Sistema modular altamente fiableA continuación, se proporcionan seis sugerencias de configuración de la serie BX53M para brindarle la flexibilidad de elegir las características necesarias a su aplicación. |
| Uso general | Use específico | |||||||||
Entry (básico)Fácil configuración con características básicas | Standard (estándar)
Fácil de utilizar con
| Advanced (avanzado)Admite numerosas funciones avanzadas | Fluorescence (fluorescencia)
Adecuado para
| Infrared (infrarrojo)Desarrollado para la observación de la luz infrarroja (infrarrojo) a fin de inspeccionar circuitos integrados | Polarization (polarización)Desarrollado para observar las características de birrefringencia | |||||
Filtro de color LCD |
Microestructura con granos |
Hilo de cobre de bobina |
Resinas en patrón de circuito impreso |
Estratificación de silicio en patrón de circuito impreso |
Amianto | |||||
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Ver ficha de especificaciones
| Entry (básico) | Standard (estándar) | Advanced (avanzado) | Fluorescence (fluorescencia) | Infrared (infrarrojo) | Polarization (polarización) | |
| Estativo del microscopio | Reflejada o reflejada/transmitida | Reflejada o reflejada/transmitida | Reflejada | Transmitida | ||
| Estándar | R-BF o T-BF | R-BF o T-BF o DF | R-BF o T-BF o DF o MIX | R-BF o T-BF o DF o FL | R-BF o IR | T-BF o POL |
| Opción | DIC | DIC/MIX | DIC | DIC/MIX | - | - |
| Iluminador sencillo | - | ![]() | ![]() | - | - | - |
| Leyenda de apertura | - | ![]() | ![]() | ![]() | - | ![]() |
| Hardware codificado | - | ![]() | ![]() | ![]() | - | ![]() |
| Índice de escala de enfoque | ![]() | ![]() | ![]() | ![]() | ![]() | ![]() |
| Control de intensidad de luz | ![]() | ![]() | ![]() | - | - | ![]() |
| Funcionamiento del interruptor manual | ![]() | ![]() | ![]() | ![]() | - | - |
| Observación MIX | ![]() | ![]() | ![]() | ![]() | - | - |
| Objetivos | Seleccione entre los tres objetivos según sus aplicaciones | Seleccione entre los tres objetivos según sus aplicaciones | Objetivos para la luz infrarroja | Objetivos para la luz polarizada | ||
| Platina | Seleccione entre las cinco platinas según el tamaño de sus muestras | Seleccione entre las cinco platinas según el tamaño de sus muestras | Platina para la luz polarizada | |||
MÉTODO DE OBSERVACIÓN
R-BF: Campo claro (Reflejada)
*La observación T-BF puede usarse al seleccionar el estativo del microscopio de luz reflejada/luz transmitida.
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Ejemplos de configuraciones para la ciencia de materiales
Diseño modular que permite varias configuraciones para satisfacer los requisitos de los usuarios.
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Serie BX53M con combinación de luz reflejada y luz reflejada/transmitidaHay dos tipos de estativos microscópicos en la serie BX3M, uno sirve para la luz reflejada y el otro para la luz reflejada y la transmitida. Ambos estativos pueden configurarse con componentes manuales, codificados o motorizados. Los estativos están equipados con la capacidad de descarga electrostática (ESD) para proteger las muestras electrónicas. |
Ejemplo de configuración del BX53MRF-S |
Ejemplo de configuración del BX53MTRF-S |
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![]() | Combinación IR del BX53MLos objetivos infrarrojos (de luz infrarroja) son usados en las aplicaciones de inspección, medición y procesamiento de semiconductores en las que se requiere un procesamiento de imágenes del silicio para ver el patrón. Los objetivos infrarrojos (IR) de 5X a 100X cuentan con la corrección de aberraciones cromáticas aplicable desde las longitudes de onda de luz visible hasta las del infrarrojo cercano. En los trabajos de alta magnificación, rotar el collar de corrección de la serie de lentes LCPLNIR permitirá corregir las aberraciones causadas por el espesor de la muestra. Con un solo objetivo, es posible obtener una imagen clara. Haga clic aquí para obtener más detalles acerca de las lentes de objetivo IR. |
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Combinación de luz polarizada del BX53MLos objetivos ópticos de polarización BX53M habilitan a los geólogos con las herramientas necesarias para un procesamiento de imágenes óptico con luz polarizada de alto contraste. Tanto la identificación de minerales, la investigación de características ópticas de los cristales, la observación de secciones de roca sólida así como otras aplicaciones benefician de la estabilidad del sistema y la alineación óptica precisa. |
