技术支持

速度

Szybkie skanowanie: krótki czas oczekiwania na odpowiedź

Zastosowany w mikroskopie algorytm skanowania dostarcza danych o wysokiej jakości i działa szybko, przez co czas skanowania jest krótszy, a praca przebiega sprawniej.


Algorytm PEAK

Algorytm PEAK

Próbka o wysokości 80 nm (standard VLSI) (MPLFLN10XLEXT) 

W mikroskopie OLS5000 zastosowano algorytm PEAK do rekonstrukcji danych 3D. Algorytm ten generuje dane o dużej dokładności z obrazów o szerokim zakresie powiększeń oraz skraca czas akwizycji.


Pomijanie skanowania

Mierząc kształt uskoków na próbkach zawierających płaszczyzny prawie pionowe, takiej jak elementy elektroniczne lub mikroukłady elektromechaniczne (MEMS), można skrócić czas akwizycji danych poprzez ograniczenie zakresu skanowania w osi Z.
Uskok o rozmiarze 700 μm można zmierzyć w ciągu zaledwie 15 sekund bez pogorszenia dokładności (pod warunkiem użycia obiektywu MPLAPON20x). 


Inne techniki zwiększające szybkość

  • Skanowanie pasmowe
  • Akwizycja danych z 1 linii

Pobierz broszurę

Informacje podane na tej stronie, w tym gwarancja dokładności, obowiązują pod warunkami określonymi przez firmę Olympus.

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country