Evident LogoOlympus Logo
洞见博客

Používání softwaru k analýze snímků k automatické detekci částic v CdZnTe

作者  -

Proces zlepšuje efektivitu zkoumání, zvyšuje výnosy a zlepšuje kontrolu procesu

Polovodiče CdZnTe (Kadmium-Zinek-Tellur) nebo CZT jsou polovodiče složené z kadmia, zinku a telluru. Používají se v široké škále aplikací, jež zahrnují detektory radiace, substráty pro MgCdTe (IR detektory), fotorefraktivní mřížky, elektro-optické modulátory, solární články a generování a detekci terahertzového vlnění. Zakázaný pás (rozdíl energie) nabývá hodnot od 1,4 do 2,2 eV, v závislosti na složení.

Po nařezání a vyleštění CZT výrobci těchto zařízení potřebují pořídit snímky skrz vzorky pomocí IR technologie, mikroskopické snímací techniky, která využívá vlnové délky mezi 1 100 a 1 200 nm a snímače, které zachycují odražené světelné vlny a vytvářejí snímky.

Jeden z běžných úkolů po pořízení snímku spočívá v určení místa s nejmenším množstvím sekundárních fází, zobrazených jako částice, a to uvnitř CZT po celé oblasti vzorku. Umístěním obvodu nebo vodivého bodu do místa s nejnižším množstvím sekundárních fází dochází ke zlepšení výkonu detektoru, solárního článku nebo fotorefraktivní mřížky. Čím nižší je procentuální zastoupení sekundárních fází, tím nižší je difrakce signálu při průchodu skrz CZT. V návaznosti na automatizovanou analýzu snímku systém musí navigovat k oblasti s nejnižším procentem částic, aby umístil laserovou značku kolem oblasti pro vyříznutí. V současnosti je většina tohoto typu práce prováděna ručně, což je časově náročné kvůli rozsahu zkoumané oblasti. Automatizace tohoto typu procesu by výrobcům pomohla zvýšit efektivitu zkoumání, zvýšit výnosy a zlepšit kontrolu procesu, což by znamenalo úspory času i peněz.

Automatizace procesu se softwarem k pokročilé analýze snímků

Software k pokročilé analýze snímků – v kombinaci s modulárním mikroskopem nebo mikroskopem pro zkoumání waferů a vysoce citlivou kamerou – dokáže automaticky skenovat skrz CZT a detekovat sekundární fáze za účelem určení umístění oblasti s nejnižší procentuální hodnotou v rámci předem definovaného rozsahu velikosti. Kromě toho se systém dokáže vrátit k této oblasti, provést citlivější snímání a umístit značku pomocí připojeného laserového značkovacího systému.

Optimální konfigurace systému zahrnuje:

  • Software pro obrazovou analýzu OLYMPUS Stream®
  • Přímý modulární mikroskop Olympus BX53/61 nebo mikroskop pro zkoumání waferů Olympus MX51/61, včetně odraženého a procházejícího IR světla
  • Vysoce citlivá digitální kamera Olympus XM10IR na snímaní v IR pásmu
  • Motorizované komponenty v osách X, Y, Z připojené přímo k počítači pro umožnění kontroly softwarem
  • Laserový značkovací systém připojený k osvětlení odraženým světlem umožňující značkování povrchu vzorku pro určení oblasti výřezu

Hlavními přednostmi této konfigurace jsou úspora času a snížení nákladů při zvýšení přesnosti. K tomu dochází díky automatizaci snímání, v porovnání s ručními konfiguracemi. Automatizace snímání je možná díky automatizovanému skládání v osách X, Y a Z, které uživateli umožňuje prohlížet celý povrch oblasti pomocí jediného obrázku vytvořeného hladkým spojením mnoha různých snímků. To umožňuje snadnou detekci bodů snímku, které mohou upozornit na vady materiálu. Zvýšené výnosy a schopnost vyhledat oblasti pro vylepšení procesu jsou dodatečné přednosti.

Product Applications Manager, Industrial Microscopes

Rob Bellinger is a product applications manager for industrial microscopes at Evident. He has been part of Evident for more than 15 years. He currently provides application support for our industrial microscope systems in the US, Canada, and Latin America. 

五月 16, 2017
Sorry, this page is not available in your country
InSight Blog Sign-up
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country