Medición microscópica con un microscopio láser
Cubiertas de interruptores para automoción
(1) Aplicación
Los grabados en la superficie del panel de instrumentos, los asientos, la tapicería de las puertas y otros componentes interiores de los automóviles aumentan el valor estético estos productos y la satisfacción de sus compradores.
Los botones de los interruptores que se ubican en las puertas son uno de estos componentes estéticos y tanto su material, textura como su color, en proporción al resto de la tapicería de la puerta, afectan en gran medida el valor del producto en su conjunto. A pesar de la importancia que tiene la impresión emocional originada por las diferencias en el diseño de dichos interruptores, es necesario que los fabricantes de automóviles lleven a cabo evaluaciones cuantitativas.
(2) Solución Olympus
La textura de los grabados en los interruptores de las puertas puede evaluarse usando el microscopio de escaneo láser en 3D LEXT OLS5000 de Olympus, cuya capacidad brinda una visualización de datos en 3D con alta resolución y alta precisión, y permite llevar a cabo análisis de rugosidad superficial. El sistema óptico láser del microscopio LEXT OLS5000 si bien no entra en contacto con la muestra proporciona los mismos parámetros de rugosidad (bidimensional) que los microscopios de contacto, y genera resultados compatibles. El microscopio OLS5000 también proporciona parámetros de rugosidad en modo tridimensional conforme a la norma ISO25178, lo que permite adquirir más información que simplemente la rugosidad lineal a través de una evaluación del área superficial usando imágenes 3D y datos numéricos. Los datos de alta resolución pueden adquirirse para varios puntos de la superficie guardando las coordenadas de la medición en el modo de aplicación mosaico. Todo ello permite aumentar el campo de visión exponencialmente.
Imágenes
(1) Muestra A (objetivo 20X, aplicación mosaico 3×3 de puntos de 640 µm2 para un campo de visión efectivo de 1800 µm2) | ||
Punto de medición 1 |
Punto de medición 2 |
Punto de medición 3 |
| Parámetro | Sq [µm] | Sa [µm] | Sz [µm] |
| Punto 1 | 3,402 | 2,536 | 27,709 |
| Punto 2 | 4,655 | 3,438 | 36,533 |
| Punto 3 | 4,616 | 3,541 | 37,549 |
| Promedio | 4,367 | 3,299 | 33,438 |
| Desviación estándar | 0,647 | 0,519 | 4,527 |
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Punto de medición 1 |
Punto de medición 2 |
Punto de medición 3 |
| Parámetro | Sq [µm] | Sa [µm] | Sz [µm] |
| Punto 1 | 8,467 | 6,927 | 57,411 |
| Punto 2 | 9,235 | 7,576 | 57,320 |
| Punto 3 | 9,190 | 7,488 | 63,444 |
| Promedio | 8,983 | 7,340 | 59,441 |
| Desviación estándar | 0,354 | 0,288 | 2,867 |
