概述


	Phased Array a TFM defektoskop OmniScan^™ X3 64 s pokročilými možnostmi Výkon, který můžete přenášet Výkonné možnosti fokusace defektoskopu OmniScan X3 64, opatřeného pouzdrem v terénu prověřeného přenosného defektoskopu OmniScan X3, podpořené většími možnostmi apertury elementů umožňují plně využít sondy phased array se 64 elementy a techniku TMF s aperturou 128 elementů. Využijte jeho vylepšené funkční charakteristiky ke splnění požadavků náročných kontrol silnostěnných materiálů, materiálů s velkým útlumem a rozšiřte svůj potenciál pro vývoj nových postupů v širší škále oblastí použití. Stáhněte si brožuru OmniScan X3 64 Pokročilý software pro provádění analýz WeldSight™
Defektoskop OmniScan^™ X3 Phased Array s inovativní technikou TFM Jistota, kterou můžete vidět Defektoskop OmniScan X3 představuje kompletní sadu nástrojů Phased Array. Výkonné nástroje, včetně zobrazování technikou úplné fokusace (TFM – Total Focusing Method) a pokročilých vizualizačních možností podpořených vysokou kvalitou obrazu, umožňují provádět kontroly s větší jistotou. Stáhněte si brožuru OmniScan X3

Phased Array a TFM defektoskop OmniScan^™ X3 64 s pokročilými možnostmi

Výkon, který můžete přenášet

Výkonné možnosti fokusace defektoskopu OmniScan X3 64, opatřeného pouzdrem v terénu prověřeného přenosného defektoskopu OmniScan X3, podpořené většími možnostmi apertury elementů umožňují plně využít sondy phased array se 64 elementy a techniku TMF s aperturou 128 elementů. Využijte jeho vylepšené funkční charakteristiky ke splnění požadavků náročných kontrol silnostěnných materiálů, materiálů s velkým útlumem a rozšiřte svůj potenciál pro vývoj nových postupů v širší škále oblastí použití.

Stáhněte si brožuru OmniScan X3 64

Pokročilý software pro provádění analýz WeldSight™

Defektoskop OmniScan^™ X3 Phased Array s inovativní technikou TFM

Jistota, kterou můžete vidět

Defektoskop OmniScan X3 představuje kompletní sadu nástrojů Phased Array. Výkonné nástroje, včetně zobrazování technikou úplné fokusace (TFM – Total Focusing Method) a pokročilých vizualizačních možností podpořených vysokou kvalitou obrazu, umožňují provádět kontroly s větší jistotou.

Stáhněte si brožuru OmniScan X3

Inovativní a účinná technika TFM

Potvrďte pokrytí TFM svazkem předem

Nástroj AIM (mapa akustického vlivu) poskytuje okamžitý vizuální model citlivosti na základě vašeho TFM režimu, sondy, nastavení a simulovaného reflektoru.

Nástroj AIM eliminuje odhady z tvorby plánu skenování – vizualizujte účinek souboru vln (režim TFM), zjistěte, kde se citlivost zastaví, a podle toho upravte plán skenování.

Podívejte se, o co jste bez PCI přicházeli

Naše inovativní bezamplitudové živé fázově koherentní zobrazování (PCI) zajišťuje lepší citlivost na malé vady a hloubku vniku v materiálech s větším šumem a zároveň také zajišťuje snadnější nastavení a jednodušší dimenzování. Dostupné pro defektoskop OmniScan X3 64 s modulem MXU 5.10 a vyšším.

