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显微镜解决方案
配置

Äußerst zuverlässiges modulares System

Die sechs für BX53M empfohlenen Konfigurationen erlauben eine flexible Auswahl der gewünschten Funktionen.

Allgemeine Anwendungen

Spezielle Anwendungen

Basismodell

Einfache Konfiguration mit Grundfunktionen

Standard-Modell

Einfache Verwendung mit
vielseitigen Upgrades

Erweitertes Modell

Unterstützung zahlreicher Zusatzfunktionen

Fluoreszenz-Modell

Ideal geeignet für
Fluoreszenzmikroskopie

Infrarot-Modell

Für die Infrarot-Mikroskopie bei der Prüfung von integrierten Schaltkreisen

Polarisationsmodell

Für die Beobachtung der Doppelbrechungseigenschaften

LCD-Farbfilter

LCD-Farbfilter
(Durchlicht/Hellfeld)

Mikrogefüge mit ferritischen Körnern

Mikrogefüge mit ferritischen
Körnern
(Auflicht/Dunkelfeld)

Kupferdraht einer Spule

Kupferdraht einer Spule
(Hellfeld + Dunkelfeld/MIX)

Fotolackrückstand auf integriertem Schaltkreis

Fotolackrückstand auf integriertem Schaltkreis
(FL + Dunkelfeld/MIX)

Siliziumlayer eines integrierten Schaltkreises

Siliziumlayer eines integrierten Schaltkreises
(IR)

Asbest

Asbest
(POL)

Einstiegsmodell

Standard-Modell

Erweitertes Modell

Fluoreszenz-Modell

Infrarot-Modell

Polarisationsmodell

Spezifikationstabelle anzeigen

 Basismodell Standard-Modell Erweitertes Modell Fluoreszenz-Modell Infrarot-Modell Polarisationsmodell
Mikroskopstativ Auflicht oder Auflicht/Durchlicht Auflicht oder Auflicht/Durchlicht Auflicht Durchlicht
Standard R-HF oder T-HF R-HF oder T-HF oder DF R-HF oder T-HF oder DF oder MIX R-HF oder T-HF oder DF oder FL R-HF oder IR T-HF oder POL
Option DIC DIC/MIX DIC DIC/MIX － －
Einfache Lichtquelle － ■■ － － －
Legende zur Apertur － ■■■ － ■
Codierte Hardware － ■■■ － ■
Fokus-Skalenindex ■■■■■■
Light Intensity Manager ■■■ － － ■
Bedienung über Handschalter □□■□ － －
MIX-Mikroskopie □□■□ － －
Objektive 3 Objektive zur Auswahl, je nach Anwendung, 3 Objektive zur Auswahl, je nach Anwendung, Objektive für IR Objektive für POL
Tisch 5 Tische zur Auswahl, je nach Größe der Proben 5 Tische zur Auswahl, je nach Größe der Proben Tisch für POL

MIKROSKOPIEVERFAHREN

R-HF: Hellfeld (Auflicht)
T-HF: Hellfeld (Auflicht/Durchlicht)
DF: Dunkelfeld
DIC: Differenzieller Interferenzkontrast/einfache Polarisation
MIX: MIX
FL: Fluoreszenz
IR: Infrarot
POL: Polarisation

*T-HF kann für ein Mikroskopstativ für Auflicht/Durchlicht verwendet werden.

■: Standard
□: Option

Beispielkonfigurationen für die Materialwissenschaft

Das modulare Design ermöglicht verschiedene Konfigurationen, je nach den Anforderungen der Bediener.
Nachfolgend sind einige Konfigurationsbeispiele für die Materialwissenschaft beschrieben.

BX53M: Auflicht- und Auflicht-/Durchlichtkombination

Die BX3M Serie bietet zwei verschiedene Mikroskopstative, eines nur für Auflichtmikroskopie und eines für Auflicht- und Durchlichtmikroskopie. Beide Stativtypen können mit manuellen, codierten oder motorgesteuerten Komponenten konfiguriert werden. Zum Schutz elektronischer Proben erfüllen die Stative ESD-Anforderungen.