Configuración ortoscópica del BX53-P |
Configuración conoscópica/ortoscópica del BX53-P |
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Lente Bertrand para observaciones conoscópicas y ortoscópicasLa alternación entre la observación ortoscópica y conoscópica puede llevarse a cabo de forma fácil y rápida con un accesorio de observación conoscópica U-CPA. Su tipo enfocable permite visualizar claramente los patrones de interferencia del plano focal posterior. El tope de campo Bertrand permite obtener imágenes conoscópicas claras y nítidas constantemente. | ![]() |
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![]() | Amplia variedad de compensadores y placas de ondaExisten cinco compensadores diferentes para medir la birrefringencia en secciones finas de rocas y minerales. El retardo de medición oscila entre 0 y 20 λ. Para llevar a cabo mediciones más fáciles y obtener imágenes de alto contraste, es posible usar los compensadores Berek y Senarmont que cambian el nivel de retardo a través del completo campo visual. |
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Rango de medición de los compensadores
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*R = nivel de retardo |
Objetivos ópticos sin tensiónGracias a nuestra sofisticada tecnología de diseño y fabricación, los objetivos sin tensión UPLFLN-P reducen la presión interna al mínimo. Esto significa un valor de factor de extinción (EF) aún más elevado para un óptimo contraste de imagen. | Haga clic aquí para obtener más detalles acerca de las lentes de objetivo UPLFLN-PHaga clic aquí para obtener más detalles acerca de las lentes de objetivo PLN-P / ACHN-P |
![]() | Sistema BXFMEl BXFM puede adaptarse a aplicaciones especiales o integrarse en otros instrumentos. La construcción modular proporciona una adaptación directa a entornos y configuraciones únicos con una variedad de iluminadores pequeños especiales y soportes de fijación. |
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Diseño modular para un sistema a su manera |
Estativos microscópicosHay dos estativos microscópicos para la luz reflejada y uno también presenta la capacidad de luz transmitida. Hay un adaptador disponible para elevar el iluminador con el fin de adaptarse a las muestras de mayor altura.
Accesorios prácticos para su uso en microscopía
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SoportesPara aplicaciones de microscopía en las que la muestra no encaja en un estativo; el iluminador y los objetivos ópticos pueden montarse en un soporte de mayor tamaño o en otro dispositivo. Configuración del iluminador de BXFM + BX53M
Configuración del iluminador de BXFM + U-KMAS
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TubosPara el procesamiento microscópico de imágenes con oculares o para la observación por cámara, seleccione los tubos según el tipo de procesamiento de imágenes y la postura de operación requeridos durante la observación.
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IluminadoresEl iluminador proyecta la luz sobre la muestra según el método de observación seleccionado. El software se comunica con los iluminadores codificados para leer la posición del cubo y reconocer automáticamente el método de observación. | ![]() |
| Función codificada | Fuente de luz | BF | DF | DIC | POL | IR | FL | MIX | AS/FS | ||
| 1 | BX3M-RLAS-S | Tres posiciones fijas de cubo | LED - Integrado | ■ | ■ | ■ | ■ | - | - | ■ | ■ |
| 2 | BX3M-URAS-S | Posición de cuatro cubos acoplables | LED | ■ | ■ | ■ | ■ | - | - | ■ | ■ |
| Halógeno | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | - | ■ | ■ | |||
| Mercurio/guía de luz | ■ | ■ | ■ | ■ | - | ■ | ■ | ■ | |||
| 3 | BX3M-RLA-S | LED | ■ | ■ | ■ | ■ | - | - | ■ | ■ | |
| Halógeno | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | - | ■ | ■ | |||
| 4 | BX3M-KMA-S | LED - Integrado | ■ | - | ■ | ■ | - | - | ■ | - | |
| 5 | BX3-ARM | Brazo mecánico para luz transmitida | |||||||||
| 6 | U-KMAS | LED | ■ | - | ■ | ■ | - | - | ■ | - | |
| Halógeno | ■ | - | ■ | ■ | ■ | - | ■ | - | |||
Fuentes de luzFuentes de luz y fuentes de alimentación para la iluminación de las muestras. Seleccione la fuente de luz adecuada para el método de observación. | ![]() |
