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Detector SDD vs. PIN: ¿Cuál requiere para su analizador XRF portátil?

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Analizador XRF portátil para detectar elementos ligeros

Decidir entre el detector de deriva de silicio (SDD) o el detector PIN es una de las primeras decisiones que debe tomar antes de comprar un analizador XRF portátil. Por ejemplo, los analizadores de nuestra serie XRF económica ofrecen diferentes detectores: el analizador Vanta Element™ presenta una configuración dotada del detector PIN, mientras que el analizador Vanta Element-S se dota del detector SDD.

Continúe la lectura de este artículo para conocer las diferencias clave entre estos detectores y responda a las preguntas que pueden ayudarle a decidir cuál requiere.

SDD vs. PIN: ¿Cuál es la diferencia?

Dotado de una tecnología más reciente, el detector SDD permite contar casi diez veces más rayos X por segundo que el detector PIN. Asimismo, su resolución es inferior de cerca 40 eV en comparación con el detector PIN. Sin embargo, la capacidad incrementada del detector de deriva de silicio (SDD) viene acompañada de un precio más elevado. A medida que determina el detector más adecuado para su aplicación, piense en qué usará su analizador XRF. A continuación, hay dos preguntas importantes que pueden formularse:

  • ¿Necesita medir algún elemento ligero, como magnesio (Mg), aluminio (Al), silicio (Si), fósforo (P), azufre (S), cloro (Cl), potasio (K) o calcio (Ca)?

Los elementos ligeros pueden ser cuantificados solo con analizadores dotados de detectores SDD. Sin embargo, esto no quiere decir que no se puedan clasificar aleaciones de aluminio con un detector PIN, como falsamente lo cree mucha gente. Pero, es posible clasificar muchos grados de aluminio basados en contenidos de elementos más pesados (como el cobre, cromo o hierro) con un detector PIN. Solo si se requieren distinciones más sutiles, como al querer distinguir el aluminio 6061 del 6063, en los que la variación se produce por el nivel del magnesio, es necesario un detector de deriva de silicio (SDD).

  • ¿Requiere límites de detección cortos?

Los límites de detección son tres veces más cortos en el caso de un SDD. Su tasa de conteo más elevada hace también que el detector SDD sea más preciso y sensible frente al detector PIN.

Analizador XRF portátil Vanta Element-S

Segunda etapa: Decidir entre los analizadores

Se espera que estas preguntas le hayan ayudado a decidir por un detector; de ser así, significa que está a un paso más cerca de determinar el analizador apropiado para su caso.

Si requiere un SDD, quizá desee examinar nuestro analizador XRF portátil Vanta Element-S dedicado a la identificación de aleaciones con detección de elementos ligeros a un precio competitivo.

Este rápido y preciso analizador puede identificar Mg, Al y Si en segundos. Su detector de deriva de silicio también permite distinguir grados de aleación similares como el acero inoxidable 303 a partir del 304, y el aluminio 6061 o 6063 a partir del 1100. Dotado de un funcionamiento idóneo dedicado al reciclaje de chatarra, la identificación positiva de materiales (PMI) a nivel básico y la fabricación de metales/metales preciosos, el analizador mide eficazmente metales ferrosos, aluminio, cobre, acero inoxidable, níquel y quilates de oro.

Si requiere un detector PIN, eche un vistazo más de cerca a nuestro analizador Vanta Element de nivel básico para una identificación de aleación rentable.

Independientemente de su decisión, puede estar seguro de que ambos analizadores vienen con las características esenciales por las que la serie Vanta™ es reconocida: velocidad, fiabilidad, resistencia, conectividad y facilidad de uso similar a la de un teléfono inteligente.

En ese sentido puede beneficiarse de características como (la):

  • Clasificación IP54 a prueba de polvo y humedad.
  • Resistencia ante ensayos de caídas en conformidad con el estándar MIL-STD-810G, para asegurar su protección ante accidentes de caídas y reducir reparaciones costosas
  • Axon Technology™ para ensayos rápidos y fiables
  • Conectividad de nube y el intercambio moderno de datos mediante la Olympus Scientific Cloud™

Si todavía tiene dudas acerca de las diferencias entre los detectores SDD y PIN, o tiene alguna otra pregunta sobre la tecnología XRF, ¡no dude en contactarnos! Y, asegúrese de leer nuestro útil artículo sobre la selección de un analizador: ¿Cuál es el analizador correcto para mis aplicaciones?

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Portable Products Manager, Analytical Instruments

Ted has worked at Olympus for more than 11 years and has overseen the introduction of numerous innovations to the XRF product lines with a focus on bringing laboratory-quality data to the portable market. Ted has a Master's degree in Applied Physics and holds four patents.

五月 26, 2020
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