém BXFM
3 BX3M-HS Ovládání pozorování technikou MIX, indikátor kódovaného hardwaru, programovatelná funkční tlačítka softwaru (Stream)
4 BX3M-HSRE Rotace motorizované hlavice

Kabel

－ BX3M-RMCBL (ECBL) Motorizovaná hlavice objektivů, délka kabelu: 0,2 m

Řídicí jednotka a ruční spínače

Stolky

Stolky a desky stolku pro umístění vzorku. Vybírejte na základě tvaru a velikosti vzorku.

Stolky

Konfigurace stolku 150 mm × 100 mm

1 U-SIC64 Plochý stolek 150 mm × 100 mm
2 U-SHG (T) Rukojeť ze silikonové pryže pro snadnější manipulaci (silný typ)
3 U-SP64 Deska stolku pro U-SIC64
4 U-WHP64 Deska pro wafer U-SIC64
5 BH2-WHR43 Držák waferu pro 4–3 palce
6 BH2-WHR65 Držák waferu pro 6–5 palce
7 U-SPG64 Skleněná deska pro U-SIC64

Konfigurace stolku 76 mm × 52 mm

12 U-SVR M Stolek s rukojetí vpravo, 76 mm × 52 mm
2 U-SHG (T) Rukojeť ze silikonové pryže pro snadnější manipulaci (silný typ)
13 U-MSSP Deska stolku pro U-SVR (/L) M
14, 15 U-HR (L) D-4 Tenký držák vzorku pro pravý (levý) otvor
16, 17 U-HR (L) DT-4 Silný držák vzorku pro pravý (levý) otvor – pro přitlačení skla na plochu stolku, které brání zvednutí vzorku

Konfigurace stolku 100 mm × 100 mm

8 U-SIC4R 2 Stolek s rukojetí vpravo, 105 mm × 100 mm
9 U-MSSP4 Deska stolku pro U-SIC4R (L) 2
10 U-WHP2 Deska pro wafer U-SIC4R (L) 2
5 BH2-WHR43 Držák waferu pro 4–3 palce
11 U-MSSPG Skleněná deska pro U-SIC4R

Další

18 U-SRG2 Otočný stolek
19 U-SRP Otočný stolek pro POL, otočení po 45 stupních z libovolné polohy
20 U-FMP Mechanický stolek pro U-SRP/U-SRG2

Adaptéry pro kamery

Adaptér pro pozorování s kamerou. Volitelně z požadovaného zorného pole a zvětšení. Skutečný rozsah pozorování lze vypočítat podle následujícího vzorce: skutečné zorné pole (úhlopříčka v mm) = zorné pole (pozorovací číslo) ÷ zvětšení objektivu.

Adaptéry pro kamery

 Zvětšení Středicí úprava Oblast obrazu CCD (číslo pole) mm
2/3 palce 1/1,8 palce 1/2 palce
1 U-TV1x-2 s U-CMAD3 1 － 10,7 8,8 8
2 U-TV1xC 1 ø 2 mm 10,7 8,8 8
3 U-TV0.63xC 0,63 － 17 14 12,7
4 U-TV0.5xC-3 0,5 － 21,4 17,6 16
5 U-TV0.35xC-2 0,35 － － － 22

Okuláry

Okulár pro pozorování přímo v mikroskopu. Vybírejte s ohledem na požadované zorné pole.

FN (mm) Mechanismus pro úpravu dioptrií Integrovaný nitkový kříž
1 WHN10x 22

2 WHN10x-H 22 ■

3 CROSS WHN10x 22 ■ ■
4 SWH10x-H 26,5 ■

5 CROSS SWH10x 26,5 ■ ■
Okuláry

Optické filtry

Optické filtry převádějí expoziční světlo na různé typy osvětlení. Zvolte vhodný filtr podle požadavků pro pozorování.

Optické filtry

SP, TP, FL

1, 2 U-25ND25,6 Šedý filtr (neutrální), propustnost 25 %, 6 %
3 U-25LBD Filtr barev denního světla
4 U-25LBA Filtr barev halogenu
5 U-25IF550 Zelený filtr
6 U-25L42 Filtr s oříznutím UV oblasti
7 U-25Y48 Žlutý filtr
8 U-25FR Difúzní matný filtr (požadováno pro model BX3M-URAS-S)

POL, DIC

9 U-AN-2 Neměnný směr polarizace
10 U-AN360-3 Směrem polarizace lze natáčet
11 U-AN360P-2 Směr polarizace vysoké kvality lze natáčet
12 U-PO3 Neměnný směr polarizace
13 45-IF546 Zelený filtr pro POL (ø 45 mm)

IR

14 U-AN360IR Směrem polarizace IR lze natáčet (snižuje halaci při IR pozorování v kombinaci s modelem U-AN360IR a U-POIR)
15 U-POIR Pevný IR polarizátor
16 U-BP1100IR Filtr typu pásmová propust: 1100 nm
17 U-BP1200IR Filtr typu pásmová propust: 1200 nm

Procházející světlo

18 43IF550-W45 Zelený filtr (ø 45 mm)
19 U-POT Polarizační filtr

Další

20 U-25 Prázdný filtr, k použití s uživatelskými filtry (ø 25 mm)

*AN a PO nejsou při použití BX3M-RLAS-S a U-FDICR zapotřebí

Kondenzátory

Kondenzátory shromažďují a zaostřují procházející světlo. Pro pozorování v procházejícím světle.

1 U-AC2 Abbeho kondenzor (vhodný pro objektivy se zvětšením 5× a větším)
2 U-SC3 Výklopný kondenzor (vhodný pro objektivy se zvětšením 1,25× a větším)
3 U-LWCD Kondenzátor s dlouhou pracovní vzdáleností pro skleněnou desku
(U-MSSPG, U-SPG64)
4 U-POC-2 Výklopný kondenzátor pro POL
Kondenzátory

Zrcadlové jednotky

Zrcadlová jednotka pro BX3M-URAS-S. Vyberte jednotku s ohledem na požadované pozorování.

1 U-FBF Pro světlé pole, oddělitelný ND filtr
2 U-FDF Pro tmavé pole
3 U-FDICR Pro POL, zkřížená poloha nikolu je fixní
4 U-FBFL Pro světlé pole, vestavěný ND filtr (je nutné použít jak světlé pole*, tak fluorescenci) 
5 U-FWUS Pro FL v ultrafialovém pásmu: BP330-385 BA420 DM400
6 U-FWBS Pro FL v modrém pásmu: BP460-490 BA520IF DM500
7 U-FWGS Pro FL v zeleném pásmu: BP510-550 BA590 DM570
8 U-FF Prázdná zrcadlová jednotka

*Pouze pro koaxiální episkopické osvětlení

Zrcadlové jednotky

Prokladové trubice

Různé typy příslušenství pro různé účely. Pro použití mezi tubusem a osvětlovačem.

1 U-CA Měnič zvětšení (1×, 1,25×, 1,6×, 2×)
2 U-TRU Trikonulární mezitubusová jednotka
Prokladové trubice

Objektivy UIS2

Objektivy slouží ke zvětšení vzorku. Zvolte objektiv, který vyhovuje pracovní vzdálenosti, rozlišovací schopnosti a použité metodě pozorování.

Kliknutím zde získáte další informace o objektivech UIS2

Sorry, this page is not available in your country

Let us know what you're looking for by filling out the form below.

打印
Cancel
Sorry, this page is not available in your country