Configuración de fuente de luz LED estándar
Configuración de fuente de luz de fluorescencia
| Configuración de fuente de luz halógena y luz infrarroja
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PortaobjetivosSujeción para objetivos y deslizadores. Seleccione según el número y tipos de objetivos necesarios; también con/sin fijación de deslizador. | ![]() |
| Tipo | Orificios | BF | DF | DIC | MIX | ESD |
N.º de
agujeros de centrado | ||
| 1 | U-P4RE | Manual | 4 | ■ | ■ | 4 | |||
| 2 | U-5RE-2 | Manual | 5 | ■ | |||||
| 3 | U-5RES-ESD | Codificado | 5 | ■ | ■ | ||||
| 4 | U-D6RE | Manual | 6 | ■ | ■ | ||||
| 5 | U-D6RES | Codificado | 6 | ■ | ■ | ||||
| 6 | U-D5BDREMC | Motorizado | 5 | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
| 7 | U-D6BDRE | Manual | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
| 8 | U-D5BDRES-ESD | Codificado | 5 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| 9 | U-D6BDRES-S | Codificado | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| 10 | U-D6REMC | Motorizado | 6 | ■ | ■ | ||||
| 11 | U-D6BDREMC | Motorizado | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| 12 | U-D5BDREMC-VA | Motorizado | 5 | ■ | ■ |
DeslizadoresSeleccione el deslizador para complementar la observación tradicional. El deslizador DIC brinda información topográfica acerca de la muestra con opciones para maximizar el contraste o la resolución. El deslizador MIX proporciona flexibilidad de iluminación con una fuente de LED en la trayectoria del campo oscuro. | ![]() |
Deslizador DIC
*1 Con 1.25X y 2.5X no se soporta la observación DIC.
Deslizador MIX
| Cable
*MIXR solamente |
Caja de control e interruptores manualesCajas de control para establecer la comunicación entre el hardware del microscopio, un(a) PC y los interruptores manuales para la visualización y control del hardware. Configuración de la caja de control BX3M-CB (CBFM)
Cable
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PlatinasPlatinas y placas de platinas para la colocación de la muestra. Seleccione la platina según la forma y tamaño de la muestra. | ![]() |
Configuración de platina de 150 mm × 100 mm
Configuración de platina de 76 mm × 52 mm
| Configuración de platina de 100 mm × 100 mm
Otros
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Adaptadores para cámaraAdaptador para la observación por cámara. Seleccionable desde el campo visual y magnificación necesarios. El rango de la observación real puede calcularse mediante esta fórmula: campo de visión real (mm de diagonal) = visualización de campo (número de visualización) ÷ magnificación del objetivo. |
| Magnificación | Ajuste de centrado | Área de imagen de CCD (número de campo) mm | ||||
| 2/3 pulg. | 1/1,8 pulg. | 1/2 pulg. | ||||
| 1 | U-TV1x-2 con U-CMAD3 | 1 | - | 10,7 | 8,8 | 8 |
| 2 | U-TV1xC | 1 | ø de 2 mm | 10,7 | 8,8 | 8 |
| 3 | U-TV0.63xC | 0,63 | - | 17 | 14 | 12,7 |
| 4 | U-TV0.5xC-3 | 0,5 | - | 21,4 | 17,6 | 16 |
| 5 | U-TV0.35xC-2 | 0,35 | - | - | - | 22 |
OcularesLos ocular permiten visualizar directamente a través del microscopio. Seleccione su ocular según el campo visual deseado.
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Filtros ópticosLos filtros ópticos convierten la luz expuesta hacia la muestra en diferentes tipos de iluminación. Seleccione el filtro adecuado según los requisitos de observación. | ![]() |
BF, DF, FL
POL, DIC
| IR
Luz transmitida
Otros
*AN y PO no son necesarios al usar BX3M-RLAS-S y U-FDICR |
CondensadoresLos condensadores recogen y enfocan la luz transmitida. Sirve para la observación con luz transmitida.
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Cubos de espejosCubo de espejos para BX3M-URAS-S. Seleccione la unidad para la observación necesaria.
*Solo para la iluminación episcópica coaxial | ![]() |
Tubos intermediosDiferentes tipos de accesorios para varios propósitos. Para su uso entre el tubo y el iluminador.
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Objetivos UIS2Los objetivos sirven para ampliar la observación de su muestra. Seleccione el objetivo que se adapte a la distancia de trabajo, el poder de resolución y el método de observación de cada aplicación. Haga clic aquí para obtener más información acerca de las lentes de objetivo UIS2 |




































