« L’information sur les équipements et les technologies de microscopie est partout, mais il faut du temps pour trouver de nouvelles informations qui peuvent m’aider à faire mon travail. » C’est un commentaire que nous entendons souvent de la part de nombreux professionnels de la métrologie, tant dans le milieu universitaire que dans l’industrie, et c’est un obstacle majeur à la recherche des informations les plus récentes spécifiques aux applications.
Chez Olympus, nous fournissons depuis longtemps des équipements de microscopie et de métrologie. C’est pourquoi nous savons qu’une configuration particulière à un domaine de recherche peut ne pas convenir à un autre. L’approche passe-partout convient rarement.
Pour permettre aux chercheurs de différents domaines de trouver rapidement et facilement l’information la plus utile pour leur application, nous avons créé en collaboration avec l’éditeur scientifique Wiley la plateforme de connaissances collaborative en ligne gratuite Advanced Optical Metrology, laquelle offre de nombreux contenus sur les plus récents développements en métrologie.
Voici quatre façons d’utiliser cette plateforme collaborative :
1. Consultez les livres électroniques les plus récents liés à votre application.
Nous ajouterons continuellement sur la plateforme de nouveaux livres électroniques : des collections d’articles courts, rédigés par des experts du monde universitaire et de l’industrie, et adaptés à des applications spécifiques. Par exemple, voici un exemple de livre électronique disponible sur la plateforme et consacré à la fabrication additive. D’autres livres électroniques couvrent des sujets comme les films minces, les capteurs et la rugosité.
2. Découvrez les différentes méthodes de métrologie dans le glossaire.
Pour avoir un aperçu des différentes méthodes de métrologie et des techniques industrielles, consultez la section glossaire de la plateforme. Familiarisez-vous avec des méthodes comme la microscopie confocale à balayage laser, la stéréolithographie et la fusion par faisceau d’électrons, et trouvez du même coup des ressources connexes.
3. Contribuez à la recherche et créez un réseau avec vos pairs.
Cette plateforme de connaissances collaborative ne sert pas simplement à chercher de l’information. Nous encourageons également tous ceux qui disposent de données ou de méthodes intéressantes à partager leurs idées. C’est un excellent moyen d’entrer en contact avec la communauté des chercheurs et d’y contribuer.
Il vous suffit de rejoindre Olympus LINKS, notre réseau de centres universitaires et industriels, pour partager vos recherches et collaborer avec vos pairs pour la production de contenu portant sur la métrologie.
4. Profitez des conseils d’experts pour la création et la publication de contenu scientifique.
Non seulement la plateforme offre-t-elle du contenu scientifique, mais elle propose également des conseils pratiques pour la création et la publication de vos propres travaux. Vous disposez ainsi de ressources utiles pour produire un contenu précieux qui trouve un écho auprès des professionnels de votre domaine.
Découvrez la plateforme de connaissances collaborative Advanced Optical Metrology
Prêt à explorer la plateforme par vous-même ? Il vous suffit de visiter advancedopticalmetrology.com, de vous inscrire gratuitement et de télécharger les contenus qui vous intéressent.
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