Evident LogoOlympus Logo

Mikroskoplösungen für
den Fertigungsprozess von Leiterplatten

Herstellung des Substrats

Es wird ein Substrat aus Glasfasern und Epoxidharz hergestellt und dann mit Kupferfolie überzogen. Die Oberflächenrauheit der Kupferfolie muss sorgfältig geprüft werden, da sie die Qualität der Leiterplatte beeinflusst.

Analyse der Oberfläche des Kupfersubstrats

Kleinste Fehler auf der Oberfläche beeinträchtigen die Qualität des Substrats. Prüfer müssen die Größe von winzigen Defekten (Mikroebene) auf dem Kupfersubstrat erkennen und messen.

Unsere Lösung

Unser DSX1000 Digitalmikroskop kann 3D-Bilder liefern, die eine Analyse des Oberflächenzustands des Substrats erleichtern. Das Mikroskop kann zudem die Breite und Tiefe von winzigen Defekten messen.

Digitalmikroskop der DSX-Serie

Digitalmikroskop der DSX-Serie

Oberflächenanalyse des Substrats

Oberflächenanalyse des Substrats

Anwendungsbeispiele

Weitere verwandte Anwendungen:

Prüfung von Bonddrähten mit einem Digitalmikroskop
Konfokales OLS5000 Laser-Mikroskop von Olympus zur Messung der Oberflächenrauheit von Leiterplatten Weitere Informationen
Messung der Oberflächenrauheit von Elektrodenkollektoren für Lithium-Ionen-Batterien
Messung der Oberflächenrauheit von Elektrodenkollektoren für Lithium-Ionen-Batterien Weitere Informationen

Analyse der Oberfläche des Kupfersubstrats

Eine raue Kupfersubstratoberfläche verschlechtert die Qualität der Laminierung, daher ist die Messung der Oberflächenrauheit auf dem Kupfersubstrat entscheidend für die Qualität der Leiterplatten. Ein Rauheitsmessgerät mit Taster kann nicht verwendet werden, da dieser Defekte auf dem Kupfersubstrat erzeugen würde.

Unsere Lösung

Unsere Laser-Scanning-Mikroskope der OLS-Serie ermöglichen die berührungslose Rauheitsmessung einer Kupfersubstratoberfläche. Das Gerät führt Messungen ohne Beschädigung der Oberfläche durch und kann aufgrund der hohen lateralen Auflösung Daten einer rauen Oberfläche genauer erfassen als ein Weißlichtinterferometer.

Laser-Scanning-Mikroskop der OLS-Serie

Laser-Scanning-Mikroskop der OLS-Serie

Oberflächenanalyse des Substrats

Oberflächenanalyse des Substrats

Anwendungsbeispiele

Weitere verwandte Anwendungen:

Prüfung von Bonddrähten mit einem Digitalmikroskop
Konfokales OLS5000 Laser-Mikroskop von Olympus zur Messung der Oberflächenrauheit von Leiterplatten Weitere Informationen
Messung der Oberflächenrauheit von Elektrodenkollektoren für Lithium-Ionen-Batterien
Messung der Oberflächenrauheit von Elektrodenkollektoren für Lithium-Ionen-Batterien Weitere Informationen
Bewertung der Oberflächenrauhheit von Speicherkarten
Bewertung der Oberflächenrauhheit von Speicherkarten Weitere Informationen
Not available in your country.
Not available in your country.
Sorry, this page is not available in your country