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Mikroskoplösungen für
den Fertigungsprozess von Leiterplatten

Bestückung der Oberfläche mit Elektronikbauteilen

Die Elektronikteile werden mit einem SMT-Montagegerät auf der Leiterplatte montiert. Dazu wird die Leiterplatte mit einer Heizmaschine erwärmt, die das Lot auf der Leiterplatte aufschmilzt. Das geschmolzene Lot fixiert die elektronischen Bauteile auf die Leiterplatte.

Vermessung montierter Elektronikteile

Die Messung der Höhe elektronischer Bauteilen ist wichtig zur Qualitätssicherung der Leiterplatten.

Unsere Lösung

Das DSX1000 Digitalmikroskop kann mit 3D-Bildgebung und 45-Grad-Schräglichtbeobachtung die Höhe von elektronischen Komponenten messen.

Digitalmikroskop der DSX-Serie

Digitalmikroskop der DSX-Serie

Seitenansicht der montierten elektronischen Komponenten

Seitenansicht der montierten elektronischen Komponenten

Anwendungsbeispiele

Weitere verwandte Anwendungen:

Überprüfung der Lötbarkeit von Montagekomponenten mit einem Mikroskop
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Erfassung klarer Bilder und genaue Messungen an einem Keramik-Schichtkondensator unter Verwendung eines digitalen Mikroskops
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Schnittanalyse bei der Ball Grid Array (BGA) Oberflächenmontage von Halbleitergehäusen mit dem konfokalen OLS5000 Lasermikroskop von Olympus
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Prüfen auf Whisker

Wachsende Whisker treten häufig an Drahtbrücken auf und können einen elektrischen Kurzschluss verursachen. Daher müssen Prüfer kontrollieren, ob sich Whisker gebildet haben.

Unsere Lösung

Unser DSX1000 Digitalmikroskop liefert 3D-Bilder für die Schräglichtmikroskopie, sodass Whiskers leicht gefunden werden können. Außerdem lässt sich so ein größerer Bereich beobachten als mit einem einfachen Metallurgie-Mikroskop.

Digitalmikroskop der DSX-Serie

Digitalmikroskop der DSX-Serie

Seitenansicht der montierten elektronischen Komponenten

Bild eines Whiskers

Anwendungsbeispiele

Weitere verwandte Anwendungen:

Erfassung klarer Bilder und genaue Messungen an einem Keramik-Schichtkondensator unter Verwendung eines digitalen Mikroskops
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Vollständige Prüfung von Kontaktstiften dank der großen Schärfentiefe eines Digitalmikroskops
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Überprüfung der Lötbarkeit von Montagekomponenten mit einem Mikroskop
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