Rychlá analýza vad

Analýza polovodičových waferů používaných ve vysokofrekvenčních zařízeních

Sloučeninové polovodiče mohou zpracovávat informace vysokou rychlostí a pod vysokým napětím, takže jsou ideální pro aplikace 5G. Jedná o klíčové součásti elektronických zařízení, a proto je velice důležité kontrolovat, zda nejsou poškozeny.

Flexibilní zobrazování pro rychlé měření waferů

Digitální mikroskop DSX1000 vám umožňuje přepínat pozorování – například diferenciální kontrast rušení – pouhým stisknutím tlačítka. Optický zoom mikroskopu navíc umožňuje bezproblémové zobrazení od makroskopického až po mikroskopický pohled, díky čemuž neztratíte ze zřetele žádné vady.

Pozorování defektu waferu pomocí technologie DIC:
Metoda pozorování vhodná pro vizualizaci nepravidelností, cizích látek a škrábanců na úrovni nanometrů.

Pozorování reziduí rezistentního materiálu v polovodičových materiálech

V procesu vytváření elektrických obvodů leptáním hrají důležitou roli fotorezistentní
materiály.Litografický proces, kterým se elektrické obvody vytváří, sestává z aplikování, maskování, exponování a následného odstranění rezistentního materiálu. Reziduum rezistentního materiálu, které zůstane po odstranění materiálu, může být problémem.

Snadná detekce reziduí rezistentního materiálu

Vzpřímený metalurgický mikroskop BX53M  podporuje fluorescenční pozorování a nabízí snadné řešení pro detekci reziduí rezistentního organického materiálu na základě jejich charakteristik vyzařování světla. Na základě rozdílu emisních charakteristik můžete rozlišit rezidua rezistentního materiálu od jiné kontaminace.

Pozorování MIX (fluorescenční pozorování a pozorování v tmavém poli):

Pozorování stavu zformování optických komunikačních vlnovodů

Výrobci musí validovat stav zformování optických vlnovodů tvořících komponenty používané pro optickou komunikaci. Protože vlastní optický vlnovod je obklopen sklem, není možné provádět pozorování v episkopickém osvětlení (odraženém světle). Pro tuto oblast použití je zcela zásadní procházející osvětlení.

Zřetelné pozorování stavu zformování

Vysoká optická výkonnost a funkce pozorování s diferenciálním interferenčním kontrastem vzpřímeného metalurgického mikroskopu BX53M ve spojení s digitální kamerou DP74 určenou pro mikroskop umožňují zřetelné pozorování stavu zformování optického vlnovodu a pořizování snímků s vysokým rozlišením.

Potřebujete pomoc?