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显微镜解决方案
配置

Système modulaire à haute fiabilité

Grâce aux six configurations proposées pour le BX53M, vous disposez d’une grande flexibilité pour choisir les caractéristiques dont vous avez besoin.

Usage général

Usage spécialisé

Entrée de gamme

Configuration simple avec fonctions de base

Standard

Utilisation facile et mises à niveau incluant des fonctionnalités polyvalentes

Avancée

Inclut de nombreuses fonctionnalités de pointe

Fluorescence

Spécialement conçue pour l’observation en fluorescence

Infrarouge

Conçue pour l’observation IR de circuits intégrés

Lumière polarisée

Conçue pour l’observation de caractéristiques de biréfringence

Filtre de couleur LCD

Filtre de couleur LCD
(lumière transmise/fond clair)

Microstructure avec grains ferritiques

Microstructure avec 
grains ferritiques
(lumière réfléchie/fond noir)

Fil de cuivre d’une bobine

Fil de cuivre d’une bobine
(fond clair + fond noir/MIX)

Résistance sur un motif de circuit intégré

Résistance sur un
motif de circuit intégré
(fluorescence + fond noir/MIX)

Motif de circuit intégré à couches de silicium

Motif de circuit intégré à couches de silicium
(IR)

Amiante

Amiante
(lumière polarisée)

Entrée de gamme

Standard

Avancé

Fluorescence

Infrarouge

Lumière polarisée

Voir le tableau des caractéristiques techniques

 Entrée de gamme Standard Avancée Fluorescence Infrarouge Lumière polarisée
Potence du microscope Lumière réfléchie ou réfléchie/transmise Lumière réfléchie ou réfléchie/transmise Lumière réfléchie Lumière transmise
Inclus R-BF ou T-BF R-BF ou T-BF ou DF R-BF ou T-BF ou 
DF ou MIX 		R-BF ou T-BF ou 
DF ou FL 		R-BF ou IR T-BF ou POL
Option DIC DIC/MIX DIC DIC/MIX － －
Illuminateur simple － ■■ － － －
Code couleur / ouverture numérique － ■■■ － ■
Matériel codé － ■■■ － ■
Indice de l’échelle de mise au point ■■■■■■
Gestionnaire d’intensité lumineuse ■■■ － － ■
Utilisation avec interrupteur □□■□ － －
Observation MIX □□■□ － －
Objectifs Au choix parmi 3 objectifs en fonction de vos applications Au choix parmi 3 objectifs en fonction de vos applications Objectifs pour IR Objectifs pour POL
Platine Au choix parmi 5 platines en fonction de la taille de vos échantillons. Au choix parmi 5 platines en fonction de la taille de vos échantillons. Platine pour POL

MÉTHODES D’OBSERVATION

R-BF : fond clair (lumière réfléchie)
T-BF : fond clair (lumière réfléchie/transmise)
DF : fond noir
DIC : contraste interférentiel différentiel / lumière polarisée simple
MIX : mode d’observation combinée
FL : fluorescence
IR : infrarouge
POL : lumière polarisée

* La méthode T-BF peut être utilisée lorsqu’une potence de microscope « lumière réfléchie/transmise » est sélectionnée.

■ : inclus
□ : option

Exemples de configurations pour les sciences des matériaux

La conception modulaire permet d’adapter le système aux besoins des utilisateurs.
Vous trouverez ci-dessous des exemples de configurations pour les sciences des matériaux.

BX53M : système de microscopie avec modes d’observation en lumière réfléchie et en lumières réfléchie/transmise combinées

Il existe deux types de potences pour la série BX3M, l’une pour la lumière réfléchie uniquement, et l’autre pour la lumière réfléchie et la lumière transmise. Les deux potences peuvent être configurées avec des composants manuels, codés ou motorisés. Les potences sont équipées de la fonctionnalité de protection contre les décharges électrostatiques (DES) pour protéger les échantillons électroniques.

