概述

La microscopie avancée simplifiée Conçue pour offrir une excellente modularité, la série BX3M offre une grande polyvalence pour une large gamme d’applications dans les secteurs industriel et des sciences des matériaux. Grâce à l’intégration améliorée du logiciel PRECiV, le microscope BX53M offre un flux de travaux efficace pour les utilisateurs de la microscopie standard et de l’imagerie numérique, aussi bien pour l’observation que pour la création de rapports. Faites l’expérience du BX53M

La microscopie avancée simplifiée

Conçue pour offrir une excellente modularité, la série BX3M offre une grande polyvalence pour une large gamme d’applications dans les secteurs industriel et des sciences des matériaux. Grâce à l’intégration améliorée du logiciel PRECiV, le microscope BX53M offre un flux de travaux efficace pour les utilisateurs de la microscopie standard et de l’imagerie numérique, aussi bien pour l’observation que pour la création de rapports.

Faites l’expérience du BX53M

	Choisissez le modèle le mieux adapté Grâce aux six configurations proposées pour le BX53M, vous disposez d’une grande flexibilité pour choisir les caractéristiques dont vous avez besoin. Pour un usage général : configurations d’entrée de gamme, standard, avancée Pour un usage spécialisé : fluorescence, infrarouge, lumière polarisée Diverses configurations pour satisfaire aux exigences de l’utilisateur Conception modulaire : configurez votre propre système Voir plus

Choisissez le modèle le mieux adapté

Grâce aux six configurations proposées pour le BX53M, vous disposez d’une grande flexibilité pour choisir les caractéristiques dont vous avez besoin.

Pour un usage général : configurations d’entrée de gamme, standard, avancée
Pour un usage spécialisé : fluorescence, infrarouge, lumière polarisée
Diverses configurations pour satisfaire aux exigences de l’utilisateur
Conception modulaire : configurez votre propre système

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Ergonomique et facile à utiliser Le BX53M simplifie les tâches de microscopie complexes grâce à ses commandes bien conçues et faciles à utiliser. Les utilisateurs peuvent exploiter tout le potentiel du microscope sans qu’il leur soit nécessaire de suivre une formation approfondie. Le fonctionnement facile et ergonomique du BX53M améliore également la reproductibilité en réduisant au minimum l’erreur humaine. Illuminateur simple Commandes intuitives du microscope Mise au point rapide Éclairage constant Fonctionnement facile et ergonomique Restauration simple des réglages du microscope Fonctions de mesures de base Voir plus

Ergonomique et facile à utiliser

Le BX53M simplifie les tâches de microscopie complexes grâce à ses commandes bien conçues et faciles à utiliser. Les utilisateurs peuvent exploiter tout le potentiel du microscope sans qu’il leur soit nécessaire de suivre une formation approfondie. Le fonctionnement facile et ergonomique du BX53M améliore également la reproductibilité en réduisant au minimum l’erreur humaine.

Illuminateur simple
Commandes intuitives du microscope
Mise au point rapide
Éclairage constant
Fonctionnement facile et ergonomique
Restauration simple des réglages du microscope
Fonctions de mesures de base

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	Fonctionnel Le microscope BX53M conserve les méthodes de contraste classiques utilisées en microscopie conventionnelle, telles que le fond clair, le fond noir, la lumière polarisée et le contraste interférentiel différentiel. Alors qu’un nombre croissant de nouveaux matériaux sont développés, l’utilisation de techniques de microscopie avancées peut résoudre bon nombre des difficultés de détection des défauts associées aux méthodes de contraste standard. Ces techniques permettent des opérations de contrôle plus précises et plus fiables. Les nouvelles techniques d’éclairage et options d’acquisition d’images proposées par le logiciel d’analyse d’images PRECiV offrent aux utilisateurs davantage de possibilités pour évaluer leurs échantillons et documenter leurs résultats. Création d’images présentant une mise au point parfaite sur tout l’objet Déplacement facile de la platine pour une vision panoramique Capture des zones lumineuses et des zones sombres Adaptable pour convenir aux préférences d’observation et d’analyse Accepte de nombreux types d’échantillons Voir plus

Fonctionnel

Le microscope BX53M conserve les méthodes de contraste classiques utilisées en microscopie conventionnelle, telles que le fond clair, le fond noir, la lumière polarisée et le contraste interférentiel différentiel. Alors qu’un nombre croissant de nouveaux matériaux sont développés, l’utilisation de techniques de microscopie avancées peut résoudre bon nombre des difficultés de détection des défauts associées aux méthodes de contraste standard. Ces techniques permettent des opérations de contrôle plus précises et plus fiables. Les nouvelles techniques d’éclairage et options d’acquisition d’images proposées par le logiciel d’analyse d’images PRECiV offrent aux utilisateurs davantage de possibilités pour évaluer leurs échantillons et documenter leurs résultats.

