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Oberflächenrauheit von Kunststoffbeutel-Verschlussschienen


Messung der Flächenform im Mikrometerbereich mit Lasermikroskop

Kunststoffbeutel mit Verschluss
Kunststoffbeutel mit Verschluss

Anwendungsbereich

Kunststoffbeutel sind in unserem Alltag weit verbreitet. Kunststoffbeutel mit Verschluss sind sehr praktisch, weil sie leicht verschließen lassen, und auch wirtschaftlich, weil sie so oft wie nötig genutzt werden können. Das Material der Kunststoffbeutel ist sehr unterschiedlich, je nachdem, was der Kunststoffbeutel enthalten soll; typische Materialien für Kunststoffbeutel sind Polyethylen und Polypropylen. Eine der wichtigen Funktionen der Zip-Beutel ist der leckdichte Verschluss, der verhindert, dass der Inhalt ausläuft oder der Luft ausgesetzt wird. Die Kontrolle der Oberflächeneigenschaften der Oberseite der Verschlussschiene (des Bereichs, der bei verschlossenem Beutel mit seinem Gegenstück Kontakt hat) ist zur Gewährleistung eines leckdichten Verschlusses von entscheidender Bedeutung.

Die Lösung von Olympus

Das LEXT 3D-Laser-Scanning-Mikroskop von Olympus ermöglicht eine berührungslose 3D-Formmessung mit hoher Auflösung und hoher Präzision. Mit diesen Funktionen können die Anwender genaue Profilmessungen der Rauheit einer Oberfläche sowie der Tiefe (oder Höhe) von Unregelmäßigkeiten auf der Oberfläche durchführen. Das LEXT Mikroskop liefert die gleichen (zweidimensionalen) Rauheitsparameter wie Mikroskope mit Messtaster und erzeugt Messergebnisse, die mit den Ergebnissen der Mikroskope mit Messtastern kompatibel sind. Das LEXT Mikroskop liefert auch dreidimensionale Rauheitsparameter gemäß der Norm ISO 25178, sodass durch die Oberflächenauswertung mit 3D-Bildern sowie numerischen Daten mehr Informationen als nur die lineare Rauheit verfügbar sind. Bei herkömmlichen Mikroskopen mit Messtaster wäre es schwierig, Messungen durch Aufsetzen des Messtasters auf die dünne Schiene durchzuführen; das LEXT Mikroskop ermöglicht jedoch berührungslose Messungen bei niedrigen bis hohen Vergrößerungen, ohne den kleinen zu messenden Bereich aus dem Fokus zu verlieren.

Bilder einer Kunststoffbeutelschiene in verschiedenen Vergrößerungen

Plastic bag with zipper_ob20×z1
Objektiv 20X
1x vergrößert

Plastic bag with zipper_ob50×z1
 Objektiv 50X
1x vergrößert

Plastic bag with zipper_ob100×z3
Objektiv 100X
1x vergrößert

Plastic bag with zipper_ob100×z3
 Objektiv 100X
3x vergrößert

3D+Profil

Plastic bag with zipper_ob100×z3_3Dprofile

Plastic bag with zipper_ob100×z3_profile

Vor der Korrektur der gekrümmten Oberflächen

Plastic bag with zipper_ob100×z3_3Dprofile_change_scale

Plastic bag with zipper_ob100×z3_profile_change_scale

Nach Korrektur der gekrümmten Oberfläche 

Olympus IMS

应用所使用的产品

具有出色精度和光学性能的LEXT™OLS5100激光扫描显微镜配备了让系统更加易于使用的智能工具。其能够快速高效完成亚微米级形貌和表面粗糙度的精确测量任务,既简化了工作流程又能让您获得可信赖的高质量数据。

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