Exemple de configuration du BX53MRF-S

Exemple de configuration du BX53MRF-S

Exemple de configuration du BX53MTRF-S

Exemple de configuration du BX53MTRF-S

BX53M : système combiné avec mode infrarouge (IR)

BX53M : système combiné avec mode infrarouge (IR)

Des objectifs à infrarouge (IR) peuvent être utilisés notamment avec des échantillons de semi-conducteurs pour des opérations d’observation, de mesure et de traitement, lorsqu’une observation à travers du silicone est nécessaire pour parvenir à distinguer les structures de l’échantillon. Des objectifs IR 5x à 100x sont disponibles et offrent une correction de l’aberration chromatique, depuis les longueurs d’onde du domaine visible jusqu’aux longueurs d’onde du proche infrarouge. Pour le travail à fort grossissement, la rotation de la bague de correction de la série d’objectifs LCPLNIR permet de corriger les aberrations causées par l’épaisseur de l’échantillon. Un seul objectif permet d’obtenir une image nette.

Cliquez ici pour en savoir plus sur les objectifs IR

BX53M : système combiné avec mode de lumière polarisée

Les objectifs du microscope BX53M combiné à lumière polarisée fournissent aux géologues les outils dont ils ont besoin pour l’imagerie en lumière polarisée à contraste élevé. Dans le cadre d’applications telles que l’identification des minéraux, l’étude des caractéristiques optiques de cristaux et l’observation de sections de roche solide, les utilisateurs bénéficient de la stabilité du système et de la précision de l’alignement optique.

Configuration orthoscopique du BX53-P

Configuration orthoscopique du BX53-P

Configuration conoscopique/orthoscopique du BX53-P

Configuration conoscopique/orthoscopique du BX53-P

Lentille de Bertrand pour les observations orthoscopiques et conoscopiques

Grâce à l’accessoire d’observation conoscopique U-CPA, le basculement entre l’observation orthoscopique et l’observation conoscopique est simple et rapide. La mise au point est réglable pour permettre la distinction claire des structures d’interférence du plan focal arrière. Le diaphragme de champ de la lentille de Bertrand permet d’obtenir de façon constante des images conoscopiques claires et nettes.

Lentille de Bertrand pour les observations orthoscopiques et conoscopiques
Une large gamme de compensateurs et de lames d’onde

Une large gamme de compensateurs et de lames d’onde

Cinq compensateurs différents sont disponibles pour les mesures de la biréfringence dans les fines sections de roche et de minéraux. La gamme des mesures du niveau de retard d’onde est de 0 à 20λ. Pour une mesure facilitée et un contraste d’image élevé, il est possible d’utiliser les compensateurs de Berek et de Senarmont, qui peuvent modifier le niveau de retard d’onde dans tout le champ d’observation.

Plage de mesure des compensateurs

Compensateur Plage de mesure Utilisation principale
Berek épais (U-CTB) De 0 à 11 000 nm
(20 λ) 		Mesure de niveau de retard d’onde élevé (R*>3λ)
(cristaux, macromolécules, fibres, etc.)
Berek (U-CBE) De 0 à 1640 nm
(3 λ) 		Mesure du niveau de retard d’onde
(cristaux, macromolécules, organismes vivants, etc.)
Compensateur de Senarmont (U-CSE) De 0 à 546 nm
(1 λ) 		Mesure du niveau de retard d’onde (cristaux, organismes vivants, etc.)
Amélioration du contraste d’image (organismes vivants, etc.)
Compensateur de Brace-Köhler
1/30λ (U-CBE2) 		De 0 à 20 nm
(1/30 λ) 		Mesure du contraste d’image (organismes vivants, etc.)
Quartz compensateur (U-CWE2) De 500 à 2200 nm
(4 λ) 		Mesure approximative du niveau de retard d’onde
(cristaux, macromolécules, etc.)

* R = niveau de retard d’onde
Pour une mesure plus précise, il est recommandé d’utiliser les compensateurs (à l’exception du modèle U-CWE2) avec le filtre interférentiel 45-IF546.

Objectifs sans contrainte

Grâce à leur conception élaborée et à notre technologie de fabrication, les objectifs sans contrainte l’UPLFLN-P réduisent la contrainte interne au minimum. Ils apportent ainsi une valeur d’EF (coefficient d’extinction molaire) supérieure, ce qui se traduit par un excellent contraste d’image.