Création d’images présentant une mise au point parfaite sur tout l’objet
Déplacement facile de la platine pour une vision panoramique
Capture des zones lumineuses et des zones sombres
Adaptable pour convenir aux préférences d’observation et d’analyse
Accepte de nombreux types d’échantillons

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Composants optiques de pointe

Grâce notre expérience dans la conception de composants optiques de pointe, nous proposons une gamme de produits de qualité optique reconnue et des microscopes ayant une excellente précision de mesure.

Performances optiques supérieures
Température des couleurs stable et éclairage à LED blanche d’intensité élevée
Assistance pour des mesures précises
Assemblage homogène

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_{Contrôle des aberrations de front d’onde}

_{Mauvais front d’onde}

Bonne onde (contrôle des aberrations de front d’onde)

_{Front d’onde correct (objectif UIS2)}

配置

Système modulaire à haute fiabilité

Grâce aux six configurations proposées pour le BX53M, vous disposez d’une grande flexibilité pour choisir les caractéristiques dont vous avez besoin.

Usage général			Usage spécialisé

Entrée de gamme Configuration simple avec fonctions de base	Standard Utilisation facile et mises à niveau incluant des fonctionnalités polyvalentes	Avancée Inclut de nombreuses fonctionnalités de pointe	Fluorescence Spécialement conçue pour l’observation en fluorescence	Infrarouge Conçue pour l’observation IR de circuits intégrés	Lumière polarisée Conçue pour l’observation de caractéristiques de biréfringence
_{Filtre de couleur LCD} ^{(lumière transmise/fond clair)}	_{Microstructure avec grains ferritiques} ^{(lumière réfléchie/fond noir)}	_{Fil de cuivre d’une bobine} ^{(fond clair + fond noir/MIX)}	_{Résistance sur un motif de circuit intégré} ^{(fluorescence + fond noir/MIX)}	_{Motif de circuit intégré à couches de silicium} ^(IR)	_Amiante ^{(lumière polarisée)}

Voir le tableau des caractéristiques techniques

	Entrée de gamme	Standard	Avancée	Fluorescence	Infrarouge	Lumière polarisée
Potence du microscope	Lumière réfléchie ou réfléchie/transmise		Lumière réfléchie ou réfléchie/transmise		Lumière réfléchie	Lumière transmise
Inclus	R-BF ou T-BF	R-BF ou T-BF ou DF	R-BF ou T-BF ou DF ou MIX	R-BF ou T-BF ou DF ou FL	R-BF ou IR	T-BF ou POL
Option	DIC	DIC/MIX	DIC	DIC/MIX	－	－
Illuminateur simple	－			－	－	－
Code couleur / ouverture numérique	－				－
Matériel codé	－				－
Indice de l’échelle de mise au point
Gestionnaire d’intensité lumineuse				－	－
Utilisation avec interrupteur					－	－
Observation MIX					－	－
Objectifs	Au choix parmi 3 objectifs en fonction de vos applications		Au choix parmi 3 objectifs en fonction de vos applications		Objectifs pour IR	Objectifs pour POL
Platine	Au choix parmi 5 platines en fonction de la taille de vos échantillons.		Au choix parmi 5 platines en fonction de la taille de vos échantillons.			Platine pour POL

MÉTHODES D’OBSERVATION

R-BF : fond clair (lumière réfléchie)
T-BF : fond clair (lumière réfléchie/transmise)
DF : fond noir
DIC : contraste interférentiel différentiel / lumière polarisée simple
MIX : mode d’observation combinée
FL : fluorescence
IR : infrarouge
POL : lumière polarisée

_{* La méthode T-BF peut être utilisée lorsqu’une potence de microscope « lumière réfléchie/transmise » est sélectionnée.}

: inclus
: option

Exemples de configurations pour les sciences des matériaux

La conception modulaire permet d’adapter le système aux besoins des utilisateurs.
Vous trouverez ci-dessous des exemples de configurations pour les sciences des matériaux.