	Virtuální spolupráce doslova odkudkoli Služba vzdálené spolupráce X3 Remote Collaboration Service (X3 RCS) poskytuje operátorovi možnost sdílení obrazovky, možnost ovládání jednotky vzdáleným spolupracovníkem a pořádání videokonferencí s účastníky nacházejícími se téměř kdekoli na světě. Zjistěte o službě X3 RCS více Zlepšená, rychlejší kalibrace Kalibrátor přístroje OmniScan X3 sleduje signály při vysoké rychlosti. Provede kalibrace více skupin během minut. Dobře známé, přesto vylepšené použití přístroje OmniScan Uživatelé, kteří vlastní nebo jsou vyškolení v používání defektoskopu OmniScan, přejdou na defektoskop OmniScan X3 snadno a noví uživatelé brzy zjistí, že naučit se ho používat je snadné. Rychlá výuková videa Stáhnout školení k X3

Virtuální spolupráce doslova odkudkoli

Služba vzdálené spolupráce X3 Remote Collaboration Service (X3 RCS) poskytuje operátorovi možnost sdílení obrazovky, možnost ovládání jednotky vzdáleným spolupracovníkem a pořádání videokonferencí s účastníky nacházejícími se téměř kdekoli na světě.

Zjistěte o službě X3 RCS více

Zlepšená, rychlejší kalibrace

Kalibrátor přístroje OmniScan X3 sleduje signály při vysoké rychlosti. Provede kalibrace více skupin během minut.

Dobře známé, přesto vylepšené použití přístroje OmniScan

Uživatelé, kteří vlastní nebo jsou vyškolení v používání defektoskopu OmniScan, přejdou na defektoskop OmniScan X3 snadno a noví uživatelé brzy zjistí, že naučit se ho používat je snadné.

Rychlá výuková videa

Stáhnout školení k X3

Odkryjte další informace

Přínos generátoru 64 impulzů Phased Array

Využijte plný potenciál sond Phased Array se 64 elementy použitím defektoskopu OmniScan X3 64 k dosažení zlepšeného rozlišení v ohnisku.

Snímek vpravo: Pořizování dat pomocí 32kanálové jednotky OmniScan X3 se sondou se 64 elementy (model 5L64-A32), tento S-sken představuje vysoce kvalitní snímek, ale na jeho rozlišení se projevuje skutečnost, že pro nastavení parametrů fokusace (focal law) lze použít jen prostředních 32 elementů.

Snímek vlevo: Defektoskop OmniScan X3 64 s použitím apertury 64 elementů (sonda 5L64-A32) poskytuje lepší PA rozlišení v ohnisku a umožňuje snadnější rozlišení indikací, které jsou blíže k sobě nebo v klastru-seskupení.

Slide to compare these OmniScan models

Získejte přístup k plné TFM apertuře 128 elementů

TFM zobrazování, díky elektronice nové generace, nabízí lepší možnosti fokusace pro malé indikace a zlepšený poměr signálu k šumu (SNR). Model OmniScan X3 64, s kapacitou apertury 128 elementů, poskytuje zlepšenou zřetelnost obrazu.

Snímek vpravo: Tento TFM snímek byl pořízen při použití 64 elementů sondy se 128 elementy (model 3.5L128-I4) pomocí 32kanálového modelu OmniScan X3.

Snímek vlevo: Zde defektoskop OmniScan X3 64 umožňuje použití plné apertury 128 elementů naší 3,5MHz sondy I4 se 128 elementy. Všimněte si zlepšeného rozlišení a sníženého šumu pozadí.

Pořizujte data až 4x rychlejší technikou TFM

Dosáhněte rychlosti pořizování dat technikou úplné fokusace (TFM) až 4krát rychleji díky tomu, že použijete sondu se 64 elementy. Ve srovnání s modely s 32 generátory impulzů nabízí defektoskop OmniScan X3 64 významné zlepšení účinnosti, které je dané jeho možností větší apertury.

