概述
Moderne Mikroskopie leicht gemachtMit ihrem modularen Konzept bietet die BX3M Serie Vielseitigkeit für ein breites Spektrum von Anwendungen in Industrie und Materialforschung. Dank der verbesserten Integration in die PRECiV Software ermöglichen BX53M Mikroskope reibungslose Arbeitsabläufe bei mikroskopischen Standardanwendungen und digitaler Bildgebung von der Untersuchung bis zur Berichterstellung. BX53M Produktvideo ansehen |
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Wählen Sie das beste Modell:Die sechs für BX53M empfohlenen Konfigurationen bieten Ihnen eine flexible Auswahl der gewünschten Funktionen.
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Schnelle und einfache BedienungDas BX53M vereinfacht komplexe Mikroskopieaufgaben durch seine durchdachten und benutzerfreundlichen Bedienelemente. Anwender können das Beste aus dem Mikroskop herausholen, ohne dass eine umfangreiche Schulung erforderlich ist. Die einfache und komfortable Bedienung des BX53M verbessert auch die Reproduzierbarkeit, da menschliche Fehler minimiert werden.
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FunktionalDas BX53M unterstützt die bekannten Verfahren der konventionellen Mikroskopie wie Hellfeld, Dunkelfeld, polarisiertes Licht und differentiellen Interferenzkontrast. Bei der Entwicklung neuer Materialien können viele der bei Standardverfahren auftretenden Schwierigkeiten bei der Erkennung von Defekten durch moderne Mikroskopieverfahren gelöst werden, welche genauere und zuverlässigere Prüfungen ermöglichen. Neue Beleuchtungstechniken und Optionen für die Bildaufnahme mit der PRECiV Bildanalyse-Software bieten dem Benutzer mehr Auswahlmöglichkeiten für die Auswertung seiner Proben und die Dokumentation der Ergebnisse.
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Zukunftsweisende OptikSeit Jahrzehnten entwickeln wir hochwertige Optiken sowie Mikroskope mit bewährter optischer Qualität und hervorragender Messgenauigkeit.
Mehr anzeigen | Wellenfront-Aberrationskorrektur
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配置
Äußerst zuverlässiges modulares SystemDie sechs für BX53M empfohlenen Konfigurationen erlauben eine flexible Auswahl der gewünschten Funktionen. |
Allgemeine Anwendungen | Spezielle Anwendungen | |||||||||
BasismodellEinfache Konfiguration mit Grundfunktionen | Standard-Modell
Einfache Verwendung mit
| Erweitertes ModellUnterstützung zahlreicher Zusatzfunktionen | Fluoreszenz-Modell
Ideal geeignet für
| Infrarot-ModellFür die Infrarot-Mikroskopie bei der Prüfung von integrierten Schaltkreisen | PolarisationsmodellFür die Beobachtung der Doppelbrechungseigenschaften | |||||
LCD-Farbfilter | Mikrogefüge mit ferritischen | Kupferdraht einer Spule | Fotolackrückstand auf integriertem Schaltkreis | Siliziumlayer eines integrierten Schaltkreises | Asbest | |||||
Spezifikationstabelle anzeigen
Basismodell | Standard-Modell | Erweitertes Modell | Fluoreszenz-Modell | Infrarot-Modell | Polarisationsmodell | |
Mikroskopstativ | Auflicht oder Auflicht/Durchlicht | Auflicht oder Auflicht/Durchlicht | Auflicht | Durchlicht | ||
Standard | R-HF oder T-HF | R-HF oder T-HF oder DF | R-HF oder T-HF oder DF oder MIX | R-HF oder T-HF oder DF oder FL | R-HF oder IR | T-HF oder POL |
Option | DIC | DIC/MIX | DIC | DIC/MIX | - | - |
Einfache Lichtquelle | - | - | - | - | ||
Legende zur Apertur | - | - | ||||
Codierte Hardware | - | - | ||||
Fokus-Skalenindex | ||||||
Light Intensity Manager | - | - | ||||
Bedienung über Handschalter | - | - | ||||
MIX-Mikroskopie | - | - | ||||
Objektive | 3 Objektive zur Auswahl, je nach Anwendung, | 3 Objektive zur Auswahl, je nach Anwendung, | Objektive für IR | Objektive für POL | ||
Tisch | 5 Tische zur Auswahl, je nach Größe der Proben | 5 Tische zur Auswahl, je nach Größe der Proben | Tisch für POL |
MIKROSKOPIEVERFAHREN
R-HF: Hellfeld (Auflicht)
*T-HF kann für ein Mikroskopstativ für Auflicht/Durchlicht verwendet werden. : Standard
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Beispielkonfigurationen für die Materialwissenschaft
Das modulare Design ermöglicht verschiedene Konfigurationen, je nach den Anforderungen der Bediener.