BX53M : système de microscopie avec modes d’observation en lumière réfléchie et en lumières réfléchie/transmise combinées Il existe deux types de potences pour la série BX3M, l’une pour la lumière réfléchie uniquement, et l’autre pour la lumière réfléchie et la lumière transmise. Les deux potences peuvent être configurées avec des composants manuels, codés ou motorisés. Les potences sont équipées de la fonctionnalité de protection contre les décharges électrostatiques (DES) pour protéger les échantillons électroniques.	_{Exemple de configuration du BX53MRF-S}	_{Exemple de configuration du BX53MTRF-S}

BX53M : système de microscopie avec modes d’observation en lumière réfléchie et en lumières réfléchie/transmise combinées

Il existe deux types de potences pour la série BX3M, l’une pour la lumière réfléchie uniquement, et l’autre pour la lumière réfléchie et la lumière transmise. Les deux potences peuvent être configurées avec des composants manuels, codés ou motorisés. Les potences sont équipées de la fonctionnalité de protection contre les décharges électrostatiques (DES) pour protéger les échantillons électroniques.

Exemple de configuration du BX53MRF-S

_{Exemple de configuration du BX53MRF-S}

Exemple de configuration du BX53MTRF-S

_{Exemple de configuration du BX53MTRF-S}

	BX53M : système combiné avec mode infrarouge (IR) Des objectifs à infrarouge (IR) peuvent être utilisés notamment avec des échantillons de semi-conducteurs pour des opérations d’observation, de mesure et de traitement, lorsqu’une observation à travers du silicone est nécessaire pour parvenir à distinguer les structures de l’échantillon. Des objectifs IR 5x à 100x sont disponibles et offrent une correction de l’aberration chromatique, depuis les longueurs d’onde du domaine visible jusqu’aux longueurs d’onde du proche infrarouge. Pour le travail à fort grossissement, la rotation de la bague de correction de la série d’objectifs LCPLNIR permet de corriger les aberrations causées par l’épaisseur de l’échantillon. Un seul objectif permet d’obtenir une image nette. Cliquez ici pour en savoir plus sur les objectifs IR

BX53M : système combiné avec mode infrarouge (IR)

Des objectifs à infrarouge (IR) peuvent être utilisés notamment avec des échantillons de semi-conducteurs pour des opérations d’observation, de mesure et de traitement, lorsqu’une observation à travers du silicone est nécessaire pour parvenir à distinguer les structures de l’échantillon. Des objectifs IR 5x à 100x sont disponibles et offrent une correction de l’aberration chromatique, depuis les longueurs d’onde du domaine visible jusqu’aux longueurs d’onde du proche infrarouge. Pour le travail à fort grossissement, la rotation de la bague de correction de la série d’objectifs LCPLNIR permet de corriger les aberrations causées par l’épaisseur de l’échantillon. Un seul objectif permet d’obtenir une image nette.

Cliquez ici pour en savoir plus sur les objectifs IR

BX53M : système combiné avec mode de lumière polarisée Les objectifs du microscope BX53M combiné à lumière polarisée fournissent aux géologues les outils dont ils ont besoin pour l’imagerie en lumière polarisée à contraste élevé. Dans le cadre d’applications telles que l’identification des minéraux, l’étude des caractéristiques optiques de cristaux et l’observation de sections de roche solide, les utilisateurs bénéficient de la stabilité du système et de la précision de l’alignement optique.	_{Configuration orthoscopique du BX53-P}	_{Configuration conoscopique/orthoscopique du BX53-P}

BX53M : système combiné avec mode de lumière polarisée

Les objectifs du microscope BX53M combiné à lumière polarisée fournissent aux géologues les outils dont ils ont besoin pour l’imagerie en lumière polarisée à contraste élevé. Dans le cadre d’applications telles que l’identification des minéraux, l’étude des caractéristiques optiques de cristaux et l’observation de sections de roche solide, les utilisateurs bénéficient de la stabilité du système et de la précision de l’alignement optique.

Configuration orthoscopique du BX53-P

_{Configuration orthoscopique du BX53-P}

Configuration conoscopique/orthoscopique du BX53-P

_{Configuration conoscopique/orthoscopique du BX53-P}

Lentille de Bertrand pour les observations orthoscopiques et conoscopiques Grâce à l’accessoire d’observation conoscopique U-CPA, le basculement entre l’observation orthoscopique et l’observation conoscopique est simple et rapide. La mise au point est réglable pour permettre la distinction claire des structures d’interférence du plan focal arrière. Le diaphragme de champ de la lentille de Bertrand permet d’obtenir de façon constante des images conoscopiques claires et nettes.

