.jpg?rev=FFD6)
.jpg?rev=FFD6)
- Accueil
- Outils de mesure et de contrôle des dispositifs 5G
- Analyse rapide des défauts
Analyse rapide des défauts
Analyse de wafers utilisés dans la conception de dispositifs à haute fréquenceLes semi-conducteurs composés peuvent fonctionner à des vitesses élevées et sous haute tension, ce qui les rend parfaitement adaptés aux applications 5G. Puisqu’il s’agit de composants de dispositifs électroniques essentiels, il est important de vérifier qu’ils ne comportent aucun défaut.
Enjeux relatifs à l’analyse de wafers de semi-conducteursLa présence de défauts sur les wafers est généralement contrôlée à l’aide de microscopes métallographiques. Un problème couramment rencontré est qu’il est facile de passer à côté d’un défaut lorsqu’on passe à un objectif à plus fort grossissement pour voir l’échantillon de plus près. | Imagerie polyvalente pour l’analyse rapide de wafersLe microscope numérique DSX1000 permet de changer de mode d’observation (par exemple, de passer en contraste interférentiel) d’une simple pression sur un bouton. De plus, le zoom optique du microscope permet une transition en douceur d’une imagerie à l’échelle macroscopique vers une imagerie à l’échelle microscopique afin que vous ne perdiez de vue aucun défaut.
Observation de wafers en contraste interférentiel (CID) :
|
Observation de résidus de résine sur matériaux semi-conducteursLa résine photosensible joue un rôle important dans le processus de gravure au cours de la fabrication de circuits intégrés. Le processus de lithographie pour la formation de circuits intégrés consiste à appliquer de la résine, à la masquer, à l’exposer, puis à la retirer. Les résidus de résine encore présents après le retrait peuvent poser des problèmes.
Enjeux relatifs à l’inspection au microscope optiqueMême lorsqu’un microscope optique est utilisé, des résidus de résine peuvent passer inaperçus. Il est important de choisir un microscope ayant les bonnes caractéristiques pour cette application. | Détection facile des résidus de résineLe microscope métallurgique droit BX53M étant compatible avec une observation en fluorescence, il permet de détecter facilement les résidus de résine organiques ayant des propriétés électroluminescentes. Il est possible de distinguer les résidus de résine des autres contaminants puisque leurs caractéristiques d’émission sont différentes.
|
Observation de l’état de moulage des guides d’ondes utilisés dans les communications optiquesLes fabricants doivent vérifier l’état de moulage des guides d’ondes optiques, qui sont des composants utilisés dans les communications optiques. Puisqu’un guide d’onde optique est entouré de verre, l’observation à l’aide de l’épi-illumination (lumière réfléchie) d’un microscope est impossible. Un éclairage par transmission est essentiel pour cette application.
Enjeux relatifs aux contrôles effectués à l’aide d’un microscope numérique ou de mesureIl est possible d’observer des guides d’ondes optiques à l’aide d’un microscope de mesure à lumière transmise ou d’un microscope numérique classique. Toutefois, l’image observée sera généralement floue ou imprécise. | Observation claire de l’état du moulageLorsque le microscope métallographique droit BX53M est utilisé conjointement avec la caméra pour microscope numérique DP74, ses performances optiques élevées et sa fonction d’observation en contraste interférentiel vous permettent d’observer l’état de moulage d’un guide d’ondes optique et d’acquérir des images haute résolution.
|
Besoin d’aide ? |