Evident LogoOlympus Logo
资源库
应用说明
返回到资源库

Evaluación de rugosidad en tarjetas de memoria


Medición de la forma a escala micrométrica con un microscopio láser

Tarjeta de memoria
Tarjeta de memoria

(1) Aplicación

Las tarjetas de memoria presentan varias dimensiones y son ampliamente usadas como medio de almacenamiento destinado a las cámaras digitales, teléfonos celulares y dispositivos de grabación, etc. Las tarjetas son introducidas en las ranuras de estos dispositivos y su rugosidad superficial tiene efectos en la facilidad de inserción. Ya que el nivel de rugosidad superficial de las tarjetas determina su valor comercial, su medición es importante en los controles de calidad. El control de calidad con medidores convencionales de rugosidad presenta limitaciones debido al contacto requerido con la superficie bajo inspección; y, por lo general, estos solo miden la altura (rugosidad) a lo largo de una sola línea de desplazamiento.

(2) Solución

El microscopio de escaneo láser 3D LEXT OLS5000 de Olympus otorga perfiles de alta resolución y precisión de la muestra en 3D sin establecer ningún contacto con la superficie examinada. A los efectos de este, los usuarios pueden obtener imágenes claras y de alta resolución mediante el uso de un sistema óptico confocal. El sistema usa parámetros tridimensionales de rugosidad, conformes a la normativa ISO 25178, lo que permite una evaluación del área superficial sin contacto. Su amplia evaluación superficial es idónea en irregularidades aleatorias, proporcionando de esta manera más información de medición a diferencia de los medidores de rugosidad convencionales, cuya medición se ejecuta a lo largo de una sola línea. El microscopio OLS5000 también incluye la función estándar de platina automática, la cual facilita la adquisición de datos a partir de múltiples puntos en la superficie al grabar coordenadas de medición y usar la función mosaico.

Imágenes

(1) Muestra A (objetivo: 20X; campo de visión efectivo: 640 µm)

Punto de medición 1

Punto de medición 1

Punto de medición 2

Punto de medición 2

Punto de medición 3

Punto de medición 3

Parámetro Sq [µm] Sa [µm] Sz [µm] Sku [µm]
Punto 1 3,5 2,897 26,501 2,518
Punto 2 3,766 3,033 30,446 2,966
Punto 3 3,626 2,955 25,5 2,741
Promedio 3,631 2,962 27,482 2,742
Desviación estándar 0,133 0,068 2,615 0,224


(2) Muestra B (Objetivo: 20X. Campo de visión efectivo: 640 µm)

Punto de medición 1

Punto de medición 1

Punto de medición 2

Punto de medición 2

Punto de medición 3

Punto de medición 3

Parámetro Sq [µm] Sa [µm] Sz [µm] Sku [µm]
Punto 1 1,608 1,259 17,946 3,833
Punto 2 1,579 1,241 18,158 3,86
Punto 3 1,646 1,296 22,166 3,936
Promedio 1,611 1,265 19,423 3,876
Desviación estándar 0,034 0,028 2,378 0,053
Olympus IMS

应用所使用的产品
NEW

El microscopio de escaneo láser LEXT™ OLS5100 combina precisión y rendimiento óptico a un nivel excepcional junto con herramientas inteligentes que facilitan su uso. Las tareas de medición precisa y submicrométrica con respecto a la forma y la rugosidad superficial son rápidas y eficientes, lo que simplificará su flujo de trabajo y proporcionará datos de alta calidad en los que puede confiar.

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country