Založte si to! Získejte přístup k našim zdrojům, které se věnují metodě celkové fokusace (TFM), pohodlně na jednom místě

Když jsme uvedli na trh náš defektoskop OmniScan™ X3, tak jsme také vytvořili vzdělávací materiály, které jsou určené pro naše zákazníky, aby se seznámili s výhodami a omezeními technologie celkové fokusace (Total Focusing Method, TFM).

Kontrola TFM svaru ve tvaru písmene V o tloušťce 25 mm pomocí defektoskopu OmniScan X3 a sondy A31

Postupem času jsme vytvořili mnoho materiálů týkajících se TFM, od videoškolení po bílé knihy a vše mezi tím. Abychom ušetřili váš čas, zde uvádíme seznam referenčních materiálů k TFM, které jsme doposud vytvořili.

TFM – webináře a vzdělávací videa

Pokud jste v TFM nováčci, tato animace vám pomůže seznámit se s tím nejdůležitějším, co potřebujete vědět. Zjednodušeně popisuje princip získání úplné matice (Full Matrix Capture, FMC) a metodu celkové fokusace (TFM). Podívejte se na základní principy FMC/TFM!

Ukázky z informační grafiky Jak to funguje: Full Matrix Capture (FMC) a Total Focusing Method (TFM)

Ponořte se hlouběji s touto řadou pěti na žádost vytvořených webinářů na téma TFM. Řada webinářů na téma Total Focusing Method pokrývá základní principy, ale zabývá se také tématy jako např. TMF versus phased array – kdy který použít – a shodou s normami při použití TFM.

V tomto videu se zase dozvíte více o modelovacím nástroji k pokrytí sady vln pro přístroje řady OmniScan X3: Přehledné informace o nástroji AIM defektoskopu OmniScan X3. Simulátor mapy akustického vlivu (Acoustic Influence Map, AIM) může poskytnout cenné rady při výběru vlnové sady jak pokročilým uživatelům, tak i pracovníkům provádějícím kontrolu, kteří se techniku TFM teprve učí. Volba správné vlnové sady může v rámci TFM představovat složitý úkol, především u zakřivených dílů, takže přítomnost výkonného simulátoru, jako je AIM, v detekčním přístroji je velice důležitá. 

Nejčastější dotazy k TFM

Odpovědi na nejčastěji kladené otázky ohledně metody celkové fokusace naleznete zde: Často kladené otázky – TFM.

Plakát a informační grafika k základním principům FCM/TFM

Pokud byste si chtěli vyzdobit kancelář šikovným (a hezkým) referenčním materiálem k FCM a TFM, stáhněte si plakát Seznámení s technikou FMC a TFM nebo menší informační grafiku Jak to funguje: Full Matrix Capture (FMC) a Total Focusing Method (TFM).

Doporučení k používání metody celkové fokusace (TFM)

Hledáte praktické informace ohledně použití TFM? Přečtěte si tyto aplikační poznámky:

• Použití metody celkové fokusace (TFM) na zlepšení ultrazvukového zobrazování s phased array
• Použití indexu citlivosti mapy akustického vlivu (AIM) k výběru optimálního kontrolního režimu TFM
• Volba nejlepšího režimu šíření pro reflektor pomocí modelovacího nástroje AIM v rámci kontroly TFM (metody celkové fokusace)

Případová studie a bílé knihy k metodě celkové fokusace

Přečtěte si o zkouškách prováděných společností EWI, které porovnávají účinnost phased array a TFM při sledování únavových prasklin: Lepší pochopení růstu trhlin v cyklicky zatěžovaných strukturách pomocí metody celkové fokusace.

Získejte hlubší pochopení inovativního zobrazování TFM řady defektoskopů OmniScan X3 v těchto bílých knihách zabývajících se použitím metody TFM s funkcí obálky a mapou akustického vlivu při TFM.

Příběhy zákazníků a tipy a triky k TFM

Obrázek TFM a další hlavní výhody defektoskopu OmniScan X3 pro kontrolory NDT – recenze zákazníka

Pro odlehčení si projděte tyto příspěvky z našeho blogu, které uvádějí pohledy našich zákazníků na výhody TFM i vysvětlení našich odborníků:

• Potenciál inovativní metody TFM pro zlepšení hodnocení strukturální integrity – pohled zákazníka
• Která sonda phased array je pro kontrolu pomocí TFM ta správná?
• Všechny vady odhaleny – zobrazování TFM, kterému můžete věřit
• 4 hlavní aspekty pro vytvoření strategie TFM za účelem kontroly svarů odpovídající předpisům
• Vysvětlení 3 nejlepších vylepšení FMC/TFM defektoskopu OmniScan X3
• Staňte se mistrem metody celkové fokusace (TFM) pomocí softwarového nástroje map akustických vlivů (AIM)
• TFM a další hlavní výhody defektoskopu OmniScan X3 pro kontrolory NDT – recenze zákazníka

Doufáme, že vám tento seznam bude užitečný. Projděte si tyto materiály svým tempem, načerpejte znalosti a prohlubte své pochopení technologie celkové fokusace.

V záložce Zdroje našich webových stránek vždy objevíte nové materiály na téma TFM, které do ní neustále přidáváme.

Související obsah

Pět důvodů, proč přejít na defektoskop OmniScan X3

Výkonné přenosné duo pro kontrolu trubek: Skener AxSEAM™ a defektoskop OmniScan™ X3 – recenze zákazníka

Školení budoucích pracovníků kontroly v Italském institutu pro svařování