Vylepšená funkce Phased Array

Až 3x rychlejší než defektoskop OmniScan MX2 (maximální opakovací frekvence impulzů)
Jedna nabídka TOFD pro zrychlený postup kalibrace
800% vysoký rozsah amplitudy snižuje potřebu opětovného skenování
Sondy s integrovaný duálním lineárním polem Dual Linear Array™ a duálním maticovým polem Dual Matrix Array™ urychlují vytvoření nastavení

Ulehčení monitorování koroze pomocí techniky Phased Array

Využití techniky Phased Array ke kontrole na přítomnost koroze nabízí mnoho výhod, mezi jinými vynikající pokrytí a rozlišení. Nicméně osvojení si postupů techniky Phased Array může být náročné. Defektoskop OmniScan X3 spojuje pokročilé funkce, například synchronizaci brány, s promyšleným softwarem a zjednodušenými nabídkami, takže přesná data můžete získat snadněji. Nakonfigurujte nastavení rychle díky zpracování synchronizace A-skenu a ručnímu časově korigovanému zesílení (TCG).

Řada OmniScan X3

Modely	OmniScan X3			OmniScan X3 64
Konfigurace	16:64PR	16:128PR	32:128PR	64:128PR
Oblasti použití	Monitorování koroze, integrita potrubí, ruční PA/TFM, TOFD, malá potrubí	Vysoce produktivní více skupinová PA a TOFD tenkého svaru, výroba lopatek větrných turbín, kompozit	Vysoce produktivní více skupinová PA a TOFD silného svaru, Austenitický/CRA/odlišný kovový svar, TFM	Vysoce produktivní více skupinová PA a TOFT velmi silného svaru, svar austenitického / CRA / odlišného kovu, vysoce produktivní TFM, vysokoteplotní vodíková koroze (HTHA), vývoj pokročilých použití
Generátory impulzů (PA)	16	16	32	64
Přijímače	64	128	128	128
TFM elementy	32	32	64	128
UT kanály (P/R)	2	2	2	2
Skupiny	Až 2 (PA, UT/TOFD, TFM) nebo 2 PA s 1 TOFD	Až 8 celkem TFM: až 4	Až 8 celkem TFM: až 4	Až 8 celkem TFM: až 4
Šířka frekvenčního pásma	0,5 až 18 MHz			0,2 MHz až 26,5 MHz
Maximální šířka impulzu (PA)	500 ns			1000 ns
Napětí PA	40 V, 80 V a 115 V / unipolární záporný			10 Vpp, 20 Vpp, 40 Vpp, 80 Vpp, 120 Vpp a 160 Vpp / bipolární obdélníkový impulz
Kapacita interní SSD paměti	64 GB			1 TB
Veškeré další charakteristiky a technické parametry	Identické

Úplné řešení pro váš NDT pracovní postup MXU Software MXU defektoskopu OmniScan X3 vás provede celým pracovním postupem kontroly. Získejte další informace OmniPC Náš bezplatný software pro počítačově prováděnou analýzu OmniPC™ je kompatibilní s datovými soubory přístrojů OmniScan X3, OmniScan MX2 a OmniScan SX. Získejte další informace WeldSight PC software WeldSight™ pro pokročilou analýzu a pořizování dat je kompatibilní s defektoskopem OmniScan X3. Pro dosažení zvýšené produktivity umožňuje aplikace pro vzdálené připojení WeldSight Remote Connect, nainstalovaná na jednotce pro pořizování dat, provést celý pracovní postup kontroly pomocí softwaru WeldSight. Získejte další informace

Úplné řešení pro váš NDT pracovní postup

MXU

Software MXU defektoskopu OmniScan X3 vás provede celým pracovním postupem kontroly. Získejte další informace

OmniPC

Náš bezplatný software pro počítačově prováděnou analýzu OmniPC™ je kompatibilní s datovými soubory přístrojů OmniScan X3, OmniScan MX2 a OmniScan SX. Získejte další informace

WeldSight

PC software WeldSight™ pro pokročilou analýzu a pořizování dat je kompatibilní s defektoskopem OmniScan X3. Pro dosažení zvýšené produktivity umožňuje aplikace pro vzdálené připojení WeldSight Remote Connect, nainstalovaná na jednotce pro pořizování dat, provést celý pracovní postup kontroly pomocí softwaru WeldSight. Získejte další informace

