Evident LogoOlympus Logo
洞见博客

Optymalizacja procesu kontroli czystości technicznej

作者  -

Co należy brać pod uwagę przy wyborze systemu kontroli czystości

Kontrola czystości technicznej jest jednym z kluczowych komponentów większości procesów w produkcji przemysłowej. Ta skomplikowana procedura obejmuje szereg czynności przygotowawczych i inspekcyjnych. Poniżej znajduje się krótki przegląd tego procesu:

  • Przygotowanie
    • Mycie części
    • Ekstrakcja i filtracja
    • Suszenie i ważenie
  • Inspekcja
    • Akwizycja obrazów
    • Detekcja cząstek
    • Pomiar rozmiaru cząstek i klasyfikacja cząstek
    • Ekstrapolacja i normalizacja liczby cząstek
    • Obliczenie poziomu zanieczyszczenia
    • Zdefiniowanie kodu czystości
    • Kontrola maksymalnej dopuszczalności
    • Separacja cząstek odblaskowych i nieodblaskowych
    • Identyfikacja włókien
    • Przegląd wyników
    • Utworzenie raportu

Można podjąć szereg różnych środków, aby zoptymalizować tę wieloetapową procedurę i w sposób powtarzalny uzyskiwać wiarygodne wyniki kontroli. Poniżej przedstawiamy kilka czynników, które warto wziąć pod uwagę, inwestując w system kontroli czystości technicznej:

Wytrzymałość komponentów systemu / stała konfiguracja systemu
Warto szukać systemu dostarczanego „pod klucz” w stałej konfiguracji, który będzie wymagał tylko minimalnych regulacji przez użytkowników — dla zapewnienia wytrzymałości i możliwości automatyzacji. Stała konfiguracja systemu powinna również zapewniać odtwarzalność warunków obserwacji i jak najlepszą jakość obrazu w wyniku zastosowania wysokiej klasy układu optycznego, matryc obrazujących o wysokich parametrach użytkowych oraz intuicyjnego oprogramowania do przetwarzania. Bezproblemowa integracja sprzętu i oprogramowania sprzyjać będzie z jednej strony wysokiej wydajności pracy, a z drugiej — wiarygodności i dokładności wyników.

Jak największa automatyzacja / optymalna odtwarzalność
Inną istotną cechą systemu kontroli jest jak największa automatyzacja działań, która pomaga unikać błędów powodowanych przez użytkowników oraz sprzyja wysokiej wydajności pracy. W pełni zautomatyzowany system zapewni odtwarzalne warunki obrazowania, które pozwolą na uzyskanie wyższej jakości obrazów, a także powtarzalność wyników, odtwarzalność położenia oraz zintegrowaną funkcję kalibracji. Przejrzysty, minimalistyczny interfejs GUI powinien do minimum ograniczać interakcje z użytkownikiem.

Intuicyjna asysta oprogramowania / uproszczona procedura
Oprogramowanie systemu, które intuicyjnie asystuje operatorom i prowadzi ich przez proces kontroli, jest kolejnym składnikiem czyniącym z zakupionego rozwiązania wartościową inwestycję. Szczegółowa asysta oprogramowania istotnie skraca czas kontroli i przetwarzania danych oraz pomaga unikać błędów, a tym samym konieczności ich korygowania. Właściwe oprogramowanie może także uprościć przebieg pracy, dzieląc ją logicznie na trzy etapy: inspekcję, przegląd wyników i raportowanie. W efekcie sprzyja wydajności, skróceniu cyklu roboczego i utrzymaniu norm jakości.

Ocena w czasie rzeczywistym / analiza na żywo
Efektywny system kontroli powinien również umożliwiać inspektorowi analizowanie próbek w czasie rzeczywistym. W przypadku systemu kontroli czystości technicznej OLYMPUS CIX100 nowatorska metoda polaryzacyjna umożliwia analizowanie na żywo zarówno cząstek odblaskowych, jak i nieodblaskowych, o rozmiarach od 2,5 µm do 42 mm. To unikalne, kompleksowe rozwiązanie umożliwia dwukrotnie szybsze skanowanie cząstek niż w innych systemach kontroli.

Efektywna ocena danych / natychmiastowe podejmowanie decyzji
Najważniejszą w praktyce korzyścią z analizy w czasie rzeczywistym jest radykalne skrócenie czasu reakcji na niepowodzenie badania. Odbywająca się na żywo klasyfikacja liczonych i sortowanych cząstek w klasy rozmiarów umożliwia natychmiastowe podejmowanie decyzji co do powtórnego przetwarzania danych i umożliwia jak najszybsze rozwiązywanie problemów napotkanych w trakcie kontroli. W niektórych przypadkach obrazy przeglądowe mogą pomóc w określeniu pokrycia filtru lub wykryciu skupisk cząstek przed właściwą kontrolą próbki.

Łatwość przeglądu cząstek / korygowania danych z kontroli
Im szybciej można przeglądać wyniki, wprowadzać korekty i ponawiać obliczenia, tym szybciej udaje się rozwiązać problemy napotkane w trakcie kontroli. System OLYMPUS CIX100 oferuje zaawansowane, a przy tym łatwe w obsłudze narzędzia do korygowania danych z kontroli, a w szczególności szybkiego, wspomaganego przeglądu cząstek. Przyczynia się w ten sposób do utrzymania powtarzalności wyników. Miniatury obrazów wszystkich wykrytych zanieczyszczeń są powiązane z ich wymiarami, co ułatwia przeglądanie i korygowanie danych cząstek. Ta przejrzysta forma prezentacji wszystkich istotnych danych z kontroli przynosi maksymalną oszczędność czasu i elastyczność w spełnianiu norm międzynarodowych.

Pełna zgodność raportów z wymogami formalnymi / łatwe konfigurowanie i eksportowanie
Gdy nawet niedoświadczeni operatorzy mogą szybko tworzyć raporty zgodne z normami zakładowymi i branżowymi, wyniki kontroli dostępne są szybciej, cały proces staje się mniej pracochłonny, a reakcja na wyniki i ewentualne problemy może nastąpić wcześniej. Predefiniowane, znormalizowane szablony raportów, które można jednym kliknięciem eksportować w formacie Word lub PDF, przyspieszają i ułatwiają dokumentowanie oraz udostępnianie wyników inspekcji. Predefiniowane szablony ułatwiają także przestrzeganie wewnętrznych wytycznych zakładowych oraz zachowanie spójności formatowania. Pliki raportów mają objętość umożliwiającą bezproblemowe wysyłanie ich pocztą e-mail.

Mamy nadzieję, że przedstawione tutaj zagadnienia ułatwią wybór systemu kontroli czystości technicznej, który najlepiej spełni konkretne potrzeby i pozwoli zoptymalizować proces kontroli.

Powiązane treści


Warto nawiązać kontakt
Applications Specialist

Francesco provides Olympus customers and sales staff throughout the eastern United States, Canada, and Latin America with product and applications support for industrial microscopy products, including metallurgical, measuring, and digital microscopes; semiconductor equipment; and image analysis software.

十月 17, 2017
Sorry, this page is not available in your country
InSight Blog Sign-up
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country