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BX53M: Auflicht- und Auflicht-/DurchlichtkombinationDie BX3M Serie bietet zwei verschiedene Mikroskopstative, eines nur für Auflichtmikroskopie und eines für Auflicht- und Durchlichtmikroskopie. Beide Stativtypen können mit manuellen, codierten oder motorgesteuerten Komponenten konfiguriert werden. Zum Schutz elektronischer Proben erfüllen die Stative ESD-Anforderungen. | Beispielkonfiguration BX53MRF-S | Beispielkonfiguration BX53MTRF-S |
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BX53M: Kombination für die IR-MikroskopieIR-Objektive können für Prüfungen, Messungen und Verarbeitung von Halbleitern eingesetzt werden, wenn eine Bildgebung durch Silizium hindurch erforderlich ist, um die Strukturen zu erkennen. Die Serie umfasst 5X- bis 100X-Infrarot(IR)-Objektive mit chromatischer Aberrationskorrektur vom sichtbaren Licht bis hin zum nahen Infrarotspektrum. Beim Arbeiten mit starker Vergrößerung können Aberrationen aufgrund der Dicke eines Objekts bei Objektiven der LCPLN-IR Serie durch Drehen des Korrekturringes korrigiert werden. Ein einziges Objektiv reicht aus, um immer ein klares Bild aufzunehmen. Für Einzelheiten zu den IR-Objektivlinsen hier klicken |
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BX53M: Kombination für die PolarisationsmikroskopieDie Optik der BX53M für die Polarisationsmikroskopie bietet Geologen das richtige Werkzeug für die Aufnahme kontrastreicher polarisationsmikroskopischer Bilder. Anwendungen, wie die Identifizierung von Mineralien, die Untersuchung der optischen Eigenschaften von Kristallen und die Betrachtung von Gesteinsdünnschliffen, profitieren von der Stabilität des Systems und der präzisen optischen Ausrichtung. | Orthoskopische Konfiguration: BX53-P | Konoskopische/orthoskopische Konfiguration: BX53-P |
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Bertrand-Linsen für konoskopische und orthoskopische MikroskopieMit dem Adapter U-CPA für konoskopische Betrachtung kann einfach und schnell zwischen orthoskopischer und konoskopischer Mikroskopie umgeschaltet werden. Eine Fokussierung auf klare Interferenzmuster in der hinteren Bildebene ist möglich. Die Bertrand-Feldblende ermöglicht ständig scharfe und klare konoskopische Bilder. |
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Umfassende Auswahl an Kompensatoren und VerzögerungsplattenFür die Messung der Doppelbrechung in Gestein und mineralischen Dünnschliffen stehen fünf verschiedene Kompensatoren zur Verfügung. Der Messbereich für den Gangunterschied reicht von 0 bis 20λ. Zur Erleichterung von Messungen und zum Erhalt hoher Bildkontraste können Berek- und Senarmont-Kompensatoren eingesetzt werden, die die Verzögerungsstufe im kompletten Sehfeld ändern. |
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Messbereich der Kompensatoren
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*R = Gangunterschied |
Spannungsfreie OptikDank unserer ausgereiften Konstruktion und der hochmodernen Fertigungstechnik ist die innere Spannung bei den UPLFLN-P Objektiven auf ein Minimum reduziert. Dies führt zu einem höheren EF-Wert und zu einem hervorragenden Bildkontrast. | Für Einzelheiten zu den UPLFLN-P Objektiven hier klickenFür Einzelheiten zu den PLN-P/ACHN-P Objektiven hier klicken |
BXFM SystemDas BXFM kann an spezielle Anwendungen angepasst oder in andere Instrumente integriert werden. Dank des modularen Aufbaus und einer Vielzahl kleiner Speziallichtquellen und Befestigungsvorrichtungen lässt sich das Mikroskop unkompliziert an spezielle Umgebungen und Konfigurationen anpassen. |
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Modularer Aufbau ermöglicht kundenspezifische Systeme |
MikroskopstativeEs stehen zwei verschiedene Mikroskopstative für die Auflichtmikroskopie zur Verfügung, eines davon eignet sich auch für die Durchlichtmikroskopie. Für größere Proben ist ein Adapter zum Anheben der Lichtquelle erhältlich.
Praktisches Zubehör für die Mikroskopie
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StativeFür Mikroskopieanwendungen, bei denen die Objekte nicht auf einen Tisch passen, können die Lichtquelle und die Optik an einem größeren Stativ oder einem anderen Gerät montiert werden. BXFM + BX53M Konfiguration der Lichtquelle
BXFM + U-KMAS Konfiguration der Lichtquelle
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TubenWählen Sie für die Mikroskopie mit Okularen oder mit einer Kamera Tuben entsprechend dem Bildtyp und der Haltung des Anwenders bei der Betrachtung aus.