Lentille de Bertrand pour les observations orthoscopiques et conoscopiques

Grâce à l’accessoire d’observation conoscopique U-CPA, le basculement entre l’observation orthoscopique et l’observation conoscopique est simple et rapide. La mise au point est réglable pour permettre la distinction claire des structures d’interférence du plan focal arrière. Le diaphragme de champ de la lentille de Bertrand permet d’obtenir de façon constante des images conoscopiques claires et nettes.

	Une large gamme de compensateurs et de lames d’onde Cinq compensateurs différents sont disponibles pour les mesures de la biréfringence dans les fines sections de roche et de minéraux. La gamme des mesures du niveau de retard d’onde est de 0 à 20λ. Pour une mesure facilitée et un contraste d’image élevé, il est possible d’utiliser les compensateurs de Berek et de Senarmont, qui peuvent modifier le niveau de retard d’onde dans tout le champ d’observation.

Une large gamme de compensateurs et de lames d’onde

Cinq compensateurs différents sont disponibles pour les mesures de la biréfringence dans les fines sections de roche et de minéraux. La gamme des mesures du niveau de retard d’onde est de 0 à 20λ. Pour une mesure facilitée et un contraste d’image élevé, il est possible d’utiliser les compensateurs de Berek et de Senarmont, qui peuvent modifier le niveau de retard d’onde dans tout le champ d’observation.

Plage de mesure des compensateurs

Compensateur	Plage de mesure	Utilisation principale
Berek épais (U-CTB)	De 0 à 11 000 nm (20 λ)	Mesure de niveau de retard d’onde élevé (R^*>3λ) (cristaux, macromolécules, fibres, etc.)
Berek (U-CBE)	De 0 à 1640 nm (3 λ)	Mesure du niveau de retard d’onde (cristaux, macromolécules, organismes vivants, etc.)
Compensateur de Senarmont (U-CSE)	De 0 à 546 nm (1 λ)	Mesure du niveau de retard d’onde (cristaux, organismes vivants, etc.) Amélioration du contraste d’image (organismes vivants, etc.)
Compensateur de Brace-Köhler 1/30λ (U-CBE2)	De 0 à 20 nm (1/30 λ)	Mesure du contraste d’image (organismes vivants, etc.)
Quartz compensateur (U-CWE2)	De 500 à 2200 nm (4 λ)	Mesure approximative du niveau de retard d’onde (cristaux, macromolécules, etc.)

_{* R = niveau de retard d’onde

Pour une mesure plus précise, il est recommandé d’utiliser les compensateurs (à l’exception du modèle U-CWE2) avec le filtre interférentiel 45-IF546.}

Objectifs sans contrainte

Grâce à leur conception élaborée et à notre technologie de fabrication, les objectifs sans contrainte l’UPLFLN-P réduisent la contrainte interne au minimum. Ils apportent ainsi une valeur d’EF (coefficient d’extinction molaire) supérieure, ce qui se traduit par un excellent contraste d’image.

Cliquez ici pour en savoir plus sur les objectifs UPLFLN-P

Cliquez ici pour en savoir plus sur les objectifs PLN-P/ACHN-P

	Système BXFM Le système BXFM peut être adapté à des applications spéciales ou intégré à d’autres instruments. La conception modulaire permet une adaptation directe à des environnements ou configurations uniques, avec différents systèmes d’éclairage spéciaux et montures de fixation de petite taille.

Système BXFM

Le système BXFM peut être adapté à des applications spéciales ou intégré à d’autres instruments. La conception modulaire permet une adaptation directe à des environnements ou configurations uniques, avec différents systèmes d’éclairage spéciaux et montures de fixation de petite taille.

Conception modulaire : configurez votre propre système

Potences de microscope

Il existe deux potences de microscope, l’une pour les observations en lumière réfléchie, l’autre pour les observations en lumière transmise. Un adaptateur permet de surélever l’illuminateur pour accueillir des échantillons plus hauts.

		Lumière réfléchie	Lumière transmise	Hauteur de l’échantillon
1	BX53MRF-S	■	－	De 0 à 65 mm
2	BX53MTRF-S	■	■	De 0 à 35 mm
1, 3	BX53MRF-S + BX3M-ARMAD	■	－	De 40 à 105 mm
2, 3	BX53MTRF-S + BX3M-ARMAD	■	■	De 40 à 75 mm

Accessoires pratiques pour usage en microscopie

－	HP-2	Presse manuelle
－	COVER-018	Cache anti-poussières

Potences de microscope

Statifs

Pour les applications dans lesquelles l’échantillon ne tient pas sur une platine, l’illuminateur et les optiques peuvent être montés sur une platine plus grande ou sur un autre composant du système.