Phased Array a TFM defektoskop OmniScan^™ X3 64 s pokročilými možnostmi Výkonný ruční defektoskop. Výkonné možnosti fokusace defektoskopu OmniScan X3 64, v terénu prověřeném přenosném defektoskopu OmniScan X3, podpořené většími možnostmi apertury elementů, umožňují plně využít sondu phased array se 64 elementy a techniku TMF s aperturou 128 elementů. Využijte jeho vylepšené funkční charakteristiky ke splnění požadavků náročných kontrol silnostěnných a tlumivých materiálů a rozšiřte svůj potenciál pro vývoj nových postupů v širší škále oblastí použití. Stáhněte si brožuru OmniScan X3 64 Držte krok s výrobou! Zeptejte se zástupce společnosti Olympus na naši časově omezenou nabídku defektoskopu OmniScan X3 64 u příležitosti jeho uvedení na trh, včetně licence k softwaru pro provádění kontrol WeldSight.
Defektoskop OmniScan^™ X3 Phased Array s inovativní technikou TFM Vidíte, že mu můžete věřit Defektoskop OmniScan X3 s technikou Phased Array. Výkonné nástroje, včetně zobrazování technikou úplné fokusace (TFM – Total Focusing Method) a pokročilých vizualizačních možností, podpořených vysokou kvalitou obrazu, umožňují provést kontrolu s větší jistotou. Stáhněte si brožuru OmniScan X3 WeldSight™, pokročilý software pro provádění analýz

Phased Array a TFM defektoskop OmniScan^™ X3 64 s pokročilými možnostmi

Výkonný ruční defektoskop.

Výkonné možnosti fokusace defektoskopu OmniScan X3 64, v terénu prověřeném přenosném defektoskopu OmniScan X3, podpořené většími možnostmi apertury elementů, umožňují plně využít sondu phased array se 64 elementy a techniku TMF s aperturou 128 elementů. Využijte jeho vylepšené funkční charakteristiky ke splnění požadavků náročných kontrol silnostěnných a tlumivých materiálů a rozšiřte svůj potenciál pro vývoj nových postupů v širší škále oblastí použití.

Stáhněte si brožuru OmniScan X3 64

Držte krok s výrobou!

Zeptejte se zástupce společnosti Olympus na naši časově omezenou nabídku defektoskopu OmniScan X3 64 u příležitosti jeho uvedení na trh, včetně licence k softwaru pro provádění kontrol WeldSight.

Defektoskop OmniScan^™ X3 Phased Array s inovativní technikou TFM

Vidíte, že mu můžete věřit

Defektoskop OmniScan X3 s technikou Phased Array. Výkonné nástroje, včetně zobrazování technikou úplné fokusace (TFM – Total Focusing Method) a pokročilých vizualizačních možností, podpořených vysokou kvalitou obrazu, umožňují provést kontrolu s větší jistotou.

Stáhněte si brožuru OmniScan X3

WeldSight™, pokročilý software pro provádění analýz

Inovativní a účinná technika TFM

Potvrďte pokrytí TFM svazkem předem

Nástroj AIM (mapa akustického vlivu) poskytuje okamžitý vizuální model citlivosti na základě vašeho TFM režimu, sondy, nastavení a simulovaného reflektoru.

Nástroj AIM eliminuje z tvorby plánu skenování odhady – vizualizujte efekt souboru vln (režim TFM), zjistěte, kde se zastaví citlivost a podle toho upravte plán skenování.

Až čtyři režimy TFM usnadňují interpretaci vady a určení její velikosti

Použití čtyř různých režimů TFM (souborů vln) v rámci jedné kontroly zvyšuje šance na odhalení nepravidelně orientovaných indikací. Defektoskop OmniScan X3 nabízí až čtyři souběžné režimy TFM pro vytvoření zobrazení z různých úhlů. Odezvu a charakteristiku z každého režimu, jako např. difrakci na hrotu, rohový úsek a profil vady, lze souběžně použít k potvrzení typu vady a zlepšení možností stanovení velikosti vady.

