配置 | Olympus IMS

信頼のモジュール式システム設計を、
かつてないシンプルさでご提案

お使いのサンプルや必要なアプリケーションに応じ、６つのパッケージをご用意しています。

汎用パッケージ			専用パッケージ

Entry 基本機能を搭載したエントリー	Standard 汎用的、且つシンプル操作のスタンダード	Advanced 新開発のMIX観察を備えたアドバンス	Fluorescence 多彩な観察方法を備えた蛍光観察セット	Infrared ICチップの内部観察に最適なIR観察セット	Polarization 複屈折の特性を可視化する偏光観察セット
_{LCDカラーフィルター} ^{（透過明視野観察）}	_{金属結晶粒} ^{（暗視野観察）}	_{コイルの銅線} ^{（明視野+暗視野のMIX観察）}	_{ICパターン上のレジスト} ^{（蛍光+暗視野のMIX観察）}	_{シリコン層化のICパターン} ^{（IR観察）}	_{アスベスト} ^{（偏光観察）}

仕様表を見る

	Entry	Standard	Advanced	Fluorescence	Infrared	Polarization
顕微鏡本体	落射仕様もしくは落射・透過仕様		落射仕様もしくは落射・透過仕様		落射仕様	透過仕様
標準	R-BF または T-BF	R-BF または T-BF または DF	R-BF または T-BF または DF または MIX	R-BF または T-BF または DF または FL	R-BF または IR	T-BF または POL
オプション	DIC	DIC/MIX	DIC	DIC/MIX	－	－
シンプル投光管	－			－	－	－
指標付き絞り	－				－
コード機能付きユニット	－				－
ピントあわせ指標
ライトマネージャー				－	－
ハンドスイッチ操作					－	－
MIX観察					－	－
対物レンズ	サンプル形状に応じて、3つのセットから選択		サンプル形状に応じて、3つのセットから選択		IR観察用対物レンズ	偏光観察用対物レンズ
ステージ	サンプルサイズに応じて、5つのセットから選択		またはサンプルサイズに応じて、5つのセットから選択			偏光観察用ステージ

観察方法

R-BF：明視野（落射）
T-BF：明視野（透過/落射）
DF：暗視野
DIC：微分干渉/簡易偏光
MIX：MIX
FL：蛍光
IR：赤外線
POL：偏光

_{*落射・透過仕様の本体をお使いの場合は透過明視野観察も可能です。}

: 標準
: オプション

組み合わせ紹介

モジュール式システム設計により、サンプルやアプリケーションに応じたカスタマイズが可能です。

BX53Mシステム BX53Mは、落射照明専用および落射／透過照明の2種類の顕微鏡フレームを用意しています。工業用途で必要とされる代表的な観察法（明視野、暗視野、微分干渉、MIX、簡易偏光、蛍光、透過明視野）を利用できます。	_{BX53MRF-S組み合わせ例}	_{BX53MTRF-S組み合わせ例}

BX53Mシステム

BX53Mは、落射照明専用および落射／透過照明の2種類の顕微鏡フレームを用意しています。工業用途で必要とされる代表的な観察法（明視野、暗視野、微分干渉、MIX、簡易偏光、蛍光、透過明視野）を利用できます。

BX53MRF-S組み合わせ例

_{BX53MRF-S組み合わせ例}

BX53MTRF-S組み合わせ例

_{BX53MTRF-S組み合わせ例}

	BX53M IR観察（落射）赤外（IR）光によって、可視光を通さない実装されたICチップなどの内部観察ができます。また、可視域から近赤外域まで収差補正した5～100Xの対物レンズを、ラインアップとして揃えています。特に20X以上の対物レンズでは、観察対象物を覆うシリコン層によって生じる収差を補正環によって補正し、クリアな像を得ることができます。 IR用対物レンズについてさらに詳しく

BX53M IR観察（落射）

赤外（IR）光によって、可視光を通さない実装されたICチップなどの内部観察ができます。また、可視域から近赤外域まで収差補正した5～100Xの対物レンズを、ラインアップとして揃えています。特に20X以上の対物レンズでは、観察対象物を覆うシリコン層によって生じる収差を補正環によって補正し、クリアな像を得ることができます。