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LichtquellenDie Lichtquelle wirft entsprechend dem gewählten Mikroskopieverfahren Licht auf das Objekt. Software-Schnittstellen mit codierten Lichtquellen erkennen die Filterwürfelposition und identifizieren automatisch das Mikroskopieverfahren. |
Codierte Funktion | Lichtquelle | HF | DF | DIC | POL | IR | FL | MIX | Aperturblende/Leuchtfeldblende | ||
1 | BX3M-RLAS-S | Feste 3-Würfel-Position | LED - eingebaut | ■ | ■ | ■ | ■ | - | - | ■ | ■ |
2 | BX3M-URAS-S | Montierbar, 4-Würfel-Position | LED | ■ | ■ | ■ | ■ | - | - | ■ | ■ |
Halogen | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | - | ■ | ■ | |||
Quecksilber/Lichtleiter | ■ | ■ | ■ | ■ | - | ■ | ■ | ■ | |||
3 | BX3M-RLA-S | LED | ■ | ■ | ■ | ■ | - | - | ■ | ■ | |
Halogen | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | - | ■ | ■ | |||
4 | BX3M-KMA-S | LED - eingebaut | ■ | - | ■ | ■ | - | - | ■ | - | |
5 | BX3-ARM | Mechanischer Arm für Durchlicht | |||||||||
6 | U-KMAS | LED | ■ | - | ■ | ■ | - | - | ■ | - | |
Halogen | ■ | - | ■ | ■ | ■ | - | ■ | - |
LichtquellenLichtquellen und Netzteile für die Probenbeleuchtung – wählen Sie die geeignete Lichtquelle für die Beobachtungsmethode. |
Standardkonfiguration für LED-Lichtquelle
Beleuchtungskonfiguration für Fluoreszenzbeleuchtung
| Konfiguration für Halogen- und Halogen-IR-Beleuchtung
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ObjektivrevolverAufnahme für Objektive und Schieber. Je nach der Anzahl und Typ der benötigten Objektive; auch mit/ohne Schieberadapter. |
Typ | Positionen | HF | DF | DIC | MIX | ESD |
Anzahl
Zentrierlöcher | ||
1 | U-P4RE | Manuell | 4 | ■ | ■ | 4 | |||
2 | U-5RE-2 | Manuell | 5 | ■ | |||||
3 | U-5RES-ESD | Codiert | 5 | ■ | ■ | ||||
4 | U-D6RE | Manuell | 6 | ■ | ■ | ||||
5 | U-D6RES | Codiert | 6 | ■ | ■ | ||||
6 | U-D5BDREMC | Motorgesteuert | 5 | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
7 | U-D6BDRE | Manuell | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
8 | U-D5BDRES-ESD | Codiert | 5 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
9 | U-D6BDRES-S | Codiert | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
10 | U-D6REMC | Motorgesteuert | 6 | ■ | ■ | ||||
11 | U-D6BDREMC | Motorgesteuert | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
12 | U-D5BDREMC-VA | Motorgesteuert | 5 | ■ | ■ |
SchieberWählen Sie einen Schieber als Ergänzung zur klassisches Hellfeldmikroskopie. Der DIC-Schieber liefert topografische Informationen über das Objekt mit Optionen zur Maximierung des Kontrasts oder der Auflösung. Der MIX-Schieber erlaubt dank einer segmentierten LED-Lichtquelle im Dunkelfeld-Strahlengang eine flexible Beleuchtung. |
DIC-Schieber
*1 1,25X und 2,5X unterstützen keine DIC-Beobachtung.
MIX-Schieber
| Kabel
Nur *MIXR |
Steuergeräte und HandschalterSteuergeräte für die Verbindung der Mikroskop-Hardware mit einem PC und Handschalter für die Hardware-Steuerung und -anzeige. Konfiguration BX3M-CB (CBFM)
Kabel
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TischeTische und Tischplatten zum Anbringen von Objekten. Auswahl je nach Form und der Größe der Objekte. |
Tischkonfiguration 150 mm × 100 mm
Tischkonfiguration 76 mm × 52 mm
| Tischkonfiguration 100 mm × 100 mm
Sonstiges
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Kamera-AdapterKamera-Adapter für die Mikroskopie. Auswahl je nach dem erforderlichen Sehfeld und der Vergrößerung. Der tatsächliche Beobachtungsbereich kann mit folgender Formel berechnet werden: tatsächliches Sehfeld (Diagonale mm) = Sehfeld (Betrachtungsnummer) ÷ Objektivvergrößerung. |
Vergrößerung | Zentrierungseinstellung | CCD-Bildbereich (Sehfeldzahl) (mm) | ||||
2/3 Zoll | 1/1,8 Zoll | 1/2 Zoll | ||||
1 | U-TV1x-2 mit U-CMAD3 | 1 | - | 10,7 | 8,8 | 8 |
2 | U-TV1xC | 1 | Ø 2 mm | 10,7 | 8,8 | 8 |
3 | U-TV0.63xC | 0,63 | - | 17 | 14 | 12,7 |
4 | U-TV0.5xC-3 | 0,5 | - | 21,4 | 17,6 | 16 |
5 | U-TV0.35xC-2 | 0,35 | - | - | - | 22 |
OkulareOkular für die direkte Betrachtung mit dem Mikroskop. Auswahl je nach dem erforderlichen Sehfeld und der Vergrößerung.
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Optische FilterOptische Filter verändern die Wellenlänge oder die Farbtemperatur des auf die Probe gestrahlten Lichts. Auswahl des geeigneten Filters, je nach den jeweiligen Mikroskopieanforderungen. |
HF, DF, FL
POL, DIC
| IR
Durchlicht
Sonstiges
*AN und PO sind bei Verwendung von BX3M-RLAS-S und U-FDICR nicht erforderlich. |
KondensorenKondensoren sammeln und bündeln das Licht. Sie werden für die Durchlichtmikroskopie verwendet.
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FiltermoduleFiltermodul für BX3M-URAS-S. Die Auswahl des Moduls erfolgt entsprechend den jeweiligen Mikroskopieanforderungen.