Beispielkonfiguration BX53MRF-S

Beispielkonfiguration BX53MRF-S

Beispielkonfiguration BX53MTRF-S

Beispielkonfiguration BX53MTRF-S

BX53M: Kombination für die IR-Mikroskopie

BX53M: Kombination für die IR-Mikroskopie

IR-Objektive können für Prüfungen, Messungen und Verarbeitung von Halbleitern eingesetzt werden, wenn eine Bildgebung durch Silizium hindurch erforderlich ist, um die Strukturen zu erkennen. Die Serie umfasst 5X- bis 100X-Infrarot(IR)-Objektive mit chromatischer Aberrationskorrektur vom sichtbaren Licht bis hin zum nahen Infrarotspektrum. Beim Arbeiten mit starker Vergrößerung können Aberrationen aufgrund der Dicke eines Objekts bei Objektiven der LCPLN-IR Serie durch Drehen des Korrekturringes korrigiert werden. Ein einziges Objektiv reicht aus, um immer ein klares Bild aufzunehmen.

Für Einzelheiten zu den IR-Objektivlinsen hier klicken

BX53M: Kombination für die Polarisationsmikroskopie

Die Optik der BX53M für die Polarisationsmikroskopie bietet Geologen das richtige Werkzeug für die Aufnahme kontrastreicher polarisationsmikroskopischer Bilder. Anwendungen, wie die Identifizierung von Mineralien, die Untersuchung der optischen Eigenschaften von Kristallen und die Betrachtung von Gesteinsdünnschliffen, profitieren von der Stabilität des Systems und der präzisen optischen Ausrichtung.

Orthoskopische Konfiguration: BX53-P

Orthoskopische Konfiguration: BX53-P

Konoskopische/orthoskopische Konfiguration: BX53-P

Konoskopische/orthoskopische Konfiguration: BX53-P

Bertrand-Linsen für konoskopische und orthoskopische Mikroskopie

Mit dem Adapter U-CPA für konoskopische Betrachtung kann einfach und schnell zwischen orthoskopischer und konoskopischer Mikroskopie umgeschaltet werden. Eine Fokussierung auf klare Interferenzmuster in der hinteren Bildebene ist möglich. Die Bertrand-Feldblende ermöglicht ständig scharfe und klare konoskopische Bilder.

Bertrand-Linsen für konoskopische und orthoskopische Mikroskopie
Umfassende Auswahl an Kompensatoren und Verzögerungsplatten

Umfassende Auswahl an Kompensatoren und Verzögerungsplatten

Für die Messung der Doppelbrechung in Gestein und mineralischen Dünnschliffen stehen fünf verschiedene Kompensatoren zur Verfügung. Der Messbereich für den Gangunterschied reicht von 0 bis 20λ. Zur Erleichterung von Messungen und zum Erhalt hoher Bildkontraste können Berek- und Senarmont-Kompensatoren eingesetzt werden, die die Verzögerungsstufe im kompletten Sehfeld ändern.

Messbereich der Kompensatoren

Kompensator Messbereich Hauptanwendungsbereich
Thick Berek (U-CTB) 0 bis 11,000 nm
(20λ) 		Messung eines hohen Gangunterschieds (R*>3λ)
(Kristalle, Makromoleküle, Fasern usw.)
Berek (U-CBE) 0 bis 1,640 nm
(3λ) 		Messung des Gangunterschieds
(Kristalle, Makromoleküle, lebende Organismen usw.)
Senarmont-Kompensator (U-CSE) 0 bis 546 nm
(1λ) 		Messung des Gangunterschieds (Kristalle, lebende Organismen usw.)
Verstärkung des Bildkontrastes (lebende Organismen usw.)
Brace-Köhler-Kompensator
1/30λ (U-CBE2) 		0 bis 20 nm
(1/30λ) 		Messung des Bildkontrastes (lebende Organismen usw.)
Quarzkeil (U-CWE2) 500 bis 2.200 nm
(4λ) 		Näherungsweise Messung des Gangunterschieds
(Kristall, Makromoleküle usw.)

*R = Gangunterschied
Für genauere Messungen sollten die Kompensatoren (außer U-CWE2) zusammen mit dem Interferenzfilter 45-IF546 verwendet werden.

