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显微镜解决方案
您的系统

自定义软件包

Stream Enterprise数据管理软件专为我们的显微镜开发,是一款强大且易用的测量工具。配合传统显微镜使用时,您无需手动记录UIS2物镜的光学参数。从我们的DSX和LEXT显微镜导入图像时,也不需要校准放大倍率。入门级到高级软件包均可使用该软件。


奥林巴斯Stream软件包

奥林巴斯Stream软件根据功能分为四个软件包—Start、Basic、Essentials和Motion。
可以添加应用专用材料解决方案模块,以简化重复分析任务。奥林巴斯代表可以帮助您确定适合您的软件包。

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与大多数Evident光学显微镜无缝集成

控制正置显微镜

BX53M显微镜及软件系统

BX53M显微镜及软件系统

BX53M显微镜采用编码功能,将显微镜的硬件设置与Stream Enterprise数据管理软件集成在一起。观察方法、照明强度和物镜位置均由软件和/或手机记录。显微镜设置可以与每个图像一起自动保存,便于以后复制设置,并提供用于报告的文档。

查看正置显微镜


控制倒置显微镜

GX53显微镜及软件系统

GX53显微镜及软件系统

我们的数码摄像头提供高分辨率观察和快速图像传输功能,而我们的软件提供了满足当今复杂冶金需求所需的所有工具。
从扩展测量、标准金相学和高级金相学应用专用模块中进行选择(有十几个应用专用例行程序可供选择),并自动填充数据和创建符合常见ASTM和ISO规格的报告。

查看倒置显微镜


控制半导体显微镜

集成的显微镜及软件系统

集成的显微镜及软件系统

我们提供了多个软件平台,可与我们的半导体显微镜框架集成,以控制所有电动功能,包括数码相机和电动工作台。每个界面设计用于基本检查和控制、高级图像分析或重复现场检查和缺陷检查。

查看半导体显微镜


控制立体显微镜

SZX16显微镜及软件系统

SZX16显微镜及软件系统

我们的立体显微镜电动对焦驱动装置使数字文档具有扩展对焦成像(EFI)高效和全自动特征。这甚至可以创建伪3D图像。该软件提供了用于简单2D测量到复杂相位分析的工具,并支持许多操作,包括观察、报告生成、数据库创建和归档。

查看体视显微镜


增强Evident共焦显微镜和数码显微镜的功能

在全套DSX系列数码显微镜和LEXT 3D测量激光显微镜的配合下,使用Stream Enterprise数据管理软件(Stream Enterprise桌面版)进行后处理。

LEXT 3D测量激光显微镜

LEXT 3D测量激光显微镜

DSX数码显微镜系列

DSX数码显微镜系列

查看LEXT 3D测量激光显微镜
查看DSX数码显微镜


支持大多数Evident数码摄像头

分辨率和色彩保真度

900万像素传感器的低噪声、高分辨率图像使用户能够深入放大样品,揭示其结构(砂岩)

900万像素传感器的低噪声、高分辨率图像使用户能够深入放大样品,揭示其结构(砂岩)

出色的空间分辨率与高像素数相结合,利用物镜的全光学分辨率,即使使用低倍率物镜,也能对最小样品内的结构和细节进行成像。高分辨率图像使您能够在不使用目镜的情况下仅在屏幕上进行观察。

通过红外(IR)成像显示更多信息

使用DP23M单色摄像头在5倍放大倍率下采集的明场图像, a.明场图像5倍 b.)红外图像5倍(BP1100 nm滤光片), c.)剪裁细节20倍红外, d.)剪裁细节20倍红外,采用DCE过滤

使用DP23M单色摄像头在5倍放大倍率下采集的明场图像,
a.明场图像5倍
b.)红外图像5倍(BP1100 nm滤光片),
c.)剪裁细节20倍红外,
d.)剪裁细节20倍红外,采用DCE过滤

红外成像模式是质量控制和研发实验室的基本工具。红外模式可以在制造的后端阶段通过封装产品的硅层进行无损检测。

查看数码摄像头


材料科学专用观察方法

HDR成像增强对比度

高动态范围(HDR)成像改善了困难条件下的图像对比度(同一图像中非常明亮的区域和非常黑暗的区域)。Stream Enterprise数据管理软件支持的所有摄像头都可在此模式下使用,且专用摄像头可使用实时模式。

HDR下清晰显示露的黑暗和明亮部分(样品:燃料喷射器灯泡)

HDR下清晰显示露的黑暗和明亮部分(样品:燃料喷射器灯泡)

HDR下对比度的增强(样品:菱镁矿石片)

HDR下对比度的增强(样品:菱镁矿石片)


MIX观察以显示样品的表面结构

软件支持MIX观察

这种照明技术结合了定向暗场(使用圆形LED在给定时间照亮一个或多个象限)和明场、荧光或偏振,使您能够突出缺陷,并将凸起表面与常规显微镜通常难以看到的凹陷进行区分。MIX观察有助于减少样品的光晕,并有助于显示样品的表面纹理。

传统:明场将光线直接照射在样品上,而传统的暗场通过从物镜侧面照亮样品来突出平面上的划痕和缺陷

传统:明场将光线直接照射在样品上,而传统的暗场通过从物镜侧面照亮样品来突出平面上的划痕和缺陷

高级:MIX是由一圈LED组成的 明场和定向暗场的组合; 可以调整LED 以选择照明方向

传统:明场将光线直接照射在样品上,而传统的暗场通过从物镜侧面照亮样品来突出平面上的划痕和缺陷

高级:MIX是由一圈LED组成的
明场和定向暗场的组合;
可以调整LED
以选择照明方向

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