时事报道

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Strategic Partnership Dramatically Improves Efficiency And Timeliness
奥林巴斯公司推出了IPLEX RX和IPLEX RT工业视频内窥镜。它拥有独特的PulsarPic™图像处理器,能够产生卓越的高清晰图像。
Olympus presenta l’Xpert, un analizzatore XRF compatto e trasportabile per i programmi di verifica della conformità alle normative RoHS e dei prodotti di consumo
Olympus presenta i nuovi software e le nuove soluzioni per i moduli relativi all’Eddy Current Array e e al controllo dell’aderenza in materiali compositi usati con il rilevatore di difetti OmniScan MX
Un nuovo software modulare per la corrosione è disponibile con il rilevatore di difetti ad ultrasuoni EPOCH 600 per semplificare le ispezioni di corrosione.
Olympus presenta il rilevatore di difetti OmniScan SX, uno strumento leggero con eccellenti caratteristiche di portatilità e affidabilità
Olympus presenta il sistema DELTA Window Guard™ per gli analizzatori XRF portatili per leghe
Release of New Industrial Laser Microscope for 3D Surface Measurement LEXT OLS4100
Olympus Corporation is pleased to announce the coming launch on June 3 of the LEXT OLS4500 Nano Search Microscope.
奥林巴斯为体型小巧的IPLEX UltraLite内窥镜增添了立体测量功能
Olympus introduces an internal Working Channel scope model additionally to the compact and versatile IPLEX LX videoscope.
Olympus introduces an internal Working Channel scope model additionally to the compact and versatile IPLEX LX videoscope.
Olympus Awards an Education and Research Grant to Ripon College, Ripon, WI
DSX series gains international recognition at design awards
Olympus presenta un nuovo analizzatore XRF portatile, il DELTA Professional con tecnologia X-act Count
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