Spannungsfreie Optik

Dank unserer ausgereiften Konstruktion und der hochmodernen Fertigungstechnik ist die innere Spannung bei den UPLFLN-P Objektiven auf ein Minimum reduziert. Dies führt zu einem höheren EF-Wert und zu einem hervorragenden Bildkontrast.

Für Einzelheiten zu den UPLFLN-P Objektiven hier klicken
Für Einzelheiten zu den PLN-P/ACHN-P Objektiven hier klicken
BXFM System

BXFM System

Das BXFM kann an spezielle Anwendungen angepasst oder in andere Instrumente integriert werden. Dank des modularen Aufbaus und einer Vielzahl kleiner Speziallichtquellen und Befestigungsvorrichtungen lässt sich das Mikroskop unkompliziert an spezielle Umgebungen und Konfigurationen anpassen.

Modularer Aufbau ermöglicht kundenspezifische Systeme

Mikroskopstative

Es stehen zwei verschiedene Mikroskopstative für die Auflichtmikroskopie zur Verfügung, eines davon eignet sich auch für die Durchlichtmikroskopie. Für größere Proben ist ein Adapter zum Anheben der Lichtquelle erhältlich.

Auflicht Durchlicht Probenhöhe
1 BX53MRF-S ■ － 0 bis 65 mm
2 BX53MTRF-S ■ ■ 0 bis 35 mm
1, 3 BX53MRF-S + BX3M-ARMAD ■ － 40 bis 105 mm
2, 3 BX53MTRF-S + BX3M-ARMAD ■ ■ 40 bis 75 mm

Praktisches Zubehör für die Mikroskopie

－ HP-2 Handschalter
－ COVER-018 Staubschutzhaube

Mikroskopstative

Stative

Für Mikroskopieanwendungen, bei denen die Objekte nicht auf einen Tisch passen, können die Lichtquelle und die Optik an einem größeren Stativ oder einem anderen Gerät montiert werden.

BXFM + BX53M Konfiguration der Lichtquelle

1 BXFM-F Stativhalterung zur Montage an Wand/32-mm-Säule
2 BX3M-ILH Kondensorhalter
3 BXFM-ILHSPU Gegendruckfeder für BXFM
5 SZ-STL Großes Stativ

BXFM + U-KMAS Konfiguration der Lichtquelle

1 BXFM-F Stativhalterung zur Montage an Wand/32-mm-Säule
4 BXFM-ILHS U-KMAS Halter
5 SZ-STL Großes Stativ

Stative

Tuben

Wählen Sie für die Mikroskopie mit Okularen oder mit einer Kamera Tuben entsprechend dem Bildtyp und der Haltung des Anwenders bei der Betrachtung aus.

Sehfeldzahl Typ Winkel Bild Zahl der Dioptrin-
einstellmechanismen
1 U-TR30-2 22 Trinokular Fest Umgekehrt 1
2 U-TR30IR 22 Binokular mit Kameratubus für IR Fest Umgekehrt 1
3 U-ETR-4 22 Trinokular Fest Aufrecht －
4 U-TTR-2 22 Trinokular Schwenkbar Umgekehrt －
5 U-SWTR-3 26,5 Trinokular Fest Umgekehrt －
6 U-SWETTR-5 26,5 Trinokular Schwenkbar Aufrecht －
7 U-TLU 22 Ein Anschluss － － －
8 U-SWATLU 26,5 Ein Anschluss － － －
Tuben

Lichtquellen

Die Lichtquelle wirft entsprechend dem gewählten Mikroskopieverfahren Licht auf das Objekt. Software-Schnittstellen mit codierten Lichtquellen erkennen die Filterwürfelposition und identifizieren automatisch das Mikroskopieverfahren.

Lichtquellen

 Codierte Funktion Lichtquelle HF DF DIC POL IR FL MIX Aperturblende/Leuchtfeldblende
1 BX3M-RLAS-S Feste 3-Würfel-Position LED - eingebaut ■ ■ ■ ■ － － ■ ■
2 BX3M-URAS-S Montierbar, 4-Würfel-Position LED ■ ■ ■ ■ － － ■ ■
Halogen ■ ■ ■ ■ ■ － ■ ■
Quecksilber/Lichtleiter ■ ■ ■ ■ － ■ ■ ■
3 BX3M-RLA-S

LED ■ ■ ■ ■ － － ■ ■
Halogen ■ ■ ■ ■ ■ － ■ ■
4 BX3M-KMA-S

LED - eingebaut ■ － ■ ■ － － ■ －
5 BX3-ARM Mechanischer Arm für Durchlicht
6 U-KMAS

LED ■ － ■ ■ － － ■ －
Halogen ■ － ■ ■ ■ － ■ －

Lichtquellen

Lichtquellen und Netzteile für die Probenbeleuchtung – wählen Sie die geeignete Lichtquelle für die Beobachtungsmethode.

