主页/ 应用注释Nečistoty v průchozích dírách desky s plošnými spoji (PCB)

Nečistoty v průchozích dírách desky s plošnými spoji (PCB)

Různé mikroskopické techniky s použitím digitálních mikroskopů

deska_s_plosnymi_spoji
Deska s plošnými spoji

1. Použití

Se zmenšující se velikostí elektronických zařízení jsou průchozí díry na deskách s plošnými spoji (PCB) rozmístěny stále hustěji. Zároveň však výrobci kladou důraz na jejich kvalitu. Po vyvrtání průchozí díry do desky na ní může zůstat skvrnka pryskyřice roztavené během vrtání. Při pokovování desky může skvrnka pryskyřice zabránit vodivému spojení s vnitřní měděnou fólií, což vyústí ve stav odpojení. Z tohoto důvodu je nezbytné před pokovováním zkontrolovat, zda se na desce tyto skvrnky nenachází. Navíc i po pokovení mohou znečištěné díry vyvolat změnu elektrického odporu a způsobit zkrat. Proto je důležité rovněž zkontrolovat, zda se nečistoty nenachází v dírách.

2. Řešení Olympus

Nečistoty přilepené na vnitřní stěnu průchozí díry se nachází v různých výškách. Při pozorování mikroskopem je tedy nezbytné zaostřovat ve svislém směru. Pomocí funkce EFI (Extended Focal Image) digitálního mikroskopu Olympus řady DSX lze zaostření posunout do různých výškových úrovní při zachování nerušeného zobrazení, což systému umožňuje automaticky sestavit plně zaostřený obraz celé díry. Mikroskop řady DSX nabízí celou řadu metod pozorování jako např. světlé pole, temné pole, smíšené pole (kombinace světlého pole a temného pole), diferenciální interferenční kontrast a polarizaci. Uživatelé si mohou vybrat metodu pozorování, která nejvíce vyhovuje jejich potřebám, pouhým kliknutím a nemusí provádět složitá nastavení a seřizování vyžadovaná konvenčními mikroskopy. Vnitřní stěna průchozí díry je tmavá a obtížně pozorovatelná v odraženém osvětlení. Přidání procházejícího osvětlení nicméně umožňuje mnohem snazší potvrzení výskytu nečistot. Současným použitím odraženého a procházejícího osvětlení lze pozorovat povrch desky a vnitřní stěnu díry současně.