Configuration d’illuminateur BXFM + BX53M

1	BXFM-F	L’interface de la potence est un montant pour fixation murale de 32 mm.
2	BX3M-ILH	Porte-illuminateur
3	BXFM-ILHSPU	Ressort de comptoir pour BXFM
5	SZ-STL	Grand statif

Configuration d’illuminateur BXFM + U-KMAS

1	BXFM-F	L’interface de la potence est un montant pour fixation murale de 32 mm.
4	BXFM-ILHS	Support U-KMAS
5	SZ-STL	Grand statif

Statifs

Têtes d’observation

Pour l’imagerie au microscope à l’aide d’oculaires ou pour l’observation par caméra, sélectionnez les têtes d’observation selon le type d’imagerie et la position de l’opérateur pendant l’observation.

		Indice de champ (FN)	Type	Type d’angle	Image	Nombre de mécanismes de réglage dioptrique
1	U-TR30-2	22	Trinoculaire	Fixe	Inversée	1
2	U-TR30IR	22	Trinoculaire pour IR	Fixe	Inversée	1
3	U-ETR-4	22	Trinoculaire	Fixe	Droite	－
4	U-TTR-2	22	Trinoculaire	Inclinée	Inversée	－
5	U-SWTR-3	26,5	Trinoculaire	Fixe	Inversée	－
6	U-SWETTR-5	26,5	Trinoculaire	Inclinée	Droite	－
7	U-TLU	22	Port simple	－	－	－
8	U-SWATLU	26,5	Port simple	－	－	－

Systèmes d’éclairage

Le système d’éclairage projette la lumière sur l’échantillon selon la méthode d’observation sélectionnée. Le logiciel communique avec les systèmes d’éclairage codés pour lire la position du cube et reconnaît automatiquement la méthode d’observation.

		Fonction codée	Source de lumière	BF	DF	DIC	POL	IR	FL	MIX	AS/FS
1	BX3M-RLAS-S	3 positions de cube fixes	LED — intégrée	■	■	■	■	－	－	■	■
2	BX3M-URAS-S	Amovible, 4 positions de cube	LED	■	■	■	■	－	－	■	■
			Halogène	■	■	■	■	■	－	■	■
			Guide de lumière/Mercure	■	■	■	■	－	■	■	■
3	BX3M-RLA-S		LED	■	■	■	■	－	－	■	■
3	BX3M-RLA-S		Halogène	■	■	■	■	■	－	■	■
4	BX3M-KMA-S		LED — intégrée	■	－	■	■	－	－	■	－
5	BX3-ARM	Bras mécanique pour observation en lumière transmise
6	U-KMAS		LED	■	－	■	■	－	－	■	－
6	U-KMAS		Halogène	■	－	■	■	■	－	■	－

Sources de lumière

Sources de lumière et blocs d’alimentation utilisés pour l’éclairage des échantillons. Choisissez la source de lumière appropriée pour la méthode d’observation.

Configuration de source de lumière LED standard

1	BX3M-LEDR	Boîtier de lampe LED pour lumière incidente
2	U-RCV	Convertisseur DF pour BX3M-URAS-S, requis pour l’observation en fond noir et en fond clair si nécessaire
3	BX3M-PSLED	Bloc d’alimentation pour boîtier de lampe LED, requiert le système BXFM
4	BX3M-LEDT	Boîtier de lampe LED pour observation en lumière transmise

Configuration de source de lumière à fluorescence

5	U-LLGAD	Adaptateur pour guide de lumière
2	U-RCV	Convertisseur fond noir pour BX3M-URAS-S, requis pour l’observation en fond noir si nécessaire
6	U-LLG150	Guide de lumière, longueur : 1,5 m
7	U-LGPS	Source de lumière pour fluorescence
8, 9	U-LH100HG (HGAPO)	Boîtier de lampe à mercure pour fluorescence
2	U-RCV	Convertisseur fond noir pour BX3M-URAS-S, requis pour l’observation en fond noir si nécessaire
10	U-RFL-T	Bloc d’alimentation pour lampe au mercure 100 W

Configuration de source de lumière halogène et infrarouge halogène

11	U-LH100IR	Boîtier de lampe halogène pour infrarouge
12	U-RMT	Câble d’extension pour boîtier de lampe halogène, longueur de câble de 1,7 m (requiert un câble de rallonge si nécessaire)
13, 14	TH4-100 (200)	Bloc d’alimentation répondant à la spécification 100 V (200 V) pour lampe halogène 100 W/50 W
15	TH4-HS	Interrupteur de réglage de l’intensité lumineuse de l’halogène (variateur TH4-100 [200]) sans interrupteur)

Tourelles porte-objectifs

Fixation pour objectifs et modules coulissants. Effectuez votre sélection selon le nombre d’objectifs nécessaires et leurs types ; également avec/sans module coulissant.