Cliquez ici pour en savoir plus sur les objectifs UPLFLN-P
Cliquez ici pour en savoir plus sur les objectifs PLN-P/ACHN-P
Système BXFM

Système BXFM

Le système BXFM peut être adapté à des applications spéciales ou intégré à d’autres instruments. La conception modulaire permet une adaptation directe à des environnements ou configurations uniques, avec différents systèmes d’éclairage spéciaux et montures de fixation de petite taille.

Conception modulaire : configurez votre propre système

Potences de microscope

Il existe deux potences de microscope, l’une pour les observations en lumière réfléchie, l’autre pour les observations en lumière transmise. Un adaptateur permet de surélever l’illuminateur pour accueillir des échantillons plus hauts.

Lumière réfléchie Lumière transmise Hauteur de l’échantillon
1 BX53MRF-S ■ － De 0 à 65 mm
2 BX53MTRF-S ■ ■ De 0 à 35 mm
1, 3 BX53MRF-S + BX3M-ARMAD ■ － De 40 à 105 mm
2, 3 BX53MTRF-S + BX3M-ARMAD ■ ■ De 40 à 75 mm

Accessoires pratiques pour usage en microscopie

－ HP-2 Presse manuelle
－ COVER-018 Cache anti-poussières

Potences de microscope

Statifs

Pour les applications dans lesquelles l’échantillon ne tient pas sur une platine, l’illuminateur et les optiques peuvent être montés sur une platine plus grande ou sur un autre composant du système.

Configuration d’illuminateur BXFM + BX53M

1 BXFM-F L’interface de la potence est un montant pour fixation murale de 32 mm.
2 BX3M-ILH Porte-illuminateur
3 BXFM-ILHSPU Ressort de comptoir pour BXFM
5 SZ-STL Grand statif

Configuration d’illuminateur BXFM + U-KMAS

1 BXFM-F L’interface de la potence est un montant pour fixation murale de 32 mm.
4 BXFM-ILHS Support U-KMAS
5 SZ-STL Grand statif

Statifs

Têtes d’observation

Pour l’imagerie au microscope à l’aide d’oculaires ou pour l’observation par caméra, sélectionnez les têtes d’observation selon le type d’imagerie et la position de l’opérateur pendant l’observation.

Indice de champ (FN) Type Type d’angle Image Nombre de mécanismes
de réglage dioptrique
1 U-TR30-2 22 Trinoculaire Fixe Inversée 1
2 U-TR30IR 22 Trinoculaire pour IR Fixe Inversée 1
3 U-ETR-4 22 Trinoculaire Fixe Droite －
4 U-TTR-2 22 Trinoculaire Inclinée Inversée －
5 U-SWTR-3 26,5 Trinoculaire Fixe Inversée －
6 U-SWETTR-5 26,5 Trinoculaire Inclinée Droite －
7 U-TLU 22 Port simple － － －
8 U-SWATLU 26,5 Port simple － － －
Têtes d’observation

Systèmes d’éclairage

Le système d’éclairage projette la lumière sur l’échantillon selon la méthode d’observation sélectionnée. Le logiciel communique avec les systèmes d’éclairage codés pour lire la position du cube et reconnaît automatiquement la méthode d’observation.

Systèmes d’éclairage

 Fonction codée Source de lumière BF DF DIC POL IR FL MIX AS/FS
1 BX3M-RLAS-S 3 positions de cube fixes LED — intégrée ■ ■ ■ ■ － － ■ ■
2 BX3M-URAS-S Amovible, 4 positions de cube LED ■ ■ ■ ■ － － ■ ■
Halogène ■ ■ ■ ■ ■ － ■ ■
Guide de lumière/Mercure ■ ■ ■ ■ － ■ ■ ■
3 BX3M-RLA-S

LED ■ ■ ■ ■ － － ■ ■
Halogène ■ ■ ■ ■ ■ － ■ ■
4 BX3M-KMA-S

LED — intégrée ■ － ■ ■ － － ■ －
5 BX3-ARM Bras mécanique pour observation en lumière transmise
6 U-KMAS

LED ■ － ■ ■ － － ■ －
Halogène ■ － ■ ■ ■ － ■ －

Sources de lumière

Sources de lumière et blocs d’alimentation utilisés pour l’éclairage des échantillons. Choisissez la source de lumière appropriée pour la méthode d’observation.

