_{Solutions de microscopie pour}
fabrication de semi-conducteurs

Inspection de l’aspect du boîtier

Il est nécessaire d’inspecter l’aspect du boîtier pour contrôler la présence de défauts au niveau de la résine et des broches. Un microscope avec un fonctionnement intuitif est nécessaire pour ce processus.

Notre solution

La loupe binoculaire de la gamme SZ associe facilité d’utilisation et profondeur de champ pour une observation facilitée de l’échantillon entier.

Loupe binoculaire, gamme SZ Voir les détails du produit

Aspect du boîtier

Notes d’application

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Analyse de sections de matrice de billes (BGA) Analyse de la fixation en surface du boîtier de semi-conducteur à l’aide du microscope confocal à balayage laser OLS5000 En savoir plus