		Type	Orifices	BF	DF	DIC	MIX	DES	Nombre de trous de centrage
1	U-P4RE	Manuelle	4	■		■			4
2	U-5RE-2	Manuelle	5	■
3	U-5RES-ESD	Codée	5	■				■
4	U-D6RE	Manuelle	6	■		■
5	U-D6RES	Codée	6	■		■
6	U-D5BDREMC	Motorisée	5	■	■	■	■
7	U-D6BDRE	Manuelle	6	■	■	■	■
8	U-D5BDRES-ESD	Codée	5	■	■	■	■	■
9	U-D6BDRES-S	Codée	6	■	■	■	■	■
10	U-D6REMC	Motorisée	6	■		■
11	U-D6BDREMC	Motorisée	6	■	■	■	■	■
12	U-D5BDREMC-VA	Motorisée	5	■	■

Modules coulissants

Utilisez le module coulissant pour compléter l’observation en fond clair conventionnelle. Le module coulissant CID (« DIC » en anglais) permet d’obtenir des informations sur la topographie de l’échantillon et d’optimiser le contraste ou la résolution. Le module coulissant MIX fournit une grande flexibilité d’éclairage grâce à une source d’éclairage LED segmentée intégrée dans la trajectoire du fond noir.

Module coulissant CID

		Type	Longueur du cisaillement	Objectifs disponibles
1	U-DICR	Standard	Moyenne	MPLFLN^1, MPLFLN-BD^2, LMPLFLN, LMPLFLN-BD, MXPLFLN, MXPLFLN-BD, MPLAPON et LCPLFLN-LCD

*1 Les objectifs 1,25x et 2,5x ne prennent pas en charge l’observation en CID.
*2 Les objectifs 2,5x ne prennent pas en charge l’observation en CID.

Glissière MIX

		Objectifs disponibles
2	U-MIXR-2	MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD, MPLN-BD, MXPLFLN-BD

Câble

U-MIXRCBL*

Câble U-MIXR, longueur du câble : 0,5 m

_{* MIXR uniquement}

Consoles de commande et interrupteurs

Consoles de commande pour l’interfaçage du microscope avec un PC, et interrupteurs de commande manuelle de l’affichage et des composants du microscope.

Configuration BX3M-CB (CBFM)

1	BX3M-CB	Console de commande pour le système BX53M
2	BX3M-CBFM	Console de commande pour système BXFM
3	BX3M-HS	Contrôle d’observation MIX, indicateur de matériel codé, bouton de fonction programmable du logiciel (PRECiV)
4	BX3M-HSRE	Rotation de la tourelle porte-objectifs motorisée

Câble

－

BX3M-RMCBL (ECBL)

Câble pour tourelle porte-objectifs motorisée, longueur du câble : 0,2 m

Boîtiers de commande et interrupteurs manuels

Platines

Platines et supports de platine pour placement d’échantillon. Effectuez votre choix selon la forme et la taille des échantillons.

Configuration de platine de 150 × 100 mm

1	U-SIC64	Platine à molette supérieure plane de 150 × 100 mm
2	U-SHG (T)	Poignée de commande en caoutchouc de silicone pour un confort amélioré (type épais)
3	U-SP64	Support de platine pour U-SIC64
4	U-WHP64	Support pour wafer U-SIC64
5	BH2-WHR43	Support de wafer de 4-3 pouces
6	BH2-WHR65	Support de wafer de 6-5 pouces
7	U-SPG64	Plaque de verre pour U-SIC64

Configuration de platine de 76 × 52 mm

12	U-SVR M	Platine à molette à droite de 76 × 52 mm
2	U-SHG (T)	Poignée de commande en caoutchouc de silicone pour un confort amélioré (modèle épais)
13	U-MSSP	Support de platine pour U-SVR (/L) M
14, 15	U-HR (L) D-4	Support de lame fine pour ouverture à droite (gauche)
16, 17	U-HR (L) DT-4	Porte-lame épais pour l’ouverture droite (gauche), pour presser la lame de verre sur la surface supérieure de la platine, l’échantillon est difficile à soulever