Sources de lumière

Configuration de source de lumière LED standard

1 BX3M-LEDR Boîtier de lampe LED pour lumière incidente
2 U-RCV Convertisseur DF pour BX3M-URAS-S, requis pour l’observation en fond noir et en fond clair si nécessaire
3 BX3M-PSLED Bloc d’alimentation pour boîtier de lampe LED, requiert le système BXFM
4 BX3M-LEDT Boîtier de lampe LED pour observation en lumière transmise

Configuration de source de lumière à fluorescence

5 U-LLGAD Adaptateur pour guide de lumière
2 U-RCV Convertisseur fond noir pour BX3M-URAS-S, requis pour l’observation en fond noir si nécessaire
6 U-LLG150 Guide de lumière, longueur : 1,5 m
7 U-LGPS Source de lumière pour fluorescence
8, 9 U-LH100HG (HGAPO) Boîtier de lampe à mercure pour fluorescence
2 U-RCV Convertisseur fond noir pour BX3M-URAS-S, requis pour l’observation en fond noir si nécessaire
10 U-RFL-T Bloc d’alimentation pour lampe au mercure 100 W

Configuration de source de lumière halogène et infrarouge halogène

11 U-LH100IR Boîtier de lampe halogène pour infrarouge
12 U-RMT Câble d’extension pour boîtier de lampe halogène, longueur de câble de 1,7 m (requiert un câble de rallonge si nécessaire)
13, 14 TH4-100 (200) Bloc d’alimentation répondant à la spécification 100 V (200 V) pour lampe halogène 100 W/50 W
15 TH4-HS Interrupteur de réglage de l’intensité lumineuse de l’halogène (variateur TH4-100 [200]) sans interrupteur)

Tourelles porte-objectifs

Fixation pour objectifs et modules coulissants. Effectuez votre sélection selon le nombre d’objectifs nécessaires et leurs types ; également avec/sans module coulissant.

Tourelles porte-objectifs

 Type Orifices BF DF DIC MIX DES Nombre de
trous de centrage
1 U-P4RE Manuelle 4 ■

■

4
2 U-5RE-2 Manuelle 5 ■

3 U-5RES-ESD Codée 5 ■

■

4 U-D6RE Manuelle 6 ■

■

5 U-D6RES Codée 6 ■

■

6 U-D5BDREMC Motorisée 5 ■ ■ ■ ■

7 U-D6BDRE Manuelle 6 ■ ■ ■ ■

8 U-D5BDRES-ESD Codée 5 ■ ■ ■ ■ ■

9 U-D6BDRES-S Codée 6 ■ ■ ■ ■ ■

10 U-D6REMC Motorisée 6 ■

■

11 U-D6BDREMC Motorisée 6 ■ ■ ■ ■ ■

12 U-D5BDREMC-VA Motorisée 5 ■ ■

Modules coulissants

Utilisez le module coulissant pour compléter l’observation en fond clair conventionnelle. Le module coulissant CID (« DIC » en anglais) permet d’obtenir des informations sur la topographie de l’échantillon et d’optimiser le contraste ou la résolution. Le module coulissant MIX fournit une grande flexibilité d’éclairage grâce à une source d’éclairage LED segmentée intégrée dans la trajectoire du fond noir.

Modules coulissants

Module coulissant CID

Type Longueur du cisaillement Objectifs disponibles
1 U-DICR Standard Moyenne

MPLFLN*1, MPLFLN-BD*2, LMPLFLN, LMPLFLN-BD, MXPLFLN, MXPLFLN-BD, MPLAPON et LCPLFLN-LCD

*1 Les objectifs 1,25x et 2,5x ne prennent pas en charge l’observation en CID.
*2 Les objectifs 2,5x ne prennent pas en charge l’observation en CID.

