Zastosowany w mikroskopie algorytm skanowania dostarcza danych o wysokiej jakości i działa szybko, przez co czas skanowania jest krótszy, a praca przebiega sprawniej. |
Próbka o wysokości 80 nm (standard VLSI) (MPLFLN10XLEXT) | W mikroskopie OLS5000 zastosowano algorytm PEAK do rekonstrukcji danych 3D. Algorytm ten generuje dane o dużej dokładności z obrazów o szerokim zakresie powiększeń oraz skraca czas akwizycji. |
Mierząc kształt uskoków na próbkach zawierających płaszczyzny prawie pionowe, takiej jak elementy elektroniczne lub mikroukłady elektromechaniczne (MEMS), można skrócić czas akwizycji danych poprzez ograniczenie zakresu skanowania w osi Z.
|
|
Informacje podane na tej stronie, w tym gwarancja dokładności, obowiązują pod warunkami określonymi przez firmę Olympus.