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OmniScan X3 : Fonction TFM et autres avantages considérables pour le contrôle non destructif (CND) – Témoignage d’un expert

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Avant de lancer officiellement sur le marché l’appareil de recherche de défauts OmniScan™ X3, Olympus en a prêté un au département IS Expert du groupe Institut de Soudure (un groupe de spécialistes de l’inspection des soudures basé en France) pour permettre à ses inspecteurs de l’essayer. Ce département supervise le développement de nouvelles méthodes de contrôle de non destructif (CND) novatrices.

Un expert de l’inspection UT teste l’OmniScan X3 et donne son appréciation

Après avoir effectué des tests en laboratoire avec l’appareil OmniScan X3, Manuel Tessier, ingénieur en CND et expert de l’inspection UT et par diffraction en temps de vol (TOFD) a donné son avis sur les caractéristiques les plus avantageuses pour les inspecteurs. Il a souligné les avantages qu’offrent la méthode multigroupe TFM (total focusing method), la prise en charge améliorée des sondes Dual Linear Array et Dual Matrix Array et l’outil de cartographie de l’influence acoustique (Acoustic Influence Map, AIM).

Nous vous présentons ci-dessous un extrait d’un article paru dans le numéro 69 de la revue Contrôles Essais Mesures (CEM).

Inspection d’un tuyau au moyen de la méthode TFM à l’aide d’un OmniScan X3 dans le laboratoire de R et D de l’Institut de Soudure dédié à l’étude de l’inspection des soudures.

Manuel Tessier, expert du CND UT/TOFD, testant en avant-première les fonctionnalités d’imagerie TFM de l’OmniScan X3 dans le laboratoire du groupe Institut de Soudure (France).


Manuel Tessier, expert du CND UT/TOFD à l’Institut de Soudure (France) [photo fournie par la revue CEM]

« Nous avons pu tester le TFM sur des pièces de référence. Les résultats sont concluants. »

Manuel Tessier, expert CND par ultrasons UT/TOFD au sein du groupe Institut de Soudure, a pu tester en avant-première les nouvelles fonctionnalités de l’OmniScan X3 en laboratoire. Voici l’échange qu’il a eu avec le représentant de la revue CEM :

CEM : Le groupe Institut de Soudure utilise au quotidien des appareils OmniScan. Dans quel cadre?

M. Tessier : Les appareils OmniScan sont, chez nous, des équipements de référence appréciés pour leur compacité, leur robustesse et leur fiabilité sur chantier. Tout notre personnel est formé quant à l’utilisation de ces équipements et des logiciels associés. Nous disposons d’une vingtaine d’appareils de recherche de défauts de ce type au sein du groupe Institut de Soudure. Contrôle de soudures, cartographie et mesure d’épaisseurs, caractérisation de défauts, recherche de divers endommagements : le service IS Expert, dans lequel je travaille, utilise quotidiennement ces appareils, soit pour de l’expertise classique (avec une seule sonde), soit dans le cadre de systèmes semi-automatisés ou automatisés pour réaliser des contrôles de soudure avec des combinaisons TOFD et multiéléments associés.

« Le X3 offre des perspectives intéressantes avec des sondes avancées que nous pourrions utiliser sur des applications assez pointues. »

CEM : Qu’en est-il de l’usage de sondes plus spécifiques?

M. Tessier : Nous utilisons également ces équipements avec des sondes DLA ou matricielles. L’un des avantages de l’OmniScan X3 est d’ailleurs la programmation aisée de ce type de capteurs, ce qui est plus contraignant avec l’OmniScan MX2 car si ce dernier est en mesure de piloter ces sondes il ne permet pas de les programmer facilement. Le X3 offre des perspectives intéressantes avec des sondes avancées que nous pourrions utiliser sur des applications assez pointues, sondes pour lesquelles le réglage des lois focales a un impact important. Dans ce cadre, jouer avec les paramètres de réglages offre la possibilité d’affiner l’inspection. Le fait d’avoir directement implémenté ce type de sonde dans le poste permet de paramétrer directement les lois focales via l’appareil ce qui ne pouvait se faire, avec le MX2, que de manière très contraignante. Il s’agit, pour moi, d’un vrai plus.

CEM : Quid de la TFM désormais disponible sur le X3?

M. Tessier : Le TFM est également une nouveauté bienvenue. Jusqu’à présent nous utilisions d’autres appareils qui disposent de ce mode de recherche de défauts, notamment pour des analyses fines, parce que l’OmniScan MX2 ne pouvait pas nous fournir les informations recherchées. Avec l’OmniScan X3 nous pourrions ne plus avoir besoin d’autres appareils, en particulier dans le cadre de la recherche d’endommagement HTHA (afin d’éviter de multiplier les appareils sur le terrain). Nous avons pu tester le TFM sur des pièces de référence. Les résultats sont concluants. Je suis curieux de pouvoir également essayer le TFM multigroupe qui offre la possibilité d’utiliser jusqu’à quatre groupes. L’AIM – qui n’existe pas sur d’autres appareils – est par ailleurs une fonctionnalité qui m’a séduit. Elle offre la possibilité de simuler le faisceau et permet de voir les potentielles interactions que l’on peut obtenir sur une zone définie, ce qui est à la fois utile et pédagogique pour les utilisateurs.

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Rédactrice

Sarah Williams a travaillé pendant près de dix ans comme chercheuse et conceptrice-rédactrice dans le secteur des médias audiovisuels. Aujourd’hui, elle utilise ses compétences en rédaction et en édition pour produire des contenus captivants et de haute qualité sur les diverses solutions de contrôle non destructif (CND) d’Evident. Elle écrit sur les dernières technologies d’inspection, notamment la visualisation à distance, la microscopie, les ultrasons conventionnels et multiéléments, et les courants de Foucault. Elle explore également les applications de ces technologies et leurs contributions dans l’amélioration de la qualité et de la sécurité du monde qui nous entoure. Sarah travaille à Québec, où elle réside avec son conjoint David et leurs trois enfants : Sophie, Anouk et Éloi. 

三月 19, 2020
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