Glissière MIX

Objectifs disponibles
2 U-MIXR-2 MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD, MPLN-BD, MXPLFLN-BD

Câble

U-MIXRCBL* Câble U-MIXR, longueur du câble : 0,5 m

* MIXR uniquement

Consoles de commande et interrupteurs

Consoles de commande pour l’interfaçage du microscope avec un PC, et interrupteurs de commande manuelle de l’affichage et des composants du microscope.

Configuration BX3M-CB (CBFM)

1 BX3M-CB Console de commande pour le système BX53M
2 BX3M-CBFM Console de commande pour système BXFM
3 BX3M-HS Contrôle d’observation MIX, indicateur de matériel codé, bouton de fonction programmable du logiciel (PRECiV)
4 BX3M-HSRE Rotation de la tourelle porte-objectifs motorisée

Câble

－ BX3M-RMCBL (ECBL) Câble pour tourelle porte-objectifs motorisée, longueur du câble : 0,2 m

Boîtiers de commande et interrupteurs manuels

Platines

Platines et supports de platine pour placement d’échantillon. Effectuez votre choix selon la forme et la taille des échantillons.

Platines

Configuration de platine de 150 × 100 mm

1 U-SIC64 Platine à molette supérieure plane de 150 × 100 mm
2 U-SHG (T) Poignée de commande en caoutchouc de silicone pour un confort amélioré (type épais)
3 U-SP64 Support de platine pour U-SIC64
4 U-WHP64 Support pour wafer U-SIC64
5 BH2-WHR43 Support de wafer de 4-3 pouces
6 BH2-WHR65 Support de wafer de 6-5 pouces
7 U-SPG64 Plaque de verre pour U-SIC64

Configuration de platine de 76 × 52 mm

12 U-SVR M Platine à molette à droite de 76 × 52 mm
2 U-SHG (T) Poignée de commande en caoutchouc de silicone pour un confort amélioré (modèle épais)
13 U-MSSP Support de platine pour U-SVR (/L) M
14, 15 U-HR (L) D-4 Support de lame fine pour ouverture à droite (gauche)
16, 17 U-HR (L) DT-4 Porte-lame épais pour l’ouverture droite (gauche), pour presser la lame de verre sur la surface supérieure de la platine, l’échantillon est difficile à soulever

Configuration de platine de 100 × 100 mm

8 U-SIC4R 2 Platine à molette à droite de 105 × 100 mm
9 U-MSSP4 Support de platine pour U-SIC4R (L) 2
10 U-WHP2 Support pour wafer pour U-SIC4R (L) 2
5 BH2-WHR43 Support de wafer de 4-3 pouces
11 U-MSSPG Plaque de verre pour U-SIC4R

Autres

18 U-SRG2 Platine rotative
19 U-SRP Platine rotative pour POL, peut être tournée à 45° dans toutes les positions, butée d’arrêt
20 U-FMP Platine mécanique pour U-SRP/U-SRG

Adaptateurs pour caméra

Adaptateurs pour l’observation par caméra. Effectuez votre choix selon le champ d’observation et le grossissement requis. La plage d’observation réelle peut être calculée à l’aide de la formule suivante : champ d’observation réel (diagonale en mm) = champ d’observation (valeur d’observation) ÷ grossissement de l’objectif.

Adaptateurs pour caméra

 Grossissement Réglage du centrage Surface d’image CCD (numéro de champ)
2/3 po 1/1,8 po 1/2 po
1 U-TV1x-2 avec U-CMAD3 1 － 10,7 8,8 8
2 U-TV1XC 1 ø 2 mm 10,7 8,8 8
3 U-TV0.63xC 0,63 － 17 14 12,7
4 U-TV0.5xC-3 0,5 － 21,4 17,6 16
5 U-TV0.35xC-2 0,35 － － － 22

Oculaires

Oculaires pour observation directe au microscope. Effectuez votre choix selon le champ d’observation souhaité.