* Nur für koaxiale episkopische Beleuchtungen |
ZwischentubenUnterschiedliche Arten von Zubehör für verschiedene Zwecke. Zur Verwendung zwischen Tubus und Lichtquelle.
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UIS2 ObjektiveObjektive vergrößern das Objekt. Die Wahl des Objektivs für die Anwendung erfolgt auf der Grundlage von Arbeitsabstand, Auflösung und Mikroskopieverfahren. Klicken Sie hier, um weitere Einzelheiten zu den Objektiven UIS2 zu erfahren. |
简单易用
Herkömmliche Verfahren einfach nutzen:
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Intuitive Mikroskop-Bedienelemente:
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Schnelle FokuseinstellungDer Fokus-Skalenindex am Stativ erleichtert das schnelle Scharfstellen. Bediener können den Fokus grob einstellen, ohne das Objekt durch ein Okular zu betrachten, und sparen so Zeit bei der Prüfung von Objekten mit unterschiedlicher Höhe. |
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Leichte und ergonomische BedienungErgonomie ist für alle Anwender von höchster Bedeutung. Egal ob eigenständige Mikroskope verwendet werden oder die PRECiV Bildanalysesoftware integriert ist, die Benutzer profitieren in jedem Fall von komfortablen Bedienelementen am Handgerät, die die Hardwareposition deutlich anzeigen. Die einfachen Handgeräte ermöglichen es dem Benutzer, sich auf die Probe und die durchführenden Inspektionen zu konzentrieren. |
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Für konsistente Beleuchtung:
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Wiederherstellung der Mikroskopeinstellungen:
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功能
Unsichtbares wird sichtbar:
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Scharfe Bilder des gesamten Objekts: EFIDie Funktion Extended Focus Imaging (EFI) der PRECiV Software erfasst Bilder von Proben, deren Höhe über die Schärfentiefe des Objektivs hinausgeht, und stapelt sie zu einem einzigen Bild, das voll im Fokus ist. EFI kann entweder mit einer manuellen oder einer motorgesteuerten Z-Achse ausgeführt werden und erstellt eine Höhenkarte zur einfachen Visualisierung der Struktur. Die Erstellung von EFI-Bildern ist auch dann möglich, wenn der PRECiV Desktop offline ist. |
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Darstellung sowohl dunkler als auch heller Bereiche: HDRDurch moderne Bildverarbeitung gleicht die HDR-Funktion Helligkeitsunterschiede in Bildern aus, um Lichtreflexe zu reduzieren. HDR verbessert die Bildqualität digitaler Bilder und unterstützt die Erstellung professionell aussehender Berichte. | Klare Darstellung sowohl der dunklen wie auch der hellen Teile durch HDR (Probe: Kraftstoffeinspritzkolben) | Kontrastverstärkung durch HDR
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Bild einer Münze mit Instant MIA | Panoramaaufnahmen durch einfaches Bewegen des Tisches: Instant MIABilder können jetzt durch einfaches Bewegen des XY-Triebs eines manuell gesteuerten Tisches zusammengefügt werden. Ein motorgesteuerter Tisch ist nicht mehr erforderlich. PRECiV Software nutzt die Mustererkennung zur Erstellung von Panoramabildern, die dem Anwender ein größeres Sehfeld bieten als Einzelbilder. |
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Vielseitige Messfunktionen |
Routine- oder BasismessungenIn PRECiV stehen verschiedene Messfunktionen zur Verfügung, so dass der Anwender leicht nützliche Daten aus den Bildern entnehmen kann. Für die Qualitätskontrolle und Prüfung werden oft Messfunktionen für die Bilder benötigt. Alle PRECiV Lizenzen bieten interaktive Messfunktionen wie Abstände, Winkel, Rechtecke, Kreise, Ellipsen und Polygone. Alle Messergebnisse werden zusammen mit den Bilddateien für die weitere Dokumentation gespeichert. |
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Zählen und MessenDie Erkennung von Objekten und die Messung der Größenverteilung gehören zu den wichtigsten Anwendungen der digitalen Bildverarbeitung, PRECiV beinhaltet eine Erkennungs-Engine, die Schwellenmethoden einsetzt, um Objekte (z. B. Partikel, Kratzer) zuverlässig vom Hintergrund zu unterscheiden. |
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Lösungen für die MaterialwissenschaftenPRECiV bietet eine intuitive, an Arbeitsabläufen orientierte Benutzeroberfläche für komplexe Bildanalysen. Auf Knopfdruck können komplexeste Bildanalyseaufgaben schnell, präzise und nach den gängigsten Industriestandards durchgeführt werden. Mit einer deutlichen Verkürzung der Bearbeitungszeit bei wiederkehrenden Aufgaben können sich die Werkstoffwissenschaftler auf die Analyse und Forschung konzentrieren. Die Software kann jederzeit problemlos durch modulare Erweiterungen für Einschlüsse und Korngrößenvergleiche ergänzt werden. |