Configuration de platine de 100 × 100 mm

8	U-SIC4R 2	Platine à molette à droite de 105 × 100 mm
9	U-MSSP4	Support de platine pour U-SIC4R (L) 2
10	U-WHP2	Support pour wafer pour U-SIC4R (L) 2
5	BH2-WHR43	Support de wafer de 4-3 pouces
11	U-MSSPG	Plaque de verre pour U-SIC4R

Autres

18	U-SRG2	Platine rotative
19	U-SRP	Platine rotative pour POL, peut être tournée à 45° dans toutes les positions, butée d’arrêt
20	U-FMP	Platine mécanique pour U-SRP/U-SRG

Adaptateurs pour caméra

Adaptateurs pour l’observation par caméra. Effectuez votre choix selon le champ d’observation et le grossissement requis. La plage d’observation réelle peut être calculée à l’aide de la formule suivante : champ d’observation réel (diagonale en mm) = champ d’observation (valeur d’observation) ÷ grossissement de l’objectif.

		Grossissement	Réglage du centrage	Surface d’image CCD (numéro de champ)
		Grossissement	Réglage du centrage	2/3 po	1/1,8 po	1/2 po
1	U-TV1x-2 avec U-CMAD3	1	－	10,7	8,8	8
2	U-TV1XC	1	ø 2 mm	10,7	8,8	8
3	U-TV0.63xC	0,63	－	17	14	12,7
4	U-TV0.5xC-3	0,5	－	21,4	17,6	16
5	U-TV0.35xC-2	0,35	－	－	－	22

Oculaires

Oculaires pour observation directe au microscope. Effectuez votre choix selon le champ d’observation souhaité.

		Indice de champ (FN) [mm]	Mécanisme de réglage dioptrique	Réticule de visée intégré
1	WHN10x	22
2	WHN10X-H	22	■
3	CROSS WHN10x	22	■	■
4	SWH10x-H	26,5	■
5	CROSS SWH10x	26,5	■	■

Filtres optiques

Les filtres optiques convertissent la lumière d’exposition de l’échantillon en différents types d’éclairage. Choisissez le filtre adapté au type d’observation.

BF (fond clair), DF (fond noir), FL (fluoresence)

1, 2	U-25ND25,6	Filtre à densité neutre, facteur de transmission 25 %, 6 %
3	U-25LBD	Filtre couleur lumière du jour
4	U-25LBA	Filtre couleur halogène
5	U-25IF550	Filtre vert
6	U-25L42	Filtre anti-UV
7	U-25Y48	Filtre jaune
8	U-25FR	Filtre de Frost (obligatoire pour le BX3M-URAS-S)

POL, DIC

9	U-AN-2	Direction fixe de la lumière polarisée
10	U-AN360-3	Direction rotative de la lumière polarisée
11	U-AN360P-2	La direction de la lumière polarisée de haute qualité est rotative.
12	U-PO3	Direction fixe de la lumière polarisée
13	45-IF546	Filtre vert pour POL de ø45 mm

IR

14	U-AN360IR	Direction rotative de la lumière polarisée IR (réduit le halo en observation IR lors d’une utilisation en association avec U-AN360IR et U-POIR)
15	U-POIR	Direction fixe de la lumière polarisée IR
16	U-BP1100IR	Filtre passe-bande : 1100 nm
17	U-BP1200IR	Filtre passe-bande : 1200 nm

Lumière transmise

18	43IF550-W45	Filtre vert de ø 45 mm
19	U-POT	Filtre de polariseur

Autres

20

U-25

Filtre vide, à utiliser avec les filtres de 25 mm de diamètre de l’utilisateur

_{* AN et PO ne sont pas nécessaires lors de l’utilisation du BX3M-RLAS-S et de l’U-FDICR}

Condenseurs

Les condenseurs recueillent et concentrent la lumière transmise. À utiliser pour la microscopie en lumière transmise.

1	U-AC2	Condenseur d’Abbe (disponible pour les objectifs 5x et plus)
2	U-SC3	Condenseur pivotant (disponible pour les objectifs 1,25x et plus)
3	U-LWCD	Condenseur à grande distance frontale pour plaque en verre (U-MSSPG, U-SPG64)
4	U-POC-2	Condenseur pivotant pour observation en polarisation (POL)

Cubes de miroirs

Cube de miroirs pour bloc projecteur de lumière BX3M-URAS-S. Choisissez le cube adapté au type d’observation.