Lichtquellen

Standardkonfiguration für LED-Lichtquelle

1 BX3M-LEDR LED-Lampenhaus für Auflicht
2 U-RCV DF-Konverter für BX3M-URAS-S, ggf. für DF- und HF-Betrachtung erforderlich
3 BX3M-PSLED Netzteil für LED-Lampenhaus, erfordert BXFM System
4 BX3M-LEDT LED-Lampenhaus für Durchlicht

Beleuchtungskonfiguration für Fluoreszenzbeleuchtung

5 U-LLGAD Lichtleiteradapter
2 U-RCV DF-Konverter für BX3M-URAS-S, ggf. für DF- und HF-Betrachtung erforderlich
6 U-LLG150 Lichtleiter, Länge: 1,5 m
7 U-LGPS Lichtquelle für Fluoreszenz
8, 9 U-LH100HG (HGAPO) Quecksilber-Lampenhaus für Fluoreszenz
2 U-RCV DF-Konverter für BX3M-URAS-S, ggf. für DF- und HF-Betrachtung erforderlich
10 U-RFL-T Netzteil für 100 W Quecksilberlampe

Konfiguration für Halogen- und Halogen-IR-Beleuchtung

11 U-LH100IR Halogen-Lampenhaus für IR
12 U-RMT Verlängerungskabel für Halogen-Lampenhaus, Kabellänge 1,7 m (ggf. Kabelverlängerung erforderlich)
13, 14 TH4-100 (200) 100 V (200 V) Netzteil für 100 W/50 W Halogenlampe
15 TH4-HS Handschalter zur Helligkeitsregulierung der Halogenlampe (Dimmer TH4-100 (200) ohne Handschalter)

Objektivrevolver

Aufnahme für Objektive und Schieber. Je nach der Anzahl und Typ der benötigten Objektive; auch mit/ohne Schieberadapter.

Objektivrevolver

 Typ Positionen HF DF DIC MIX ESD Anzahl
Zentrierlöcher
1 U-P4RE Manuell 4 ■

■

4
2 U-5RE-2 Manuell 5 ■

3 U-5RES-ESD Codiert 5 ■

■

4 U-D6RE Manuell 6 ■

■

5 U-D6RES Codiert 6 ■

■

6 U-D5BDREMC Motorgesteuert 5 ■ ■ ■ ■

7 U-D6BDRE Manuell 6 ■ ■ ■ ■

8 U-D5BDRES-ESD Codiert 5 ■ ■ ■ ■ ■

9 U-D6BDRES-S Codiert 6 ■ ■ ■ ■ ■

10 U-D6REMC Motorgesteuert 6 ■

■

11 U-D6BDREMC Motorgesteuert 6 ■ ■ ■ ■ ■

12 U-D5BDREMC-VA Motorgesteuert 5 ■ ■

Schieber

Wählen Sie einen Schieber als Ergänzung zur klassisches Hellfeldmikroskopie. Der DIC-Schieber liefert topografische Informationen über das Objekt mit Optionen zur Maximierung des Kontrasts oder der Auflösung. Der MIX-Schieber erlaubt dank einer segmentierten LED-Lichtquelle im Dunkelfeld-Strahlengang eine flexible Beleuchtung.

Schieber

DIC-Schieber

Typ Scherungsanteil Verfügbare Objektive
1 U-DICR Standard Medium

MPLFLN*1, MPLFLN-BD*2, LMPLFLN, LMPLFLN-BD, MXPLFLN, MXPLFLN-BD, MPLAPON und LCPLFLN-LCD

*1 1,25X und 2,5X unterstützen keine DIC-Beobachtung.
*2 2,5X unterstützt keine DIC-Beobachtung.

