概述
72DL PLUS超声测厚仪高速、高频、高精度测量 | |
| 奥林巴斯72DL PLUS超声测厚仪小巧便携、易于使用，可以提供精确的厚度测量值。该测厚仪具备快速扫查、高级算法和奥林巴斯迄今为止测量最低的最小厚度的能力，可使您充满信心地测量超薄层的厚度，完成具有挑战性的应用。 72DL PLUS测厚仪提供标准频率和高频率两种型号。高频率型号可以测量超薄材料，包括多层漆料、塑料、金属和涂层，其多层测量软件可以同时显示最多六个独立层的厚度。所有72DL PLUS型号都具有快速、准确测量厚度的功能。
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72DL PLUS测厚仪功能一览
- 坚固耐用：设计符合IP65
- 大而清晰的屏幕：177.8毫米（7英寸）高分辨率触摸屏 WVGA显示
- 多样化布局：A扫描、B扫描、A/B扫描、趋势图和放大图等测量布局提供了厚度变化的准确图像
- 可自行定制：可选择标准频率模式和高频率模式 — 带有或不带多层测量软件选项
- 长时电池操作：可最多连续操作8小时
- 高效的数据管理：内部数据记录和PC机接口应用程序加快了数据收集和查看过程
- 互联性能：支持无线局域网（LAN）和蓝牙
- 启用云技术：可通过无线方式连接到奥林巴斯科学云（OSC）和相兼容的OSC APP（应用程序）
- 轻松设置应用：创建自定义应用，以减少常规检测的设备设置时间
用户界面，简单直观；屏幕宽大，易于观看
- 宽广的视角，在大多数环境条件下都具有出色的可视性
- 177.8毫米（7英寸）全彩触摸屏可以访问设置和测量布局
- 引导式配置可以根据您的需要轻松更改设置
专为工业环境打造的超声测厚仪
- 设计符合IP65评级标准：防尘、防潮
- 通过了坠落测试（MIL-STD-810G），可避免测厚仪在坠落时受到损坏，从而减少了高成本维修的需求
- 可在-10°C至50°C的宽工作温度范围内进行可靠的测量
- 重量为2.1公斤，轻盈便携，适用于生产车间
- 通过触摸屏、主控键和调节旋钮可以轻松操控测厚仪
- 可用于室内、室外，可放在工作台面上使用，也可借助四点式胸挂带或肩挎带挂在身上使用
可测量多达6层的多层涂料、漆料、塑料和其他材料的厚度
多层测量软件提供多达6层的多层厚度测量功能。每层的测量设置，包括材料、声速、目标厚度范围和报警阈值，都可以通过配置工作流程和触摸屏控制轻松访问。
工作流程
简化的厚度数据收集和处理
所有型号的72DL PLUS测厚仪都提供内置的数据记录功能，数据存储量高达2 GB，同时还提供方便的机载文件管理功能。
- 屏幕上的字母数字键盘，用于文件命名和编辑报告标题，以组织您的工作
- 通过文件管理器菜单，您可以轻松查看和编辑应用文件，查看和删除检测数据文件，并查看检测进度百分比；一旦确定了一个文件，就可以方便地调用这个文件
- 可以连接一个脚踏开关，无需用手就可以激活保存/发送数据功能
可为常规厚度测量轻松完成应用设置
对于检测简单或复杂工件的常规应用，可以在“我的应用”菜单中存储和调用设置，以简化设备设置的过程。这样一来，可减少每次检测前的手动选择和设置调整，提高了检测效率，增强了对测量质量的信心。
“我的应用”菜单可使您直接在测厚仪中轻松创建自定义应用：
- 单层、多层、屏障和缩减率的预定义配置
- 这个菜单可指导您完成创建自定义应用过程从选择检测配置到设置探头、材料、报警和报警条件、测量模式和工件图的每个步骤
- 调用应用，简便易行：只需打开测厚仪，启动屏幕上就会显示“我的应用”菜单
为了增加灵活性，PC机接口应用程序也可用于创建应用，并将文件发送到生产车间或不同工厂中的不同测厚仪中。
借助多样化测量布局，跟踪和显示厚度变化
所有型号的72DL PLUS测厚仪都包括5种测量布局，因此可以准确地跟踪和显示被测材料的厚度变化。
A扫描
B扫描
A/B扫描
趋势图
放大图
可大幅提高工作效率的现代数据管理
PC机接口应用程序提供了现代化数据创建、管理、共享和分析工具。
- 数据趋势图控制面板和分析工具加快了审核数据的过程
- 绘制具有明确的检测点指导的定制工件图
- 使用工件图、材料、探头和报警设置创建应用或模板
- 审核并批准检测数据文件和报告
- 从处于不同站点的测厚仪轻松传送和接收检测数据文件和应用文件
- 使用自定义模板为单个部件或整个生产线生成检测报告
- 支持各种数据传输方式，包括USB、RS-232、蓝牙（Bluetooth）和无线局域网
互联和云功能
通过无线局域网和USB连通性能，72DL PLUS测厚仪可被集成到奥林巴斯科学云（OSC）中。
- 创建用户账户并管理用户角色
- 注册设备
- 检索校准证书
- 监控设备的状态信息
- 升级固件
应用
适用于多种应用的快速准确厚度测量
72DL PLUS仪器可作为漆层测厚仪、涂层测厚仪或材料测厚仪使用。无论用于何种应用，这款测厚仪都能迅速提供堪比实验室质量、可靠的测量结果，从而可大幅提高生产车间的生产率和生产量。
汽车工业
