Sistema modular altamente confiávelSeis configurações sugeridas do BX53M proporcionam flexibilidade para você escolher os recursos que precisa. |
| Uso geral | Uso exclusivo | |||||||||
Entry (Básico)Fácil de configurar com recursos básicos | Standard (Padrão)
Fácil de usar com
| Advanced (Avançado)Compatível com vários recursos avançados | Fluorescence (Fluorescência)
Ideal para a
| Infrared (Infravermelho)Projetado para observação por infravermelho para inspeção de circuitos integrados | Polarization (Polarização)Projetada para observar características de birrefringência | |||||
Filtro de cores LCD |
Microestrutura com grãos |
Fio de cobre da bobina |
Resistência no padrão do CI |
Padrão do CI com camadas de silício |
Amianto | |||||
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Ver quadro de especificações
| Entry (Básico) | Standard (Padrão) | Advanced (Avançado) | Fluorescence (Fluorescência) | Infrared (Infravermelho) | Polarization (Polarização) | |
| Estativa do microscópio | Refletida ou refletida/transmitida | Refletida ou refletida/transmitida | Refletida | Transmitida | ||
| Standard (Padrão) | R-BF ou T-BF | R-BF ou T-BF ou DF | R-BF ou T-BF ou DF ou MIX | R-BF ou T-BF ou DF ou FL | R-BF ou IV | T-BF ou POL |
| Opcional | DIC | DIC/MIX | DIC | DIC/MIX | - | - |
| Iluminador simples | - | ![]() | ![]() | - | - | - |
| Legenda da abertura | - | ![]() | ![]() | ![]() | - | ![]() |
| Hardware codificado | - | ![]() | ![]() | ![]() | - | ![]() |
| Índice de escala de foco | ![]() | ![]() | ![]() | ![]() | ![]() | ![]() |
| Gerenciador da intensidade de luz | ![]() | ![]() | ![]() | - | - | ![]() |
| Operação com controlador manual | ![]() | ![]() | ![]() | ![]() | - | - |
| Observação MIX | ![]() | ![]() | ![]() | ![]() | - | - |
| Objetivas | Selecione dentre 3 objetivas com base em suas aplicações | Selecione dentre 3 objetivas com base em suas aplicações | Objetivas para IV | Objetivas para POL | ||
| Platina | Selecione dentre 5 platinas com base no tamanho das suas amostras | Selecione dentre 5 platinas com base no tamanho das suas amostras | Platina para POL | |||
MÉTODO DE OBSERVAÇÃO
R-BF: Campo claro (refletido)
*O T-BF pode ser usado ao selecionar a estativa do microscópio Refletida/Transmitida.
39■40: Padrão
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Exemplos de configurações para Ciência dos Materiais
O design modular viabiliza várias configurações para atender aos requisitos do usuário.
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Combinação de luz refletida e luz refletida/transmitida do BX53MHá dois tipos de estativas do microscópio na série BX3M, uma orientada somente para a luz refletida e outra para a luz refletida e transmitida. Ambas as estativas podem ser configuradas com componentes manuais, codificadas ou motorizadas. As estativas são equipadas com capacidade contra descarga eletrostática (ESD) para a proteção de amostras eletrônicas. |
Exemplo de configuração do BX53MRF-S |
Exemplo de configuração do BX53MTRF-S |
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![]() | Combinação de IV do BX53MAs objetivas IV podem ser usadas em aplicações de inspeção, medição e processamento de semicondutores, em que é necessária a formação de imagens através de silício para visualizar o padrão. Oferecemos objetivas de infravermelho (IV) 5X a 100X com correção de aberração cromática para comprimentos de onda desde luz visível até infravermelho-próximo. Para trabalhos de alta ampliação, a rotação do colar de correção da série de lentes LCPLNIR corrige as aberrações causadas pela espessura da amostra. É obtida uma imagem nítida com uma única objetiva. Clique aqui para obter detalhes sobre lentes objetivas de IV |
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Combinação de luz polarizada do BX53MA óptica de luz polarizada do BX53M oferece aos geólogos as ferramentas certas para a formação de imagens de luz polarizada de alto contraste. Aplicações como identificação mineral, investigação de caraterísticas ópticas de cristais e observação de cortes de rocha sólida se beneficiam da estabilidade do sistema e do alinhamento óptico preciso. |