MIX-Schieber

Verfügbare Objektive
2 U-MIXR-2 MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD, MPLN-BD, MXPLFLN-BD

Kabel

U-MIXRCBL* U-MIXR-Kabel, Kabellänge: 0,5 m

Nur *MIXR

Steuergeräte und Handschalter

Steuergeräte für die Verbindung der Mikroskop-Hardware mit einem PC und Handschalter für die Hardware-Steuerung und -anzeige.

Konfiguration BX3M-CB (CBFM)

1 BX3M-CB Steuergerät für BX53M
2 BX3M-CBFM Steuergerät für BXFM
3 BX3M-HS Steuerung der MIX-Betrachtung, Anzeige für codierte Hardware, programmierbarer Software-Funktionsknopf (PRECiV)
4 BX3M-HSRE Drehung des motorgesteuerten Objektivrevolvers

Kabel

－ BX3M-RMCBL (ECBL) Kabel für motorgesteuerten Objektivrevolver, Kabellänge: 0,2 m

Steuergeräte und Handschalter

Tische

Tische und Tischplatten zum Anbringen von Objekten. Auswahl je nach Form und der Größe der Objekte.

Tische

Tischkonfiguration 150 mm × 100 mm

1 U-SIC64 Tisch, 150 mm × 100 mm, mit flachem Trieb oben
2 U-SHG (T) Griffring aus Silikongummi, zur leichteren Bedienung des Triebs (dicke Ausführung)
3 U-SP64 Tischplatte für U-SIC64
4 U-WHP64 Wafer-Platte für U-SIC64
5 BH2-WHR43 Wafer-Halter für 4-3 Zoll
6 BH2-WHR65 Wafer-Halter für 6-5 Zoll
7 U-SPG64 Glaseinlageplatte für U-SIC64

Tischkonfiguration 76 mm × 52 mm

12 U-SVR M Tisch, 76 mm × 52 mm, mit rechtsseitigem Trieb
2 U-SHG (T) Griffring aus Silikongummi, zur leichteren Bedienung des Triebs (dicke Ausführung)
13 U-MSSP Tischplatte für U-SVR (/L) M
14, 15 U-HR (L) D-4 Halter für schmale Objektträger, rechts (links) öffnend
16, 17 U-HR (L) DT-4 Dicker Objektträgerhalter für die rechte (linke) Öffnung, um den Objektträger auf die Oberseite des Tischs zu drücken, wenn es schwierig ist, die Probe anzuheben.

Tischkonfiguration 100 mm × 100 mm

8 U-SIC4R 2 Tisch, 105 mm × 100 mm, mit rechtsseitigem Trieb
9 U-MSSP4 Tischplatte für U-SIC4R (L) 2
10 U-WHP2 Wafer-Platte für U-SIC4R (L) 2
5 BH2-WHR43 Wafer-Halter für 4-3 Zoll
11 U-MSSPG Glaseinlageplatte für U-SIC4R

Sonstiges

18 U-SRG2 Drehtisch
19 U-SRP Drehtisch für POL, Klickstopp bei 45° aus jeder Position
20 U-FMP Mechanische Objektführung für U-SRP/U-SRG2

Kamera-Adapter

Kamera-Adapter für die Mikroskopie. Auswahl je nach dem erforderlichen Sehfeld und der Vergrößerung. Der tatsächliche Beobachtungsbereich kann mit folgender Formel berechnet werden: tatsächliches Sehfeld (Diagonale mm) = Sehfeld (Betrachtungsnummer) ÷ Objektivvergrößerung.

Kamera-Adapter

 Vergrößerung Zentrierungseinstellung CCD-Bildbereich (Sehfeldzahl) (mm)
2/3 Zoll 1/1,8 Zoll 1/2 Zoll
1 U-TV1x-2 mit U-CMAD3 1 － 10,7 8,8 8
2 U-TV1xC 1 Ø 2 mm 10,7 8,8 8
3 U-TV0.63xC 0,63 － 17 14 12,7
4 U-TV0.5xC-3 0,5 － 21,4 17,6 16
5 U-TV0.35xC-2 0,35 － － － 22

Okulare

Okular für die direkte Betrachtung mit dem Mikroskop. Auswahl je nach dem erforderlichen Sehfeld und der Vergrößerung.