用于轿车和其他车辆的漆层测厚仪
- 精准的汽车漆层厚度测量
- 最多可测量6层漆层厚度
- 同时显示所有漆层厚度测量值
航空航天
- 在涡轮叶片制造过程中进行快速测量
- 涡轮叶片的检测和维修
- 飞机窗的检测
- 航空航天行业的漆层和涂层
- 复合材料飞机上的单层和多层涂料厚度
- 测量复合材料飞机天线罩上的涂层
- 铝复合板的测量
一般制造工业
- 测量薄壁和小直径管
- 塑料和金属管
- 医用管和导管的壁厚
- 用于制造业的涂层测厚仪
- 单层和多层涂料厚度的测量
- 防水和防反射涂层
- 干膜厚度
- 厚膜和薄膜的厚度测量
- 用于制造业的塑料测厚仪
- 瓶子、托盘和箱罐的多层塑料厚度测量
- 多层塑料食品容器
- 用于制造业的材料测厚仪
- 多层材料测量
- 硅晶圆厚度
- 金属片和金属板的厚度
- 金箔厚度
- 胶带厚度
- 聚丙烯包装厚度
选择您的测厚仪
选择能满足您需要的测厚仪型号
根据您的应用，您可以选择标准频率型号、高频率型号和多层测量软件选项。
标准频率型号：使用频率范围在0.2到30 MHz的单晶探头高速进行可靠的厚度测量（2 kHz测量速度，A扫描的60 Hz显示刷新率）
高频率型号：包含标准频率型号的所有功能，此外，在测量超薄材料时，可支持高达125 MHz的探头频率
多层测量软件：同时显示最多6层测量值
| 支持的功能或模式 |
72DL PLUS
标准频率型号 |
72DL PLUS
高频率型号 |
| 177.8 mm触摸屏WVGA显示 | X | X |
| 用于A扫描的60 Hz显示更新率 | X | X |
| 测量速率高达2 kHz | X | X |
| 在冻结波形上进行校准、增益调整和空白控制 | X | X |
| 连接到奥林巴斯科学云 | X | X |
| 升级以获得多层测量软件的能力 | X | X |
| 0.2到30 MHz的频率范围 | X | — |
| 对于超薄材料，频率范围可高达125 MHz | — | X |
选择您的探头
72DL PLUS测厚仪与频率高达125 MHz的奥林巴斯单晶超声探头相兼容：
- 标准频率型号的测厚仪可与频率范围在0.2–30 MHz的探头配套使用，高速测量材料厚度，并快速提供测量结果
- 高频率型号的测厚仪可与频率范围在20–125 MHz的探头配套使用，测量超薄材料
技术规格
72DL PLUS测厚仪的技术规格
| 标准频率型号 | 高频率型号 | |
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外型尺寸
（宽 × 高 × 厚） | 238.76 × 172.72 × 86.36 mm | |
| 重量 | 2.08 kg | |
| 供电设备 | 24 V AC/DC适配器，或73 Wh锂离子电池 | |
| 电池供电时间 | 8小时 | |
| 电池存储温度 | -20°C ～ 40°C | |
| 操作温度 | -10°C ～ 50°C | |
| 显示 | 177.8毫米（7英寸）WVGA（800 × 480）PCAP触摸屏，更新率为60 Hz | |
| 分辨率 | 低分辨率：0.1 mm | 低分辨率：25 µm（1 mil = 0.001 in.) |
| 标准分辨率：0.01 mm | 标准分辨率：2.5 µm（0.1 mil = 0.0001 in.) | |
| 高分辨率：0.001 mm | 高分辨率：0.25 µm（0.01 mil = 0.00001 in.) | |
| 厚度范围（取决于探头频率、探头类型和材料） | 钢：0.20 mm ～ 635 mm | 塑料：0.0127 mm ～ 25.4 mm |
| 多层测量 | 最多6层 | |
| 测量速率 | 1到3层，最大2 kHz | 1到3层，最大1 kHz |
| 4到6层，最大1 kHz | 4到6层，最大500 Hz | |
| 校准 | 单点或两点自动校准；零位偏移和/或声速的手动调整；在冻结波形上进行的单点校准 | |
| 显示布局 | A扫描、B扫描、A/B扫描、趋势图和放大图 | |
| 容量 | 2 GB； 约400000个厚度读数，20000个波形 | |
| 频率范围 | 0.2 ～ 30 MHz（-3 dB） | 20 ～ 125 MHz（-3 dB） |
| 增益 | 自动或手动（最大100 dB） | 自动或手动（最大80 dB） |
| IP评级 | 设计符合IP65评级标准并通过测试：防尘，且可抵御来自各个方向的水射流 | |
| 爆炸性气氛 | 通过了美军标准MIL-STD-810F方法511.4程序I中规定的测试。 | |
| 撞击测试 | 通过了美军标准MIL-STD-810F方法516.5程序I中规定的测试，每个轴6个循环，15 g，11 ms半弦波。 | |
| 振动测试 | 通过了美军标准MIL-STD-810F方法514.5程序I附录C图6中的测试，一般暴露：每轴1小时。 | |