	Zlepšená, rychlejší kalibrace Kalibrátor přístroje OmniScan X3 sleduje signály při vysoké rychlosti. Provede kalibrace více skupin během minut. Pusťte se rychle do práce s plánem skenování v přístroji Úspora času pomocí plánu skenování nacházejícího se v přístroji, včetně nástrojů pro použití více sond, více skupin a konfiguraci TFM zóny. Plánujte, vizualizujte a validujte kalibraci a nastavení jedním jednoduchým pracovním postupem. Dobře známé, přesto vylepšené použití přístroje OmniScan Uživatelé, kteří vlastní nebo jsou vyškolení v používání defektoskopu OmniScan, přejdou na defektoskop OmniScan X3 snadno a noví uživatelé brzy zjistí, že naučit se ho používat je snadné. Rychlá výuková videa Stáhněte si školení k X3

Zlepšená, rychlejší kalibrace

Kalibrátor přístroje OmniScan X3 sleduje signály při vysoké rychlosti. Provede kalibrace více skupin během minut.

Pusťte se rychle do práce s plánem skenování v přístroji

Úspora času pomocí plánu skenování nacházejícího se v přístroji, včetně nástrojů pro použití více sond, více skupin a konfiguraci TFM zóny. Plánujte, vizualizujte a validujte kalibraci a nastavení jedním jednoduchým pracovním postupem.

Dobře známé, přesto vylepšené použití přístroje OmniScan

Rychlá výuková videa

Stáhněte si školení k X3

Odkryjte další informace

Přínos generátoru 64 impulzů Phased Array

Využijte plný potenciál sond Phased Array se 64 elementy použitím defektoskopu OmniScan X3 64 k dosažení zlepšeného rozlišení v ohnisku.

Slide to compare these OmniScan models

Získejte přístup k plné TFM apertuře 128 elementů

Snímek vpravo: Tento TFM snímek byl pořízen 64 elementy sondy se 128 elementy (model 3.5L128-I4) pomocí 32kanálového modelu OmniScan X3.

Snímek vlevo: Zde defektoskop OmniScan X3 64 umožňuje použití plné apertury 128 elementů naší 3,5MHz sondy I4 se 128 elementy. Všimněte si vylepšeného rozlišení a sníženého šumu pozadí.

Pořizujte data až 4x rychlejší technikou TFM

Vylepšená technika Phased Array

Až 3x rychlejší než defektoskop OmniScan MX2 (maximální opakovací frekvence impulzů)
Jedna nabídka TOFD pro zrychlený postup kalibrace
Rozsah amplitudy 800% snižuje potřebu opakovaného skenování
Vestavěné sondy s dvojitým lineárním polem Dual Linear Array™ a dvojitým maticovým polem Dual Matrix Array™ urychlují vytvoření nastavení

Ulehčení monitorování koroze pomocí techniky Phased Array

Využití techniky Phased Array ke kontrole na přítomnost koroze nabízí mnoho výhod, mezi jinými vynikající pokrytí a rozlišení. Avšak osvojit si postupy techniky Phased Array může být náročné. Defektoskop OmniScan X3 spojuje pokročilé funkce, například synchronizaci brány, s promyšleným softwarem a zjednodušenými nabídkami, takže přesná data můžete získat snadněji. Nakonfigurujte nastavení rychle díky zpracování synchronizace A-skenu a ručnímu časově korigovanému zesílení (TCG).