Indice de champ (FN) [mm] Mécanisme de réglage dioptrique Réticule de visée intégré
1 WHN10x 22

2 WHN10X-H 22 ■

3 CROSS WHN10x 22 ■ ■
4 SWH10x-H 26,5 ■

5 CROSS SWH10x 26,5 ■ ■
Oculaires

Filtres optiques

Les filtres optiques convertissent la lumière d’exposition de l’échantillon en différents types d’éclairage. Choisissez le filtre adapté au type d’observation.

Filtres optiques

BF (fond clair), DF (fond noir), FL (fluoresence)

1, 2 U-25ND25,6 Filtre à densité neutre, facteur de transmission 25 %, 6 %
3 U-25LBD Filtre couleur lumière du jour
4 U-25LBA Filtre couleur halogène
5 U-25IF550 Filtre vert
6 U-25L42 Filtre anti-UV
7 U-25Y48 Filtre jaune
8 U-25FR Filtre de Frost
(obligatoire pour le BX3M-URAS-S)

POL, DIC

9 U-AN-2 Direction fixe de la lumière polarisée
10 U-AN360-3 Direction rotative de la lumière polarisée
11 U-AN360P-2 La direction de la lumière polarisée de haute qualité est rotative.
12 U-PO3 Direction fixe de la lumière polarisée
13 45-IF546 Filtre vert pour POL de ø45 mm

IR

14 U-AN360IR Direction rotative de la lumière polarisée IR (réduit le halo en observation IR lors d’une utilisation en association avec U-AN360IR et U-POIR)
15 U-POIR Direction fixe de la lumière polarisée IR
16 U-BP1100IR Filtre passe-bande : 1100 nm
17 U-BP1200IR Filtre passe-bande : 1200 nm

Lumière transmise

18 43IF550-W45 Filtre vert de ø 45 mm
19 U-POT Filtre de polariseur

Autres

20 U-25 Filtre vide, à utiliser avec les filtres de 25 mm de diamètre de l’utilisateur

* AN et PO ne sont pas nécessaires lors de l’utilisation du BX3M-RLAS-S et de l’U-FDICR

Condenseurs

Les condenseurs recueillent et concentrent la lumière transmise. À utiliser pour la microscopie en lumière transmise.

1 U-AC2 Condenseur d’Abbe (disponible pour les objectifs 5x et plus)
2 U-SC3 Condenseur pivotant (disponible pour les objectifs 1,25x et plus)
3 U-LWCD Condenseur à grande distance frontale pour plaque en verre
 (U-MSSPG, U-SPG64)
4 U-POC-2 Condenseur pivotant pour observation en polarisation (POL)
Condenseurs

Cubes de miroirs

Cube de miroirs pour bloc projecteur de lumière BX3M-URAS-S. Choisissez le cube adapté au type d’observation.

1 U-FBF Pour observation en fond clair (BF), filtre ND amovible
2 U-FDF Pour observation en fond noir (DF)
3 U-FDICR Pour observation en lumière polarisée (POL) ; la position du Nicol croisée est fixe
4 U-FBFL Pour observation en fond clair (BF), filtre à densité neutre (ND) intégré (il est nécessaire d’utiliser les méthodes BF* et FL)
5 U-FWUS Pour observation en fluorescence (FL) ultraviolette : BP330-385 BA420 DM400
6 U-FWBS Pour observation en fluorescence (FL) bleue : BP460-490 BA520IF DM500
7 U-FWGS Pour observation en fluorescence (FL) verte : BP510-550 BA590 DM570
8 U-FF Cube de miroirs vide

* Pour éclairage épiscopique coaxial uniquement

Cubes de miroirs

Têtes d’observation intermédiaires

Une gamme d’accessoires adaptés à de multiples utilisations. Pour l’utilisation entre la tête d’observation et le système d’éclairage.

1 U-CA Changeur de grossissement (1x, 1,25x, 1,6x, 2x)
2 U-TRU Tête intermédiaire trinoculaire
Têtes d’observation intermédiaires

Objectifs UIS2

Les objectifs assurent le grossissement de l’échantillon. Sélectionnez l’objectif qui correspond à la distance frontale, au pouvoir de résolution et à la méthode d’observation pour l’application envisagée.

Cliquez ici pour en savoir plus sur les objectifs UIS2

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