Mikroskoplösungen für
die Herstellung von Halbleitern
Prüfung des Erscheinungsbildes des Gehäuses
Das Erscheinungsbild der Gehäuse muss auf Defekte an Harz und Kontaktstiften überprüft werden. Für diesen Vorgang wird ein Mikroskop mit intuitiver Bedienung benötigt.
Unsere Lösung
Unser Stereomikroskop der SZ-Serie kombiniert die einfache Bedienung mit großer Tiefenschärfe und erlaubt eine problemlose Mikroskopie der gesamten Probe.
Stereomikroskop der SZ-Serie | Erscheinungsbild des Gehäuses |
Anwendungsbeispiele
Weitere verwandte Anwendungen:
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