IR用対物レンズについてさらに詳しく

BX53M偏光観察（透過）偏光特性を考慮した光学系を持つBX53M偏光では、鉱物や結晶の観察やリタデーションの測定が可能です。さらに、回転ステージや心出しレボによる調整機能で対物切り替え時の像ずれを抑え、観察を容易にします。	_{BX53Mオルソスコープ組み合わせ}	_{BX53Mコノスコープ／オルソスコープ組み合わせ}

BX53M偏光観察（透過）

偏光特性を考慮した光学系を持つBX53M偏光では、鉱物や結晶の観察やリタデーションの測定が可能です。さらに、回転ステージや心出しレボによる調整機能で対物切り替え時の像ずれを抑え、観察を容易にします。

BX53Mオルソスコープ組み合わせ

_{BX53Mオルソスコープ組み合わせ}

BX53Mコノスコープ／オルソスコープ組み合わせ

_{BX53Mコノスコープ／オルソスコープ組み合わせ}

鮮明なオルソスコープ像・コノスコープ像コノスコープ観察ユニットU-CPAの使用により、簡単な操作でオルソスコープ、コノスコープの切り換えや、コノスコープ像のフォーカシングが可能です。また、ベルトラン絞りの採用により、試料の微小範囲でもシャープなコノスコープ像が観察できます。

鮮明なオルソスコープ像・コノスコープ像

コノスコープ観察ユニットU-CPAの使用により、簡単な操作でオルソスコープ、コノスコープの切り換えや、コノスコープ像のフォーカシングが可能です。また、ベルトラン絞りの採用により、試料の微小範囲でもシャープなコノスコープ像が観察できます。

	コンペンセーターと波長板の豊富なラインアップ鋭敏色板・1/4波長板および5種類のコンペンセーターをラインアップし、極微小量から最大20λまでの幅広い範囲でのレタデーション量の測定に対応します。

コンペンセーターと波長板の豊富なラインアップ

鋭敏色板・1/4波長板および5種類のコンペンセーターをラインアップし、極微小量から最大20λまでの幅広い範囲でのレタデーション量の測定に対応します。

コンペンセーターの測定範囲

コンペンセーター	測定範囲	各種用途
U-CTB厚肉ベレック	0～11,000nm （20λ）	大きなレタデーションの測定（R*>3λ）、（結晶、高分子、繊維、光弾性歪み等）
U-CBEベレック	0～1,640nm （3λ）	レタデーションの測定（結晶、高分子、繊維、生体組織等）
U-CSEセナルモン	0～546nm （1λ）	レタデーションの測定（結晶、生体組織等）コントラストの増強（生体組織等）
U-CBE2ブレースケーラ1/30λ	0～20nm （1/30λ）	微小なレタデーションの測定（結晶、生体組織等）コントラストの増強（生体組織等）
U-CWE2石英くさび	500～2,200nm （4λ）	レタデーションの概測（結晶、高分子等）

_{*R = レタデーション量}
_{測定の精度を上げるには、コンペンセーター（U-CWE2を除く）を干渉フィルター45-IF546と併用することをお勧めします。}

歪みの少ない光学系

設計・製造技術により、対物レンズやコンデンサーの光学歪を極限まで除去しました。これにより偏光性能を向上させ、コントラストの良い偏光観察を実現しました。

対物レンズUPLFLN-Pについてさらに詳しく

対物レンズPLN-P/ACHN-Pについてさらに詳しく

	BXFMシステム落射投光管と焦準機構を一体化したコンパクトな構成です。お客さまの装置に組み込んだり、ステージに載らないサンプルも観察できます。BX53Mのすべての落射観察およびLED照明が選択できます。

BXFMシステム

落射投光管と焦準機構を一体化したコンパクトな構成です。お客さまの装置に組み込んだり、ステージに載らないサンプルも観察できます。BX53Mのすべての落射観察およびLED照明が選択できます。

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