Die STM7-BSW Messunterstützungssoftware für Messmikroskope kann Prüfungen effizienter machen. Sie können Bilder erfassen und anzeigen, Beobachtungen und Messungen vornehmen und Berichte erstellen – alles über denselben Bildschirm.

• Genauere, schnellere und einfachere Messungen von Objekten mit komplexen Formen
• Erfassen Sie mit unserem kompletten Kameraangebot für hochpräzise Messungen klare, gestochen scharfe Bilder.
• Platzieren Sie die Probe und beginnen Sie mit der Messung – eine parallele Ausrichtung ist nicht erforderlich.
• Zeichnen Sie Messwiederholungen auf
• Praktische Funktionen eliminieren Subjektivität bei Messungen.
• Anpassbare Berichterstellung
• Erweiterte Erfassungsfunktionen

Objekte mit komplexen Formen schnell und genau messen

Es ist wichtig, dass Sie die Anzeige Ihres Messmikroskops klar und einfach sehen. Diese Software wurde genau dafür entwickelt und ermöglicht komplexe Messungen mit größerer Genauigkeit. Die Software ermöglicht die Verwendung digitaler Mikroskopkameras.

STM7-BSW Proben-Benutzeroberfläche

Erfassung klarer, scharfer Bilder mit unseren digitalen Mikroskopkameras

Hohe Leistung mit schneller Live-Anzeige

Ausgezeichnetes Preis-Leistungs-Verhältnis

Platzieren Sie die Probe und beginnen Sie mit der Messung – eine parallele Ausrichtung ist nicht erforderlich.

Originalachse	Neue Achse

XZ-Flächenmessung

Herkömmliche Messmikroskope messen die XY-Ebene direkt von oben. Auf Wunsch der Anwender haben wir jedoch eine XZ-Ebenen-Messfunktion in das STM7-BSW integriert, um die Messung von Querschnitten in der Seitenansicht zu ermöglichen. Damit werden Messungen, die früher schwierig waren, viel einfacher – z. B. Radiusmessungen an vertikalen Schnitte halbkugelförmiger Objekte oder die Messung der Tiefe von Nuten mit gekrümmtem Boden im Vergleich zu einer Referenzlinie.

R-Messung einer halbkugelförmigen Probe

Höhenmessung an einer Nut von der Basis und die Bezugslinie

Dokumentieren Sie regelmäßig verwendete Messverfahren

Makro-Registrierung

Häufig verwendete Ausrichtungs- und andere Messverfahren können kombiniert und einer Makrotaste zugeordnet werden, sodass Sie nicht bei jedem Einrichten des Mikroskops von vorne anfangen müssen.

Wiedergabe von Messungen

Messungen können mithilfe eines aufgezeichneten Arbeitsablaufs leicht wiederholt werden. Sie müssen lediglich die Bewegung des Tischs und die Koordinaten als Antwort auf eine Softwareaufforderung eingeben. Mit dieser Funktion kann dieselbe Messung an derselben Probe oder an verschiedenen Versionen derselben Probe wiederholt durchgeführt werden. Darüber hinaus kann die Software automatisch erkennen, ob eine Messung fehlgeschlagen ist, wenn im aufgezeichneten Arbeitsablauf ein Sollwert und eine Toleranz eingestellt sind.

Messpunktnavigation bei Wiedergabe einer Messung

Diese Funktion zeigt die Richtung und Entfernung zum nächsten Messpunkt an und trägt so dazu bei, Unklarheiten für den Bediener zu minimieren. Die Funktion eliminiert auch die Notwendigkeit, jedes Mal den nächsten Messpunkt auf dem Diagramm zu suchen, was den Arbeitsablauf bei Serien von wiederholten Messungen beschleunigt.

Praktische Funktionen eliminieren die Messsubjektivität

Automatische Kantenerkennung

Diese Funktion erkennt die Kanten der Probe und erfasst und misst automatisch deren Koordinaten. Dadurch müssen Sie keine Koordinaten mehr angeben, was die Subjektivität minimiert. Die automatische Kantenerkennung verfügt außerdem über einen Timer, mit dem die Koordinaten innerhalb eines bestimmten Zeitraums erfasst werden können. Durch einen Fußschalter kann sich der Bediener dabei auf die Messoperationen konzentrieren und muss nicht die Hände von den Tischgriffen nehmen.

Automatische Kantenerkennung innerhalb des Kreises

Automatische Mehrpunkt-Kantenerkennung

Beseitigung anormaler Punkte

Metallgrate und andere anormale Punkte können bei der Kantenerkennung automatisch ausgeschlossen werden. Dies erlaubt eine konsistente Berechnung von Messwerten unabhängig vom Zustand der Probe. Als anormal ausgeschlossene Punkte können auch in unterschiedlichen Farben auf dem Bildschirm angezeigt werden.

Probe mit anormalem Punkt

Beseitigung anormaler Punkte

Beleuchtungsregelung

Die Lichtstärke des Mikroskops kann durch genaue Softwaresteuerung aufrechterhalten werden. Lichtstärkeeinstellungen können auch bei der Aufzeichnung eines Arbeitsablaufs für die Wiederholungsmessung gespeichert werden, sodass die Messungen bei Wiederholungen oder automatischer Kantenerkennung immer unter den gleichen Bedingungen durchgeführt werden.

Automatische Vergrößerungserkennung (optional, nur mit kodiertem Objektivrevolver)

Durch den Einsatz des codierten Objektivrevolvers werden zuvor eingestellte Kalibrierwerte beim Objektivwechsel automatisch wieder abgerufen. So können Sie sicher sein, dass die richtige Skala angezeigt wird.

Erweiterte Erfassungsfunktionen

Panoramabilder (MIA) (optional)

Durch Kacheln mehrerer Bilder lässt sich ein einziges Bild im Großformat mit starker Vergrößerung aufnehmen. Da die Bilder anhand der Koordinatendaten gekachelt werden, kann das System sehr zuverlässige Bilder erzeugen.

Bild mit erweiterter Schärfentiefe (EFI) (optional)

Mit der EFI-Funktion lassen sich effektiv scharfe Bilder von Proben mit unebener, komplexer Oberflächenform erfassen. So kann ein Einzelbild mit in allen Positionen ausgerichteten Brennpunkten erstellt werden.
Mehrere Bilder mit unterschiedlichen Brennpunktpositionen lassen sich beim Verschieben der Z-Achse einfach verarbeiten. Alternativ kann das motorgesteuerte Modell für die automatische Bildzusammenstellung genutzt werden.

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