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Präzise, kontaktfreie Oberflächenrauheitsmessung

Kupferfolie für Leiterplatten

Leiterplatten für 5G-Anwendungen sind so konzipiert, dass sie Übertragungsverluste verhindern. Dazu wird die Oberflächenrauheit der Kupferschaltkreises minimiert.

Kupferfolie für Leiterplatten

Querschnitt einer Leiterplatte

Querschnitt einer Leiterplatte

Herkömmlich wurde die Benetzbarkeit auf der Seite der Kupferfolie verwendet, um die Qualität der Verbindung zwischen der Kupferfolienbasis und dem organischen Material zu steuern. Mit zunehmender Verbesserung der Funktionalität flexibler Leiterplatten steigt inzwischen auch die Nachfrage nach der Bewertung der Oberflächenrauheit der Kupferfolie. 

Kupferfolie für Leiterplatten

Wafer für akustische Oberflächenwellengeräte

Akustische Oberflächenwellengeräte nutzen Vibrationen, die durch eine feste Oberfläche übertragen werden, um bestimmte Signale aus den Hintergrund-Radiowellen zu extrahieren. Bei hochfrequenten 5G-Anwendungen wird die Rückseite des Wafers aufgeraut, um unerwünschte Frequenzen zu streuen.

Wafer für akustische Oberflächenwellengeräte

Wafer für akustische Oberflächenwellengeräte

Herausforderungen bei der Rauheitsmessung

Herkömmliche Rauheitsmessungen mit einem Kontaktstift können die Oberfläche der Probe beschädigen und sind nicht empfindlich genug, um kleinste Rauheitsabweichungen zu erkennen.

Rauheitsmessung mit einem Laser-Mikroskop

Das OLS5100 Laser-Mikroskop für 3D-Messungen ermöglicht eine hochgenaue, kontaktfreie Rauheitsmessung der Oberfläche von Kupferfolien und -wafern. Es kann hochauflösende Messungen der Oberflächenrauheit in sehr kleinen Bereichen durchführen, ohne die Oberfläche der Probe zu beschädigen.


3D-Messung von Kupferfolie

Mittel- und niederfrequente Anwendungen für Kupferfolie

Mittel- und niederfrequente Anwendungen für Kupferfolie

Hochfrequente 5G-Anwendungen für Kupferfolie

Hochfrequente 5G-Anwendungen für Kupferfolie

Hochauflösendes Bild der Kupferfolienoberfläche

Hochauflösendes Bild der Kupferfolienoberfläche

3D-Bild der Kupferfolienoberfläche

3D-Bild der Kupferfolienoberfläche


Rauheitsmessung der Rückseite von Lithiumtantalat-Wafern nach dem Aufrauhen von Kupfer

Sofortige Anzeige des aufgerauten Zustands

Sofortige Anzeige des aufgerauten Zustands

Erfassung genauer Daten basierend auf der Oberflächenrauheit

Erfassung genauer Daten basierend auf der Oberflächenrauheit

OLS5100 Laser-Mikroskop für 3D-Messungen

OLS5100
3D-Laser-Scanning-Mikroskop

Ressourcen zur Messung der Oberflächenrauheit


Ähnliche Anwendungsbeispiele:
Oberflächenrauheit von Kupferfolie für 5G-Leiterplatten

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