BX53-P com configuração ortoscópica |
BX53-P com configuração conoscópica/ortoscópica |
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Lentes Bertrand para observações conoscópicas e ortoscópicasCom um acessório de observação conoscópica U-CPA, a comutação entre a observação ortoscópica e conoscópica é rápida e simples. O equipamento tem ajuste de foco para uma visualização clara dos padrões de interferência do plano focal posterior. O limitador de campo visual Bertrand torna possível a captura consistente de imagens conoscópicas claras e nítidas. | ![]() |
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![]() | Uma grande variedade de compensadores e placas de ondaCinco compensadores diferentes estão disponíveis para medições de birrefringência em cortes finos de rochas e minerais. O nível de retardo de medição varia de 0 a 20 λ. Para medições mais simples e contrastes de imagens mais altos, é possível usar os compensadores Berek e Senarmont, que alteram o nível de retardo em todo o campo de visão. |
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Intervalo de medição dos compensadores
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*R = nível de retardo |
Ópticas livres de tensãoGraças à nossa sofisticada tecnologia de design e fabricação, as objetivas livres de tensão UPLFLN-P reduzem a tensão interna ao mínimo. Isso resulta em um valor de EF mais alto, proporcionando um excelente contraste na imagem. | Clique aqui para obter detalhes sobre as lentes objetivas UPLFLN-PClique aqui para obter detalhes sobre as lentes objetivas PLN-P/ACHN-P |
![]() | Sistema BXFMO sistema BXFM pode ser adaptado a aplicações especiais ou integrado a outros instrumentos. A construção modular oferece uma adaptação simples a ambientes e configurações exclusivos com uma variedade de pequenos iluminadores especiais e suportes de fixação. |
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Design modular, construa seu sistema à sua maneira |
Estativas de microscópioExistem duas estativas de microscópio orientadas para a luz refletida, uma delas também apresenta capacidade de luz transmitida. Está disponível um adaptador para elevar o iluminador, a fim de acomodar amostras mais altas.
Acessórios úteis para a utilização em microscopia
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SuportesPara aplicações de microscopia nas quais a amostra não se adapta à platina, o iluminador e as ópticas podem ser montados em um suporte maior ou em outro equipamento. Configuração do iluminador BXFM + BX53M
Configuração do iluminador BXFM + U-KMAS
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TubosPara imagens microscópicas com oculares ou para observação da câmera, selecione os tubos por tipo de imagem e postura do operador durante a observação.
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IluminadoresO iluminador projeta luz para a amostra com base no método de observação selecionado. Interfaces de software com iluminadores codificados para ler a posição dos cubos e reconhecer automaticamente o método de observação. | ![]() |
| Função codificada | Fonte de luz | BF | DF | DIC | POL | IV | FL | MIX | AS/FS | ||
| 1 | BX3M-RLAS-S | Posição 3 do cubo fixa | LED - integrado | ■ | ■ | ■ | ■ | - | - | ■ | ■ |
| 2 | BX3M-URAS-S | Posição 4 do cubo anexável | LED | ■ | ■ | ■ | ■ | - | - | ■ | ■ |
| Halogênio | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | - | ■ | ■ | |||
| Mercúrio/orientação de luz | ■ | ■ | ■ | ■ | - | ■ | ■ | ■ | |||
| 3 | BX3M-RLA-S | LED | ■ | ■ | ■ | ■ | - | - | ■ | ■ | |
| Halogênio | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | - | ■ | ■ | |||
| 4 | BX3M-KMA-S | LED - integrado | ■ | - | ■ | ■ | - | - | ■ | - | |
| 5 | BX3-ARM | Braço mecânico para luz transmitida | |||||||||
| 6 | U-KMAS | LED | ■ | - | ■ | ■ | - | - | ■ | - | |
| Halogênio | ■ | - | ■ | ■ | ■ | - | ■ | - | |||
Fontes de luzFontes de luz e fontes de alimentação para iluminação de amostras, selecione a fonte de luz apropriada para o método de observação. | ![]() |
Configuração de recursos de luz LED padrão
