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概述

Vanta™ iX: Analizador XRF para análisis automatizados de materiales en líneas de producción

Mantenga su proceso al día

El analizador de fluorescencia de rayos X en línea (XRF) Vanta™ iX de Olympus proporciona confianza en sus productos al automatizar el análisis de materiales y la identificación de aleaciones en líneas de producción manufacturera:

Proporciona resultados instantáneos para una monitorización de procesos en tiempo real e inspección al 100 %
Desarrollado para funcionar 24/7
Permite configuraciones para obtener resultados de aceptación/rechazo, la identificación precisa de grados y la composición química del material

Sistema de medición en línea para obtener la composición química de las aleaciones

Inspección completa en la fabricación de tubos, barras y varillas

Para las organizaciones que adoptan las prácticas de la Industria 4.0 y el control de procesos 24/7 con el objetivo de verificar aleaciones a través de análisis de aceptación/rechazo, el analizador Vanta iX otorga la verificación de materiales y el control por lotes/control térmico en la fabricación de barras, lingotes, tubos y varillas, así como en piezas mecanizadas y componentes personalizados. La automatización de los análisis con el Vanta iX añade una ventaja competitiva a su producto final ya que es posible certificar que los materiales han sido probados y verificados al 100 %.

Escaneo y monitorización para controlar los grados de los minerales en la minería

Para el procesamiento geológico y la minería, el analizador Vanta iX posibilita escaneos de testigos y el análisis en banda potenciados por resultados en tiempo real a fin de supervisar la variabilidad del proceso y asegurar la consistencia del grado (ley) del mineral. Durante el análisis en banda, el analizador verifica la aleación y valida el proceso de concentrados.

Espectroscopía de fluorescencia de rayos X para la fabricación de metales

Análisis de aleaciones y metales para el control/aseguramiento de calidad

Análisis elementales rápidos y fiables para un control/aseguramiento de calidad continuo

Dotado de la reconocida electrónica de los dispositivos Vanta, el analizador Vanta iX opera con rapidez al mismo tiempo que ofrece resultados fiables y aplicables destinados a guiar decisiones críticas.

Alta resolución: Permite identificar un amplio rango de grados de aleación, incluidos los elementos ligeros y pesados.
Resultados rápidos y precisos: La electrónica del analizador proporciona rendimiento, estabilidad e índice de conteo elevados.
Eficiencia: Funcionamiento potenciado por el detector de deriva de silicio (SDD) y la consolidada Axon Technology™ que se halla en cada analizador Vanta.

Fácil implementación en una variedad de sistemas de producción

El analizador Vanta iX es versátil, compacto y fácil de instalar: utilice las muescas de montaje de cada lado para implantar el analizador en sistemas robóticos u otros. No presenta una caja de control externa; por lo tanto, es fácil controlar el analizador con la API de Vanta Connect o un PLC e hilo discreto.

Opciones de conectores:

Ethernet (RJ-45) que habilita la alimentación a través de Ethernet (Power over Ethernet, PoE)
USB
E/S discreta (16 pines)
Alimentación de corriente continua auxiliar

Analizador XRF en línea de producción durante análisis automatizado de materiales

Robusto para maximizar el tiempo de producción en ambientes industriales

El analizador Vanta iX ha sido desarrollado para soportar los altos niveles de vibración, ruido electromagnético y acústico, como también el polvo y la humedad de las instalaciones de producción, a fin de maximizar la fiabilidad y el tiempo de funcionamiento.

Probado contra vibraciones (en conformidad con el estándar MIL-STD)
Clasificado IP54
Capacitado para un rango de temperatura de funcionamiento continuo de –10 °C a 50 °C (de 14 °F a 122 °F)

Su disipador de calor integrado desciende la temperatura interna mientras que las muescas de enganche para el ventilador están presentes en el caso de requerir mayor enfriamiento. El analizador ofrece un reemplazo de ventanas de medición sin necesidad de herramientas para un rápido mantenimiento.

技术规格

Especificaciones del analizador Vanta ™ iX

Dimensiones (ancho × alto × diagonal)	10 cm × 7,9 cm × 26,6 cm (3,9 pulg. × 3,1 pulg. × 10,5 pulg.)
Peso	2,4 kg (5,29 lb)
Fuente de excitación	Tubo de rayos X: ánodo de rodio (Rh) o wolframio/tungsteno (W) [aplicación optimizada] de 5 a 200 μA Modelo MR: de 8 a 50 keV (máx. 4 W) Modelo CW: de 8 a 40 keV (máx. 4 W)
Filtro del haz primario	Ocho posiciones de filtro, seleccionadas de forma automática según el haz y el método
Detector	Modelo MR: detector de deriva de silicio de gran superficie Modelo CW: detector de deriva de silicio estándar
Fuente de alimentación	Alimentación a través de Ethernet (Power over Ethernet) [PoE] o adaptador de CA de 18 V
Rango de elementos	Según el método aplicado: Modelo MR: de Mg a U Modelo CW: de Ti a U (con ventana de medición y calibración estándares)
Corrección de presión atmosférica	Barómetro integrado para corrección automática de altitud y presión del aire
Clasificación del índice de protección (IP)	IP54
Entorno operativo	Rango de temperatura: de –10 °C a 50 °C (de 14 °F a 122 °F) bajo un ciclo de funcionamiento continuo Humedad: de 10 % a 90 % de humedad relativa, sin condensación
Sistema operativo	Linux
Programa de aplicaciones	Paquete de adquisición y procesamiento de datos de propiedad Olympus