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Uso del analizador XRF Vanta™ para clasificar con rapidez y precisión las aleaciones de aluminio con bajo nivel de magnesio


Uso del analizador XRF Vanta™ para clasificar con rapidez y precisión las aleaciones de aluminio con bajo nivel de magnesio

Las aleaciones de aluminio forman materiales de preferencia para muchos sectores industriales; al mismo tiempo, la producción y el reciclaje de aluminio continúan expandiéndose a nivel mundial. Desde una economía en términos de volumen hasta costos (Esp. costes) por componente, cuando es comparado con otras clases de aleaciones, el aluminio es el material de preferencia. El aluminio gana resistencia y ligereza a partir de sus niveles de magnesio, el cual representa un elemento de aleación crítico, presente frecuentemente en la composición.

La capacidad para detectar rápidamente pequeñas cantidades de magnesio (<1%) en una aleación de aluminio plantea desafíos a los analizadores de fluorescencia de rayos X (XRF) portátiles, debido a los tiempos de ensayo extensos que se requieren para identificar con precisión las cantidades específicas de magnesio. Con los avances en su instrumentación y la Axon Technology de vanguardia, el analizador XRF portátil Vanta de Olympus reduce de forma significativa los tiempos de ensayo para visualizar con precisión bajos niveles de magnesio (Mg) en aleaciones de aluminio (Al).

Los analizadores Vanta se demarcan por producir resultados rápidos y precisos del magnesio en la clasificación de las aleaciones de aluminio. Tanto es así que, una prolongación de 10 segundos en un ensayo normalmente será suficiente para determinar los valores del magnesio en las diversas aleaciones de aluminio. Con los antiguos analizadores XRF portátiles, estos ensayos podían verse afectados por una prolongación superior a 20 segundos.

El siguiente gráfico muestra los resultados promedio de 10 ensayos por muestra para tiempos de ensayo rápidos, con las barras de error que denotan el promedio +/– de errores relativos a un sigma por los 10 ensayos. En el caso de un nivel de magnesio de > 0,4 %, los tiempos de ensayo fueron de tres segundos a 40 kV, y solo de cinco segundos a 13 kV para cuantificar los valores de magnesio identificados. En el caso de un nivel de magnesio de 0,21 %, el tiempo de ensayo con el haz a 13 kV aumentó hasta 20 segundos. Para registrar los niveles de traza hallados en la aleación de AL1100 de 0,03 %, los tiempos de ensayos con el haz a 13 kV aumentó hasta 60 segundos.

Los mismos resultados con tiempos prolongados del gráfico se muestran en las tablas a continuación.
Los mismos resultados con tiempos prolongados del gráfico se muestran en estas tablas.

Resultados de un ensayo de aluminio de 380 en tres segundos empleando un haz a 40 kV y 20 segundos con un haz a 13 kV.

Concentración de Mg 1 Sigma de error en Mg Concentración de Al 1 Sigma de error en Al
1 0,131 0,052 85,452 0,076
2 0,211 0,053 85,373 0,076
3 0,246 0,053 85,378 0,076
4 0,235 0,053 85,373 0,075
5 0,182 0,052 85,404 0,076
6 0,131 0,052 85,344 0,077
7 0,186 0,052 85,378 0,076
8 0,164 0,052 85,441 0,075
9 0,211 0,052 85,330 0,076
10 0,162 0,052 85,446 0,075
Promedio 0,186 0,052 85,392 0,076
Ensayo 0,21

Resultados de un ensayo con grado de aluminio de 1100 en tres segundos, empleando un haz a 40 kV, y 60 segundos con un haz a 13 kV.

Concentración de Mg 1 Sigma de error en Mg Concentración de Al 1 Sigma de error en Al
1 0,058 0,023 99,067 0,033
2 0,044 0,023 99,120 0,027
3 0,060 0,023 99,113 0,028
4 0,046 0,023 99,082 0,033
5 0,051 0,023 99,148 0,027
6 0,060 0,023 99,051 0,032
7 0,046 0,023 99,109 0,027
8 0,071 0,023 99,049 0,032
9 0,050 0,022 99,088 0,027
10 0,072 0,022 99,037 0,033
Promedio 0,056 0,023 99,086 0,030
Ensayo 0,03

La mayoría de los grados de aluminio contienen magnesio en niveles similares o superiores al 0,4 %. Estas muestras pueden ser clasificadas con precisión en función de los niveles de magnesio que son cuantificados en un ensayo de solo cinco segundos con un haz de baja energía (el haz permanece activo por un tiempo total de 6 segundos). Estos resultados demuestran que los ensayos relativamente cortos son todo lo que se requiere para determinar con precisión las variantes de los grados del aluminio con niveles bajos de magnesio.

Olympus IMS

应用所使用的产品
Los analizadores XRF portátiles Vanta para la clasificación y el reciclaje de chatarra cumplen con el índice de protección IP64 o 65, según el modelo, para resistir a la lluvia, suciedad y el polvo. Asimismo, han pasado pruebas de resistencia a caídas según el estándar MIL-STD-810G del Ministerio de Defensa de los Estados Unidos para evitar daños y maximizar su tiempo de operación aún en los ambientes más extremos de los almacenes de chatarra.
La serie de analizadores XRF portátiles Vanta™ presenta el más nuevo y potente dispositivo portátil, que proporciona análisis elementales rápidos y precisos para clientes que requieren resultados de calidad in situ como los de laboratorio. Los analizadores son resistentes, cumplen con la certificación IP55 o IP54, y han sido probados contra caídas, maximizando así su tiempo de funcionamiento y reduciendo el costo de inversión.
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