Científicos de aplicación, pertenecientes al grupo de fluorescencia de rayos X (XRF) participaron en la 12a Conferencia Europea de Ensayos No Destructivos (ECNDT 2018) que tuvo lugar en Gothenburg (Suecia) para discutir temas interesantes, entre los cuales destacan la monitorización del vidrio y la medición de espesor de los revestimientos.
Puede consultar la documentación y presentaciones a continuación para ponerse al día de todo lo que ha podido perderse.
Medición de espesores con un analizador de fluorescencia de rayos X portátil
Conferenciantes: Karen Paklin, Peter Faulkner y Dillon McDowell
Resumen
Los analizadores XRF portátiles pueden ser usados para medir el espesor de revestimientos, obteniendo ventajas en cuanto a precisión y portabilidad a diferencia de otras tecnologías. Analizar revestimientos aplicados a áreas superficiales extensas frecuentemente requiere emprender procedimientos destructivos que conllevan a análisis de laboratorio. La portabilidad de la tecnología de fluorescencia de rayos X supera esta limitación y proporciona una capacidad de ensayo para la medición de espesores de revestimientos de manera no destructiva.
Una calibración integrada en el equipo, y accesible a través de la interfaz del usuario, facilita el empleo de un estándar certificado para analizar y determinar hasta tres capas de espesor del revestimiento de manera fiable y precisa. Las mediciones de revestimientos con un analizador XRF portátil, sin contar con el material sustraído, permiten que el usuario analice libremente cualquier acumulación presente en el revestimiento que puede comprender elementos, desde el titanio (Ti) hasta el plutonio (Pu). Debido al amplio rango analítico de elementos, muchos procedimientos de laboratorio para determinar la corrosión, desgaste y adherencia de revestimientos cerca del sitio de análisis pueden beneficiarse de los resultados generados por los analizadores XRF portátiles.
Los aspectos físicos detrás del análisis de revestimiento son conducidos en función de la ley de Lambert-Beer por absorción, la cual expone que la intensidad del rayo X es más alta al ingresar en la primera capa de una muestra, ya que esta disminuye a medida que se propaga a través de la capa. Después de ingresar
Monitorización de cerámicas y contaminantes de plomo en flujos de reciclaje de vidrio con los analizadores XRF portátiles
Conferenciantes: Dillon McDowell y Alex Thurston
Resumen
Las plantas de recuperación de materiales usan típicamente sistemas de clasificación magnética y óptica para separar vidrio roto proveniente de vidrio reciclado. Sin embargo, estos sistemas no son efectivos para monitorizar vitrocerámica ni componentes de plomo provenientes de flujos de vidrio roto. Tales contaminantes reducen el valor del vidrio roto vendido a los fabricantes de vidrio; ya que son causa de preocupación con respecto a la fabricación y seguridad. Los analizadores XRF portátiles son usados ampliamente en varias etapas del reciclaje y fabricación con el fin de obtener rápidamente la composición química de una variedad de elementos, incluso en un rango de 1 a 10 ppm. Hemos comparado análisis de muestras de vidrio para los cuales se ha utilizado un analizador XRD portátil con los análisis de laboratorio efectuados en muestras de referencia que son usadas en las plantas de reciclaje y fábricas de vidrio. Nuestros resultados demuestran que el analizador XRF portátil puede detectar cantidades incluso más pequeñas (<100 ppm) de elementos cerámicos en flujos de vidrio y vidrio roto in situ. Nuestros resultados también muestran que el analizador XRF portátil ha detectado contaminantes de plomo y agentes de coloración (Fe, Cu, etc.) en flujos de vidrio roto. También, se demuestra que la misma técnica puede ser aplicada en los sistemas de monitorización en línea de producción para analizar flujos de materiales en busca de los mismos componentes.
Descargue el documento
Contenido relacionado
¿Cómo hacer para agregar el modelo Revestimiento a su analizador Vanta?
De grueso a fino: Tecnología XRF para medir el espesor de revestimientos
