Diversas técnicas de microscopía con microscopios digitales
Placa de circuito impreso
1. Aplicación
A medida que los dispositivos electrónicos devienen más pequeños, los orificios pasantes en la placa de circuito impreso (PCB) se presentan más densos. Paralelamente, los fabricantes están dedicando mayor importancia a la calidad de dichos orificios. Cuando un orificio pasante es creado en una placa, puede que queden restos de resina durante el proceso de perforación; por lo tanto, cuando la placa es sometida a un proceso de revestimiento, los restos de resina impedirán la conducción con la lámina de cobre interior, lo que genera un estado de desconexión. Por consiguiente, es fundamental controlar la presencia de restos de resina antes del revestimiento. Incluso después del revestimiento, los orificios contaminados pueden provocar una resistencia eléctrica al cambio, lo que puede conllevar a un cortocircuito. Por ende, es importante controlar que no exista contaminación en los orificios.
2. Solución Olympus
Los contaminantes que se adhieren a la pared interior de un orificio pasante se ubican en diversos niveles de altura, por lo que el enfoque en dirección vertical resulta necesario durante la observación con un microscopio. Gracias a la función de imagen focal extendida (EFI) del microscopio DSX de Olympus, el enfoque se orienta en función de la dirección de altura al mismo tiempo que mantiene una visión clara y permite que el sistema cree de forma automática una imagen completamente enfocada de todo el orificio. El microscopio DSX ofrece diversos métodos de observación, como el campo claro, el campo oscuro, MIX (una combinación de campo claro y campo oscuro), interferencia diferencial y polarización. Los usuarios pueden seleccionar el método de observación que mejor se adapte a su aplicación con tan solo un clic a fin de eliminar ajustes complicados que debían hacerse en los microscopios convencionales. La pared interna del orificio pasante es oscura y difícil de ver con una iluminación reflejada; sin embargo, la integración de la iluminación transmitida facilita una mejor confirmación de los contaminantes. Al usar la iluminación reflejada y la iluminación transmitida, se puede observar al mismo tiempo la superficie de la placa y la pared interior del orificio.
Imágenes
(1) Diversas técnicas microscópicas desarrolladas para satisfacer a su aplicación
 Campo claro |  MIX (campo claro + campo oscuro) |  Polarización |
(2) Observación de restos de resina usando la iluminación transmitida