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3D-Oberflächenansicht (Testprobe für Oberflächenrauheit) | Einzelansicht und 3D-Profilmessung | 3D-ObjektvermessungBei Einsatz eines externen motorgesteuerten Fokustriebs kann ein EFI-Bild schnell in 3D aufgenommen und angezeigt werden. Die erfassten Höhendaten können für 3D-Messungen am Profil oder in der Einzelbildansicht verwendet werden. |
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Erfahren Sie mehr über PRECiV |
Darstellung von weiteren Probenarten und -größenDer neue, 150 × 100 mm große Tisch bietet einen längeren Verfahrweg in X-Richtung als frühere Modelle. Zusammen mit der flachen Bauweise ist es dadurch problemlos möglich, große (oder mehrere) Objekte auf dem Tisch anzubringen. Die Tischplatte ist mit Gewindebohrungen zum Anbau einer Objekthalterung versehen. Der größere Tisch bedeutet mehr Flexibilität für den Bediener, da dieser mehr Objekte mit einem Mikroskop prüfen und so wertvollen Laborraum sparen kann. Das einstellbare Drehmoment des Tisches erleichtert die Feinpositionierung bei starker Vergrößerung und kleinem Sehfeld. |
Flexibilität bei Objekthöhe und -gewichtMit der optionalen Moduleinheit können Proben bis zu 105 mm auf dem Tisch befestigt werden. Durch den verbesserten Fokussiermechanismus kann das Mikroskop ein Gesamtgewicht (Probe + Tisch) von bis zu 6 kg aufnehmen. Mit BX53M Mikroskopen können größere und schwerere Objekte geprüft werden, sodass weniger Mikroskope im Labor benötigt werden. Durch die dezentrierte Positionierung einer drehbaren Halterung für 6 Zoll Wafer kann der Anwender die gesamte Oberfläche des Wafers untersuchen, indem er einfach den Halter dreht, während er den Tisch über den 100-mm-Verfahrweg verschiebt. Die Drehmomenteinstellung des Tisches ist für einfache Bedienbarkeit optimiert, der komfortable Handgriff des Triebs erleichtert das Auffinden des gewünschten Objektbereichs. | BX53MRF-S |
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BXFM | Flexibilität bei der ObjektgrößeSind Objekte zu groß, um sie auf einem herkömmlichen Mikroskoptisch anzubringen, können die optischen Kernkomponenten für die Auflichtmikroskopie in einer modularen Konfiguration genutzt werden. Das BXFM kann als modulares System mithilfe einer Säule an einem größeren Stativ oder mithilfe einer Halterung an einem anderen Gerät montiert werden. Auf diese Weise können Bediener die herausragende Optik nutzen, auch wenn ihre Objekte ungewöhnliche Größen oder Formen haben. |
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Schutz elektronischer Geräte vor elektrostatischer Entladung: ESD-kompatibelDas BX53M ist mit einer ESD-Ableitung ausgestattet, die elektronische Bauteile vor statischer Aufladung durch Mensch oder Umwelt schützt. |
图像清晰
Spitzenoptik mit Tradition |
Mit hoher numerischer Apertur und großem Arbeitsabstand
Objektive bestimmen maßgeblich die Leistung eines Mikroskops.
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Erfahren Sie mehr zu MXPLFLN Objektiven |
Überragende optische Eigenschaften:
| „Schlechte“ Wellenfront | „Gute“ Wellenfront (Objektiv UIS2) |
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Halogenlampe: Die Farbe variiert mit der Lichtintensität. | LED: Die Farbe bleibt bei unterschiedlichen Lichtintensitäten gleich und ist genauer definiert als bei Halogenlampe. |
Konsistente Farbtemperatur:
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Mehr Leistung durch höchste Qualität |
Unterstützung genauer Messungen:
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Halbleiter-Wafer (binarisiertes Bild): |
Nahtloses Stitching:
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Erfahren Sie mehr über PRECiV |
应用
Integrierter Schaltkreis auf einem Halbleiter-WaferDas Dunkelfeld wird zur Erkennung von sehr kleinen Kratzern oder Fehlern auf einer Probe oder zur Prüfung von Proben mit reflektierenden Oberflächen, wie Wafern, eingesetzt. MIX-Beleuchtung macht es möglich, sowohl Muster als auch Farben darzustellen. | MIX (Hellfeld + Dunkelfeld) | Dunkelfeld |
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Fluoreszenz | MIX (Fluoreszenz + Dunkelfeld) | Fotolackrückstand auf einem Halbleiter-WaferDie Fluoreszenzmikroskopie wird für Objekte verwendet, die Licht emittieren, wenn sie mit Licht einer bestimmten Wellenlänge (erzeugt mit einem speziellen Filterwürfel) beleuchtet werden. Dies wird zur Erkennung von Verunreinigungen und Fotolackrückständen verwendet. Die MIX-Beleuchtung ermöglicht die Betrachtung von Fotolackrückständen und IC-Strukturen. |
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LCD-FarbfilterDiese Beobachtungstechnik eignet sich für transparente Proben wie LCDs, Kunststoffe und Glasmaterialien. Die MIX-Beleuchtung ermöglicht die Darstellung sowohl des Farbfilters als auch der integrierten Schaltung. | Durchlicht | MIX (Durchlicht + Hellfeld) |
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Hellfeld | Differenzieller Interferenzkontrast (DIC) | KugelgrafitgusseisenDIC ist ein Mikroskopieverfahren, bei dem die Höhe einer Probe als Relief sichtbar ist, ähnlich einem 3D-Bild mit verbessertem Kontrast. Es eignet sich für Prüfungen von Proben mit geringen Höhenunterschieden, beispielsweise metallurgischer Strukturen und Mineralien. |