Configuração de recursos de luz de fluorescência
| Configuração de recursos de luz de halogênio IV e halogênio
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Porta-objetivasAcessório para objetivas e deslizadores. Selecione pelo número e tipo de objetivas necessárias; também com/sem acessório deslizador. | ![]() |
| Tipo | Orifícios | BF | DF | DIC | MIX | ESD |
Número de
orifícios centrais | ||
| 1 | U-P4RE | Manual | 4 | ■ | ■ | 4 | |||
| 2 | U-5RE-2 | Manual | 5 | ■ | |||||
| 3 | U-5RES-ESD | Codificado | 5 | ■ | ■ | ||||
| 4 | U-D6RE | Manual | 6 | ■ | ■ | ||||
| 5 | U-D6RES | Codificado | 6 | ■ | ■ | ||||
| 6 | U-D5BDREMC | Motorizado | 5 | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
| 7 | U-D6BDRE | Manual | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
| 8 | U-D5BDRES-ESD | Codificado | 5 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| 9 | U-D6BDRES-S | Codificado | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| 10 | U-D6REMC | Motorizado | 6 | ■ | ■ | ||||
| 11 | U-D6BDREMC | Motorizado | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| 12 | U-D5BDREMC-VA | Motorizado | 5 | ■ | ■ |
DeslizadoresSelecione o deslizador para complementar a observação de campo luminoso tradicional. O deslizador DIC fornece informações topográficas sobre a amostra com opções para maximizar o contraste ou a resolução. O deslizador MIX fornece flexibilidade de iluminação com uma fonte LED segmentada na trajetória do campo escuro. | ![]() |
Deslizador DIC
*1 1,25X e 2,5X não são compatíveis com a observação por contraste de interferência diferencial (DIC).
Deslizador MIX
| Cabo
*Apenas MIXR |
Caixa de comando e controladores manuaisCaixas de comando para possibilitar a interface do hardware do microscópio com um PC e controladores manuais para a exibição e controle do hardware. Configuração do BX3M-CB (CBFM)
Cabo
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PlatinasPlatinas e placas de platinas para posicionamento de amostras. Selecione com base na forma e tamanho da amostra. | ![]() |
Configuração da platina de 150 mm × 100 mm
Configuração da platina de 76 mm × 52 mm
| Configuração da platina de 100 mm × 100 mm
Outros
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Adaptadores de câmeraAdaptador para observação de câmera. Selecionável a partir do campo de visão e ampliação necessários. O alcance de observação real pode ser calculado usando esta fórmula: campo de visão real (diagonal em mm) = campo de visão (número de visão) ÷ aumento da objetiva. |
| Aumento | Ajuste central | Área de imagem CCD (número de campo) mm | ||||
| 2/3 polegadas | 1/1,8 polegadas | 1/2 polegadas | ||||
| 1 | U-TV1x-2 com U-CMAD3 | 1 | - | 10,7 | 8,8 | 8 |
| 2 | U-TV1xC | 1 | ø2 mm | 10,7 | 8,8 | 8 |
| 3 | U-TV0.63xC | 0,63 | - | 17 | 14 | 12,7 |
| 4 | U-TV0.5xC-3 | 0,5 | - | 21,4 | 17,6 | 16 |
| 5 | U-TV0.35xC-2 | 0,35 | - | - | - | 22 |
OcularesOcular para visualização direta no microscópio. Selecione com base no campo de visão pretendido.
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Filtros ópticosOs filtros ópticos convertem a luz de exposição da amostra em vários tipos de iluminação. Selecione o filtro apropriado para os requisitos de observação. | ![]() |
BF, DF, FL
POL, DIC
| IV
Luz transmitida
Outros
*AN e PO não são necessários ao usar o BX3M-RLAS-S e a U-FDICR |
CondensadoresOs condensadores coletam e focam a luz transmitida. Utilize para a observação de luz transmitida.
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Unidades de espelhoUnidade de espelho para o BX3M-URAS-S. Selecione a unidade para a observação necessária.
*Apenas para iluminação episcópica coaxial | ![]() |
Tubos intermediáriosVários tipos de acessórios para múltiplas finalidades. Para usar entre o tubo e o iluminador.
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Objetivas UIS2As objetivas ampliam a amostra. Selecione a objetiva correspondente à distância de trabalho, poder de resolução e método de observação para a aplicação. Clique aqui para obter detalhes sobre as lentes objetivas UIS2 |




































