Le logiciel d’analyse STM7-BSW pour microscopes de mesure augmente l’efficacité de vos observations. Vous pouvez acquérir et afficher des images, faire des observations et des mesures, et créer des rapports depuis un même écran.

• Analyse plus précise, plus rapide et plus simple d’objets de forme complexe
• Acquisition d’images claires et nettes pour des mesures très précises à l’aide d’une grande variété de caméras
• Placez l’échantillon et commencez à mesurer – aucun alignement parallèle n’est requis
• Enregistrement de procédures de mesures répétées
• Fonctionnalités efficaces éliminant la subjectivité des mesures
• Production de rapports personnalisables
• Fonctions d’acquisition avancées

Mesure rapide et précise d’objets de forme complexe

Il est essentiel que vous puissiez voir clairement et facilement l’objet affiché par votre microscope de mesure. C’est dans ce but précis que ce logiciel a été créé : afficher des images claires pour permettre des mesures complexes avec une plus grande précision. Le logiciel vous permet également de tirer parti des caméras des microscopes numériques.

Interface de mesure des échantillons du logiciel STM7-BSW

Obtenez des images claires et nettes avec nos caméras de microscope numériques

Hautes performances avec affichage en direct rapide

Excellent rapport qualité/prix

Placez l’échantillon et commencez à mesurer – aucun alignement parallèle n’est requis

Axe d’origine	Nouvel axe

Mesure de plan XZ

Les microscopes de mesure classiques analysent le plan XY directement vu du dessus. Cependant, en réponse aux demandes des utilisateurs, nous avons intégré une fonction de mesure du plan XZ dans le STM7-BSW pour permettre la mesure des sections transversales vues de côté. Des mesures auparavant difficiles sont désormais beaucoup plus faciles à effectuer, qu’il s’agisse des mesures de rayon dans le cas de sections verticales d’objets hémisphériques, ou la comparaison de la profondeur de rainures avec des bases incurvées par rapport à une ligne de référence.

Mesure du rayon d’un échantillon hémisphérique

Mesure de la hauteur d’une rainure à partir de sa base et de la ligne de référence

Enregistrement des procédures de mesure utilisées régulièrement

Enregistrement macro

La procédure d’alignement et les autres procédures de mesure fréquemment utilisées peuvent être combinées et affectées à un seul bouton macro, éliminant ainsi le besoin de recommencer à zéro à chaque fois que le microscope est configuré.

Répétition des mesures

On peut facilement répéter les mesures à partir d’un processus d’analyse enregistré en entrant simplement le mouvement de la platine et les coordonnées correspondantes dans le logiciel. Cette fonction peut être utilisée pour effectuer à plusieurs reprises la même mesure sur le même échantillon ou sur différentes versions du même échantillon. En outre, si une valeur et une tolérance sont définies dans le processus d’analyse enregistré, le logiciel identifie automatiquement l’échec d’une mesure.

Déplacement au point de mesure pour la répétition des analyses

Cette fonction affiche la direction et la distance jusqu’au point de mesure suivant, ce qui limite le risque d’erreur de l’opérateur. Cette fonction élimine en outre la nécessité de vérifier chaque fois le point de mesure suivant sur le schéma, accélérant ainsi le processus d’analyse grâce à une série de mesures répétées.

Fonctionnalités efficaces qui éliminent la subjectivité des mesures

Détection automatique des bords

Cette fonction détecte les bords de l’échantillon, puis acquiert et mesure automatiquement ses coordonnées. Il n’est donc plus nécessaire de préciser les coordonnées, ce qui réduit la subjectivité des mesures. La détection automatique des bords comporte également une minuterie qui permet d’acquérir des coordonnées dans un temps spécifié. Elle est compatible avec l’utilisation d’une pédale de commande permettant à l’utilisateur de se concentrer sur les opérations de mesure sans retirer ses mains des poignées de la platine.

Détection automatique des bords à l’intérieur du cercle

Détection automatique des bords multipoints

Élimination des points anormaux

Les bavures métalliques et autres points anormaux peuvent être exclus automatiquement lors de la détection des bords. Cela permet un calcul cohérent des valeurs mesurées, quel que soit l’état de l’échantillon. Les points exclus comme anormaux peuvent également être affichés à l’écran dans des couleurs différentes.

Échantillon avec point anormal

Élimination des points anormaux

Contrôle de l’éclairage

L’intensité de la lumière du microscope est maintenue grâce à un contrôle précis par le logiciel. Les paramètres d’intensité de la lumière peuvent également être sauvegardés lors de l’enregistrement d’un processus d’analyse, ce qui permet d’effectuer des mesures dans les mêmes conditions pendant les répétitions d’analyse ou lors de la détection automatique des bords.

Reconnaissance automatique du grossissement (en option, avec configuration de tourelle porte-objectifs rotative codée uniquement)

Avec l’utilisation de la tourelle porte-objectifs rotative codée, les valeurs d’étalonnage précédemment définies sont automatiquement reproduites lors du changement d’objectif. Grâce à cela, vous savez que les données affichées sont à la bonne échelle.

Fonctions d’acquisition avancées

Alignement d’images multiples (MIA) (en option)

Associez plusieurs images en mosaïque pour obtenir une seule image couvrant une grande surface à fort grossissement. Puisque les images sont assemblées sur la base des données de coordonnées, le système est capable de produire des images hautement fiables.

Imagerie à profondeur de champ étendue (EFI) (en option)

La fonction d’imagerie à profondeur de champ étendue (EFI) est efficace pour obtenir des images correctement mises au point sur des échantillons dont la surface a une forme complexe et inégale. Générez une seule image avec des points focaux alignés dans toutes les positions.
Traitez simplement plusieurs images avec différentes positions de point focal tout en déplaçant l’axe Z, ou utilisez le modèle motorisé pour la composition automatique des images.

Haut de page