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SerizitDie differenzielle Interferenzkontrastmikroskopie (DIC) ist eine Mikroskopiestechnik, bei der die Höhe eines Objekts, das normalerweise im Hellfeld nicht erkennbar ist, als Relief sichtbar wird, ähnlich einem 3D-Bild mit verstärktem Kontrast. Sie eignet sich hervorragend zur Prüfung von Objekten mit sehr geringen Höhenunterschieden, beispielsweise metallurgischen Gefügen und Mineralien. | Hellfeld | Polarisiertes Licht |
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Infrarot (IR) | Lötflächen einer IC-StrukturIR wird zur Erkennung von Defekten in IC-Chips und anderen Teilen aus Silizium auf Glas verwendet. |
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规格
SPEZIFIKATIONEN FÜR BX53M MODELLE FÜR ALLGEMEINE ANWENDUNGEN |
Basismodell | Standard-Modell | Erweitertes Modell | |||||||
Optisches System | Optisches System UIS2 (unendlich korrigiert) | ||||||||
Haupteinheit | Mikroskopstativ | BX53MRF-S (Auflicht) | BX53MTRF-S (Auflicht/Durchlicht) | BX53MRF-S (Auflicht) | BX53MTRF-S (Auflicht/Durchlicht) | BX53MRF-S (Auflicht) | BX53MTRF-S (Auflicht/Durchlicht) | ||
Scharfeinstellung |
Hub: 25 mm
Feintrieb: 100 µm je Umdrehung Kleinste Unterteilung: 1 μm Mit oberem Anschlag und Drehmomenteinstellung für Grobtrieb | ||||||||
Max. Höhe des Objekts |
Auflicht: 65 mm (ohne Distanzstück), 105 mm (mit BX3M-ARMAD)
Auflicht/Durchlicht: 35 mm (ohne Distanzstück), 75 mm (mit BX3M-ARMAD) | ||||||||
Beobachtungstubus | Großes Sehfeld (Sehfeldzahl 22) | U-TR30-2-2 Invers: trinokular | |||||||
Beleuchtung |
Auflicht
Durchlicht | BX3M-KMA-S Weißlicht-LED, HF/DF/DIC/POL/MIX Leuchtfeldblende, Aperturblende (mit Zentrierungsmechanismus), HF/DF-Verriegelung | BX3M-RLAS-S Codiert, Weißlicht-LED, HF/DF/DIC/POL/MIX Leuchtfeldblende, Aperturblende (mit Zentrierungsmechanismus), HF/DF-Verriegelung | ||||||
- | BX3M-LEDT Weißlicht-LED Abbé-Kondensoren/Kondensoren mit großem Arbeitsabstand | - | BX3M-LEDT Weißlicht-LED Abbé-Kondensoren/Kondensoren mit großem Arbeitsabstand | - | BX3M-LEDT Weißlicht-LED Abbé-Kondensoren/Kondensoren mit großem Arbeitsabstand | ||||
Objektivrevolver | U-5RE-2 Für HF: Fünffach | U-D6BDRE Für HF/DF: Sechsfach | U-D6BDRES-S Für HF/DF: Sechsfach, codiert | ||||||
Okular (Sehfeldzahl 22) | WHN10
WHN10X-H | ||||||||
MIX-Mikroskopie | - | BX3M-CB Steuereinheit BX3M-HS Handschalter U-MIXR-2 MIX-Schieber zur Auflichtmikroskopie U-MIXRCBL Kabel für MIXR | |||||||
Kondensor (großer Arbeitsabstand) | - | U-LWCD | - | U-LWCD | - | U-LWCD | |||
Stromkabel | UYCP (x1) | UYCP (x2) | |||||||
Gewicht |
Auflicht: Ca. 15,8 kg (Mikroskopstativ 7,4 kg)
Auflicht/Durchlicht: ca. 18,3 kg (Mikroskopstativ 7,6 kg) | ||||||||
Objektive | MPLFLN Satz | MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X HF/POL/FL-Beobachtung | - | ||||||
MPLFLN BD Satz | - | MPLFLN5XBD, 10XBD, 20XBD, 50XBD, 100XBD Beobachtung im HF/DF/DIC/POL/FL | |||||||
MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD Satz | - | MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Beobachtung im HF/DF/DIC/POL/FL | |||||||
MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD, LMPLFLN-BD Satz | - | MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Beobachtung im HF/DF/DIC/POL/FL | |||||||
Tisch (X × Y) | 76 mm × 52 mm Satz | U-SVRM, U-MSSP Koaxialer Tisch mit rechtem Trieb: 76 (X) × 52 (Y) mm, mit Drehmomenteinstellung | |||||||
100 mm × 100 mm Satz | U-SIC4R2, U-MSSP4 Großer, koaxialer Tisch mit rechtsseitigem Trieb / 100 (X) × 100 (Y) mm, mit Verriegelungsmechanismus der Y-Achse | ||||||||
100 mm × 100 (G) mm Satz | U-SIC4R2, U-MSSPG Großer, koaxialer Tisch mit rechtsseitigem Trieb / 100 (X) × 100 (Y) mm, mit Verriegelungsmechanismus der Y-Achse (Glaseinlageplatte) | ||||||||
150 mm × 100 mm Satz | U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Großer, koaxialer Tisch mit rechtsseitigem Trieb / 150 (X) × 100 (Y) mm, mit Drehmomenteinstellung, mit Verriegelungsmechanismus der Y-Achse | ||||||||
150 mm × 100 (G) mm Satz | U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Großer, koaxialer Tisch mit rechtsseitigem Trieb / 150 (X) × 100 (Y) mm, mit Drehmomenteinstellung, mit Verriegelungsmechanismus der Y-Achse (Glaseinlageplatte) | ||||||||
Option | MIX-Mikroskopiesatz* | BX3M-CB, BX3M-HS, U-MIXR-2, U-MIXRCBL | - | ||||||
DIC* | U-DICR | ||||||||
Zwischentuben | U-CA, U-EPA2, U-TRU | ||||||||
Filter | U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-25IF550, U-25L42, U-25, U-25FR | ||||||||
Filter für Kondensor | 43IF550-W45, U-POT | ||||||||
Tischplatte | U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR65, U-WHP2 | ||||||||
Objekthalterung | U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4 | ||||||||
Griffgummi | U-SHG, U-SHGT |
*Kann nicht mit U-5RE-2 verwendet werden.
