Mikroskoplösungen für
die Herstellung von Halbleitern
IC-Entwurf
IC-Entwicklerfirmen überprüfen ihre entworfenen IC-Chips. Darüber hinaus analysieren IC-Chip-Hersteller die IC-Chip-Entwürfe bei der Testproduktion.
Sie können manuelle Geräte mit hoher Genauigkeit verwenden.
Mikroskopie der Oberfläche von IC-Chips
Unternehmen, die integrierte Schaltkreise (IC) entwickeln, müssen die Strukturen der entworfenen IC-Chips überprüfen. Außerdem müssen IC-Chip-Hersteller das IC-Chip-Design bei der Testproduktion analysieren. Da das Prüfvolumen gering ist, können Hersteller manuelle Geräte mit hoher Genauigkeit einsetzen.
Unsere Lösung
Unsere Industriemikroskope der BX/MX-Serie bieten eine bis zu 1.000-fache Vergrößerung, mit der IC-Strukturen mit einer Auflösung im Mikrometer- oder Submikrometerbereich beobachten werden können. Alternativ dazu bieten unsere Mikroskope der DSX-Serie neben hoher Benutzerfreundlichkeit eine bis zu 7.000-fache Vergrößerung.
Mikroskop der MX-Serie für die Halbleiterindustrie | Metallurgie-Mikroskop der BX-Serie | Digitalmikroskop der DSX-Serie |
Anwendungsbeispiele
Weitere verwandte Anwendungen:
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