概述
Analizador XRD de mesa BTX™ IIIEl analizador de difracción de rayos X (XRD) BTX™ III proporciona una mineralogía cuantitativa rápida y fiable de componentes elementales mayores y menores en una estructura compacta de mesa. El analizador BTX III se dota de un pequeño portamuestras exclusivo convirtiéndolo así en una alternativa ligera y casi libre de mantenimiento para los analizadores XRD convencionales. Este instrumento autónomo funciona sin necesidad de alimentación externa, gas comprimido, enfriamiento por agua, enfriador secundario o transformador externo que secunda su bajo costo [Esp. coste] de propiedad. Los operadores pueden conectar directamente el analizador XRD a otros dispositivos mediante una conexión Ethernet o inalámbrica. Nuestras herramientas XRD son potenciadas por el software SwiftMin® para agilizar su proceso de trabajo gracias a un exclusivo tablero, calibraciones predeterminadas, una fácil exportación de datos y una transferencia automática de datos. |  |
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 | Rapidez y sensibilidad incrementadas para reforzar la toma de decisiones de forma ágilEl potente software a carácter intuitivo trabaja en combinación con detectores de rayos X mejorados para una sensibilidad mejorada, tiempos de análisis más rápidos y resultados más fiables.
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Sencilla preparación de muestrasCuando se usan los analizadores de difracción de rayos X convencionales, se requiere un amplio lote de muestra que debe estar finamente molido y prensado hasta formar una bolilla («pellet»), lo cual permite asegurar una orientación lo suficientemente aleatoria de los cristales. En cambio, el pequeño portamuestras de agitación, utilizado por el analizador BTX III, activa el proceso de convección dentro de la cámara de la muestra para asegurar que los datos obtenidos no sean prácticamente afectados por los factores de orientación. Esto conlleva a que el analizador requiera una simple cantidad de muestra de 15 mg cuya obtención es fácil gracias al kit de preparación de muestra suministrado. |  |
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