ESD für BX53M/BXFM
Elemente | Mikroskopstativ | BX53MRF-S, BX53MTRF-S |
Lichtquelle | BX3M-KMA-S, BX3M-RLA-S, BX3M-URAS-S, BX3M-RLAS-S | |
Objektivrevolver | U-D6BDREMC, U-D6BDRES-S, U-D5BDREMC-ESD, U-5RES-ESD | |
Tisch | U-SIC4R2, U-MSSP4 |
SPEZIFIKATIONEN FÜR BX53M MODELLE FÜR SPEZIELLE ANWENDUNGEN |
Fluoreszenz-Modell | Infrarot-Modell | Polarisationsmodell | |||||
Optisches System | Optisches System UIS2 (unendlich korrigiert) | ||||||
Haupteinheit | Mikroskopstativ | BX53MRF-S (Auflicht) | BX53MTRF-S (Auflicht/Durchlicht) | BX53MRF-S (Auflicht) | BX53MTRF-S (Auflicht/Durchlicht) | ||
Scharfeinstellung |
Hub: 25 mm
Feintrieb: 100 µm je Umdrehung Kleinste Unterteilung: 1 μm Mit oberem Anschlag und Drehmomenteinstellung für Grobtrieb | ||||||
Max. Höhe des Objekts |
Auflicht: 65 mm (ohne Distanzstück), 105 mm (mit BX3M-ARMAD)
Auflicht/Durchlicht: 35 mm (ohne Distanzstück), 75 mm (mit BX3M-ARMAD) | ||||||
Beobachtungstubus | Großes Sehfeld (Sehfeldzahl 22) | U-TR30-2 Invers: trinokular | U-TR30IR Invers: Binokular mit Kameratubus für IR | U-TR30-2 Invers: trinokular | |||
Polarisations-Zwischenadapter (U-CPA) | Bertrand-Objektiv | - | - | Fokussierbar | |||
Bertrand-Leuchtfeldblende | - | - | Ø3,4 mm Durchmesser (fest) | ||||
Einschieben oder Ausschwenken der Bertrand-Linse beim Wechsel zwischen orthoskopischer und konoskopischer Mikroskopie | - | - |
Position des Schiebers ● ein
Position des Schiebers ○ aus | ||||
Analysatoreinschub | - | - | Drehbarer Analysator mit Einschub (U-AN360P-2) | ||||
Beleuchtung | Auflicht | FL-Mikroskopie | BX3M-URAS-S Codiertes Universal-Auflicht, 4-Positionen-Modulrevolver, (Standard: U-FWUS, U-FWBS, U-FWGS, U-FBF usw.) mit FS, AS (mit Zentriermechanismus), mit Verschlussmechanismus | - | - | ||
IR-Mikroskopie | - | BX3M-RLA-S 100 W Halogenlampe für IR, HF/IR, AS (mit Zentriermechanismus) U-LH100IR (mit 12 V 10 W Halogenlampe) 100 W Halogenlichtquelle für IR TH4-100 100 W Netzteil TH4-HS Handschalter U-RMT Verlängerungskabel | - | ||||
Durchlicht | POL-Mikroskopie | - | - | BX3M-LEDT Weißlicht-LED Abbé-Kondensoren/Kondensoren mit großem Arbeitsabstand | |||
Objektivrevolver | U-D6BDRES-S Für HF/DF: Sechsfach, codiert | U-5RE-2 Für Hellfeld : Fünffach | U-P4RE Vierfache, zentrierbare, aufsteckbare Komponenten 1/4 Wellenlängenverzögerungsplatte (U-TAD), Farbtonplatte (U-TP530) und verschiedene Kompensatoren können mit einem Plattenadapter (U-TAD) montiert werden. | ||||
Okular (Sehfeldzahl 22) | WHN10X | ||||||
WHN10X-H | CROSS-WHN10X | ||||||
Filtermodule | U-FDF Für DF U-FBFL Für HF, integrierter ND-Filter U-FBF Für HF, abnehmbarer ND-Filter U-FWUS Für ultraviolette FL U-FWBS Für blaue FL U-FWGS Für grüne FL | - | |||||
Filter / Polarisator / Analysator | U-25FR Mattfilter | U-BP1100IR/U-BP1200IR Bandpassfilter für IR | 43IF550-W45 Grünfilter | ||||
U-POIR Auflicht-Polarisationsschieber für IR | U-AN360IR Drehbarer Analysatorschieber für IR | U-AN360P-2 360° drehbar Mindestdrehwinkel 0,1° | |||||
