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Vanta RFA-Handanalysator - Vorteile von Graphen-Messfenstern

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Der Röntgenstrahldetektor im Analysator besitzt ein kleines Messfenster, durch das die Röntgenstrahlung eindringt und zum Detektor gelangt. Ohne dieses Fenster würde der Analysator nicht funktionieren. Das Material, aus dem dieses Fenster besteht, ist großer Bedeutung, da es die Effizienz des Geräts beeinflusst. Leichte Elemente (wie Magnesium, Aluminium und Silizium) zeigen eine sehr niedrige Röntgenstrahlung. Je dünner das Messfenster ist, desto mehr Röntgenstrahlen gelangen hindurch. Je mehr Röntgenstrahlung durch das Fenster in das Gerät dringt, desto höher ist die Empfindlichkeit des RFA-Handanalysators.

Das Messfenster bestand lange Zeit aus einer Beryllium-Folie. Beryllium ist sehr leicht, aber es ist schwierig herzustellen, zerbrechlich, spröde und giftig. Schon ein relativ geringer Aufprall kann das Fenster beschädigen. Wenn es zerbrochen ist, muss es ersetzt werden. Die meisten Beryllium-Fenster sind mindestens 8 Mikrometer dick.

Das Vanta Modell VMR besitzt nun ein Graphen-Messfenster, das nur 0,9 Mikrometer dick ist, was eine bessere Erkennung leichter Elemente als ein herkömmliches Beryllium-Fenster ermöglicht.

Vanta Graphen-Messfenster

Vorteile von Graphen-Messfenstern

Graphen besteht aus Kohlenstoff. Auch wenn das Fenster sehr dünn ist, ist es unglaublich robust. Durch ein Graphen-Messfenster gelangt mehr Röntgenstrahlen, wodurch die Empfindlichkeit des Analysators erhöht wird, um leichte Elemente, wie Magnesium (Mg), Aluminium (Al), Silizium (Si) und sogar Phosphor (P) und Schwefel (S), zu ermitteln. Im Gegensatz zu Beryllium ist Graphen nicht giftig.

Die einzigartigen Vorteile des Graphen-Messfensters des Vanta Modells VMR ermöglichen:

  • Schnellere Erkennung von Magnesium (Mg) in Aluminiumlegierungen (0,53 % Mg nach 3 Sekunden mit Strahl 2)
  • Niedrigere Nachweisgrenzen für Aluminium (Al) in Nickellegierungen
  • Schnellere Messung von Silizium (Si) unter 1000 ppm in niedriglegierten Stählen und mit höherer Präzision
  • Messung von Phosphor (P) und Schwefel (S) in niedriglegierten Stählen unter 0,035 %

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Portable Products Manager, Analytical Instruments

Ted has worked at Olympus for more than 11 years and has overseen the introduction of numerous innovations to the XRF product lines with a focus on bringing laboratory-quality data to the portable market. Ted has a Master's degree in Applied Physics and holds four patents.

四月 3, 2018
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