Sehfeldzahl (mm) Dioptrienkorrekturmechanismus Eingebautes Fadenkreuz
1 WHN10x 22

2 WHN10x-H 22 ■

3 CROSS WHN10x 22 ■ ■
4 SWH10x-H 26,5 ■

5 CROSS SWH10x 26,5 ■ ■
Okulare

Optische Filter

Optische Filter verändern die Wellenlänge oder die Farbtemperatur des auf die Probe gestrahlten Lichts. Auswahl des geeigneten Filters, je nach den jeweiligen Mikroskopieanforderungen.

Optische Filter

HF, DF, FL

1, 2 U-25ND25,6 Neutralgraufilter, Transmission 25 %, 6 %
3 U-25LBD Tageslichtfilter
4 U-25LBA Halogenfilter
5 U-25IF550 Grünfilter
6 U-25L42 UV-Sperrfilter
7 U-25Y48 Gelbfilter
8 U-25FR Mattfilter (für BX3M-URA erforderlich)

POL, DIC

9 U-AN-2 Feststehender Analysator
10 U-AN360-3 Drehbarer Analysator
11 U-AN360P-2 Drehbarer Analysator, hohe Qualität
12 U-PO3 Feststehender Analysator
13 45-IF546 Grünfilter, Ø 45 mm, für POL

IR

14 U-AN360IR Der IR-Analysator ist drehbar (verringert bei Verwendung mit U-AN360IR und U-POIR die Lichthofbildung bei der IR-Mikroskopie).
15 U-POIR Fester IR-Polarisationsfilter
16 U-BP1100IR Bandpassfilter: 1100 nm
17 U-BP1200IR Bandpassfilter: 1200 nm

Durchlicht

18 43IF550-W45 Grünfilter ø45 mm
19 U-POT Polarisationsfilter

Sonstiges

20 U-25 Leerer Filter, für Filter des Anwenders mit Ø 25 mm

*AN und PO sind bei Verwendung von BX3M-RLAS-S und U-FDICR nicht erforderlich.

Kondensoren

Kondensoren sammeln und bündeln das Licht. Sie werden für die Durchlichtmikroskopie verwendet.

1 U-AC2 Abbé-Kondensor (erhältlich für Objektive mit einer Vergrößerung ab 5X)
2 U-SC3 Klappkondensor (für Objektive mit einer Vergrößerung ab 1,25X)
3 U-LWCD Kondensor mit großem Arbeitsabstand für Glaseinlageplatte
 (U-MSSPG, U-SPG64)
4 U-POC-2 Klappkondensor für POL
Kondensoren

Filtermodule

Filtermodul für BX3M-URAS-S. Die Auswahl des Moduls erfolgt entsprechend den jeweiligen Mikroskopieanforderungen.

1 U-FBF Für HF, abnehmbarer ND-Filter
2 U-FDF Für DF
3 U-FDICR Für POL, gekreuzte Position der Nicol-Prismen ist fixiert.
4 U-FBFL Für HF, eingebauter ND-Filter (sowohl für HF* als auch FL erforderlich) 
5 U-FWUS Für Ultraviolett-FL: BP330-385 BA420 DM400
6 U-FWBS Für blaue FL: BP460-490 BA520IF DM500
7 U-FWGS Für grüne FL: BP510-550 BA590 DM570
8 U-FF Leere Spiegeleinheit

* Nur für koaxiale episkopische Beleuchtungen

Filtermodule

Zwischentuben

Unterschiedliche Arten von Zubehör für verschiedene Zwecke. Zur Verwendung zwischen Tubus und Lichtquelle.

1 U-CA Vergrößerungswechsler (1X, 1,25X, 1,6X, 2X)
2 U-TRU Zwischentubus für Binokulartubus mit Kameratubus
Zwischentuben

UIS2 Objektive

Objektive vergrößern das Objekt. Die Wahl des Objektivs für die Anwendung erfolgt auf der Grundlage von Arbeitsabstand, Auflösung und Mikroskopieverfahren.

Klicken Sie hier, um weitere Einzelheiten zu den Objektiven UIS2 zu erfahren.

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