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Mikroskoplösungen für
die Herstellung von Halbleitern

Gehäuse

Gehäuse für IC-Chips bestehen aus Epoxidharz.

Prüfung des Erscheinungsbildes des Gehäuses

Das Erscheinungsbild der Gehäuse muss auf Defekte an Harz und Kontaktstiften überprüft werden. Für diesen Vorgang wird ein Mikroskop mit intuitiver Bedienung benötigt.

Unsere Lösung

Unser Stereomikroskop der SZ-Serie kombiniert die einfache Bedienung mit großer Tiefenschärfe und erlaubt eine problemlose Mikroskopie der gesamten Probe.

Stereomikroskop der SZ-Serie

Stereomikroskop der SZ-Serie

Erscheinungsbild des Gehäuses

Erscheinungsbild des Gehäuses

Anwendungsbeispiele

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