Řada OmniScan X3

Modely	OmniScan X3			OmniScan X3 64
Konfigurace	16:64PR	16:128PR	32:128PR	64:128PR
Oblasti použití	Monitorování koroze, integrita potrubních vedení, ruční PA/TFM, TOFD, malá potrubí	Vysoce produktivní víceskupinová PA a TOFD tenkého svaru, výroba lopatek větrných turbín, kompozit	Vysoce produktivní víceskupinová PA a TOFD silného svaru, svar austenitického / CRA / odlišného kovu, TFM	Vysoce produktivní víceskupinová PA a TOFT velmi silného svaru, svar austenitického / CRA / odlišného kovu, vysoce produktivní TFM, vysokoteplotní vodíková koroze (HTHA), vývoj pokročilých použití
Generátory impulzů (PA)	16	16	32	64
Přijímače	64	128	128	128
TFM elementy	32	32	64	128
UT kanály (P/R)	2	2	2	2
Skupiny	Až 2 (PA, UT/TOFD, TFM) nebo 2 PA s 1 TOFD	Až 8 celkem TFM: až 4	Až 8 celkem TFM: až 4	Až 8 celkem TFM: až 4
Šířka frekvenčního pásma	0,5 až 18 MHz			0,2 MHz až 26,5 MHz
Maximální šířka impulzu (PA)	500 ns			1000 ns
Napětí PA	40 V, 80 V a 115 V / unipolární záporný			10 Vpp, 20 Vpp, 40 Vpp, 80 Vpp, 120 Vpp a 160 Vpp / bipolární obdélníkový impulz
Kapacita interní SSD paměti	64 GB			1 TB
Veškeré další charakteristiky a technické parametry	Identické

Úplné řešení pro váš NDT pracovní postup MXU Software MXU defektoskopu OmniScan X3 vás provede celým pracovním postupem kontroly. Získejte další informace OmniPC Náš bezplatný software pro počítačově prováděnou analýzu OmniPC™ je kompatibilní s datovými soubory přístrojů OmniScan X3, OmniScan MX2 a OmniScan SX. Získejte další informace WeldSight PC software WeldSight™ pro pokročilou analýzu a pořizování dat je kompatibilní s defektoskopem OmniScan X3. Pro dosažení zvýšené produktivity umožňuje aplikace pro vzdálené připojení WeldSight Remote Connect, nainstalovaná na jednotce pro pořizování dat, provést celý pracovní postup kontroly pomocí softwaru WeldSight. Získejte další informace

Úplné řešení pro váš NDT pracovní postup

MXU

Software MXU defektoskopu OmniScan X3 vás provede celým pracovním postupem kontroly. Získejte další informace

OmniPC

Náš bezplatný software pro počítačově prováděnou analýzu OmniPC™ je kompatibilní s datovými soubory přístrojů OmniScan X3, OmniScan MX2 a OmniScan SX. Získejte další informace

WeldSight

	MXU Software pro provádění kontrol technikami PAUT, TOFD a TFM a analýzu dat Software MXU defektoskopu OmniScan X3 poskytuje zefektivněné, zjednodušené nabídky a pokročilé, avšak přesto intuitivní nástroje, které vás provedou celým pracovním postupem kontroly technikou UT, PA, TOFD a TFM, od nastavení až po vytvoření protokolu.

	Úplná zpětná kompatibilita OmniScan pro vaše pohodlí Použijte znovu datové soubory z předchozích verzí softwaru OmniPC i soubory nastavení z defektoskopů OmniScan MX2, SX a MX. Pro usnadnění přechodu jsou soubory nastavení .ops OmniScan kompatibilní s defektoskopem OmniScan X3 a datové soubory .opd jsou kompatibilní se softwarem OmniPC 5 a WeldSight.

	OmniPC PC software pro analýzu dat získaných metodou Phased Array a ultrazvukovým zkoušením Software pro provádění analýz OmniPC je doprovodný počítačový software k defektoskopu OmniScan X3. Nástroj pro provádění kontrol byl vytvořený těmi, kdo kontroly sami provádí. Software OmniPC nabízí výkon a funkční charakteristiky, které uspokojí všechny vaše potřeby základní analýzy dat a tvorby protokolů.