Kondensor | U-LWCD Großer Arbeitsabstand | - | U-POC-2 Spannungsfreier Achromat-Kondensor. Um 360° drehbarer Polarisator mit klappbarem Achromat als obere Linse. Klickstopp in Position „0°“ ist einstellbar. NA 0,9 (obere Linse ein) / NA 0,18 (obere Linse aus) Aperturblende: Öffnung einstellbar von 2 mm bis 21 mm Durchmesser | ||||
Schieberegler / Kompensatoren | - | U-TAD Schieber (Adapter für Kompensatoren) | |||||
U-TP530 Hilfspräparat U-TP137 Verzögerungsplatte für 1/4-Wellenlänge | |||||||
Stromkabel | UYCP (x1) | UYCP (x2) | UYCP (x1) | ||||
Gewicht | Auflicht: Ca. 15,8 kg (Mikroskopstativ 7,4 kg) | Auflicht/Durchlicht: ca. 18,3 kg (Mikroskopstativ 7,6 kg) | Ca. 18,9 kg (Mikroskopstativ 7,4 kg) | Ca. 16,2 kg (Mikroskopstativ 7,6 kg) | |||
Auflicht FL-Lichtquelle | Lichtleiter | U-LGPS, U-LLGAD, U-LLG150, Lichtleitersatz | - | - | |||
Quecksilberlampe | U-LH100HGAPO1-7, USH-103OL (x2), U-RFL-T, U-RCV, Quecksilberlampensatz | - | - | ||||
Objektive | MPLFLN Satz | MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X Beobachtung im HF/DIC/POL/FL | - | - | |||
MPLFLN BD Satz | MPLFLN5XBD, 10XBD, 20XBD, 50XBD, 100XBD Beobachtung im HF/DF/DIC/POL/FL | - | - | ||||
MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD Satz | MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Beobachtung im HF/DF/DIC/POL/FL | - | - | ||||
MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD, LMPLFLN-BD Satz | MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Beobachtung im HF/DF/DIC/POL/FL | - | - | ||||
IR Satz | - | LMPLN5XIR,10XIR,LCPLN20XIR,50XIR,100XIR IR-Mikroskopie | - | ||||
POL Satz | - | - | UPLFLN4XP, 10XP, 20XP, 40XP POL-Mikroskopie | ||||
Tisch (X × Y) | 76 mm × 52 mm Satz | U-SVRM, U-MSSP Koaxialer Tisch mit rechtem Trieb: 76 (X) × 52 (Y) mm, mit Drehmomenteinstellung | |||||
100 mm × 100 mm Satz | U-SIC4R2, U-MSSP4 Großer, koaxialer Tisch mit rechtsseitigem Trieb / 100 (X) × 100 (Y) mm, mit Verriegelungsmechanismus der Y-Achse | ||||||
100 mm × 100 (G) mm Satz | U-SIC4R2, U-MSSPG Großer, koaxialer Tisch mit rechtsseitigem Trieb / 150 (X) × 100 (Y) mm, mit Verriegelungsmechanismus der Y-Achse (Glaseinlageplatte) | ||||||
150 mm × 100 mm Satz | U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Großer, koaxialer Tisch mit rechtsseitigem Trieb / 150 (X) × 100 (Y) mm, mit Drehmomenteinstellung, mit Verriegelungsmechanismus der Y-Achse | ||||||
150 mm × 100 (G) mm Satz | U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Großer, koaxialer Tisch mit rechtsseitigem Trieb / 150 (X) × 100 (Y) mm, mit Drehmomenteinstellung, mit Verriegelungsmechanismus der Y-Achse (Glaseinlageplatte) | ||||||
POL Satz | - | U-SRP+U-FMP Polarisations-Drehtisch + mechanische Objektführung | |||||
Option | MIX-Mikroskopiesatz* | BX3M-CB, BX3M-HS, U-MIXR-2, U-MIXRCBL | |||||
DIC* | U-DICR | ||||||
Zwischentuben | U-CA, U-EPA2, U-TRU | ||||||
Filter | U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-25IF550, U-25L42, U-25, U-25FR | ||||||
Filter für Kondensor | 43IF550-W45, U-POT | ||||||
Tischplatte | U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR65, U-WHP2 | ||||||
Objekthalterung | U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4 | ||||||
Griffgummi | U-SHG, U-SHGT |
*Kann nicht mit U-5RE-2 verwendet werden
资源
AnwendungsbeispieleVideoHandbücher |