1	U-FBF	Pour observation en fond clair (BF), filtre ND amovible
2	U-FDF	Pour observation en fond noir (DF)
3	U-FDICR	Pour observation en lumière polarisée (POL) ; la position du Nicol croisée est fixe
4	U-FBFL	Pour observation en fond clair (BF), filtre à densité neutre (ND) intégré (il est nécessaire d’utiliser les méthodes BF* et FL)
5	U-FWUS	Pour observation en fluorescence (FL) ultraviolette : BP330-385 BA420 DM400
6	U-FWBS	Pour observation en fluorescence (FL) bleue : BP460-490 BA520IF DM500
7	U-FWGS	Pour observation en fluorescence (FL) verte : BP510-550 BA590 DM570
8	U-FF	Cube de miroirs vide

_{* Pour éclairage épiscopique coaxial uniquement}

Têtes d’observation intermédiaires

Une gamme d’accessoires adaptés à de multiples utilisations. Pour l’utilisation entre la tête d’observation et le système d’éclairage.

1	U-CA	Changeur de grossissement (1x, 1,25x, 1,6x, 2x)
2	U-TRU	Tête intermédiaire trinoculaire

Objectifs UIS2

Les objectifs assurent le grossissement de l’échantillon. Sélectionnez l’objectif qui correspond à la distance frontale, au pouvoir de résolution et à la méthode d’observation pour l’application envisagée.

Cliquez ici pour en savoir plus sur les objectifs UIS2

简单易用

Des techniques d’inspection traditionnelles simplifiées : illuminateur simple

L’illuminateur simplifie grandement les opérations de microscopie en réduisant au minimum les actions habituellement compliquées. Un utilisateur peut rapidement basculer entre les méthodes d’observation les plus fréquemment utilisées en microscopie en lumière réfléchie, comme le fond clair ou noir, ou la lumière polarisée, afin de passer facilement d’un type d’analyse à l’autre. De plus, l’observation en lumière polarisée simple est réglable par la rotation de l’analyseur.

Commandes intuitives du microscope : réglages faciles FS et AS

Commandes intuitives du microscope :
réglages faciles des diaphragmes de champ et d’ouverture (FS/AS)

L’utilisation de diaphragmes de champ et d’ouverture correctement réglés garantit un bon contraste de l’image et permet d’utiliser pleinement l’ouverture numérique de l’objectif. La légende aide l’utilisateur à choisir le paramètre approprié en fonction de la méthode d’observation et de l’objectif utilisés.

Accès rapide à la mise au point

L’échelle de mise au point sur la potence permet de trouver rapidement le point focal. Le réglage grossier de la mise au point sans visualisation de l’échantillon à travers un oculaire permet de gagner du temps lors de l’inspection d’échantillons de hauteurs différentes.

Interrupteur de commande manuelle de la rotation de la tourelle porte-objectifs motorisée

Utilisation facile et ergonomique

L’efficacité professionnelle de l’utilisateur dépend de la conception du système. Tant les utilisateurs du microscope en mode autonome que ceux qui se servent du logiciel d'analyse d'image PRECiV bénéficient des commandes manuelles pratiques affichant clairement la position du matériel. Ces commandes simples permettent à l’utilisateur de se concentrer sur son échantillon et sur l’inspection qu’il doit effectuer.

Pour une illumination constante :
gestionnaire d’intensité lumineuse

Au cours de la configuration initiale, l’intensité de l’éclairage peut être réglée de façon à correspondre à la configuration matérielle spécifique de l’illuminateur codé ou de la tourelle porte-objectifs codée.

Pour la restauration des paramètres du microscope : matériel codé

Les fonctions codées intègrent les paramètres système du BX53M au logiciel d’analyse d’images PRECiV. La méthode d’observation, l’intensité d’éclairage et le grossissement sont automatiquement enregistrés par le logiciel et stockés avec les images correspondantes. Comme les utilisateurs peuvent toujours effectuer des inspections avec les mêmes paramètres d’observation, des résultats d’inspection fiables peuvent être obtenus.

功能

L’invisible devient visible :
observation MIX

La technologie d’observation MIX du BX53M associe des méthodes d’éclairage en fond clair et en fond noir. Lorsque le module coulissant MIX est utilisé, son anneau de LED crée un éclairage directionnel en fond noir sur l’échantillon. Cette technique produit un effet semblable à la technique de fond noir traditionnelle, mais offre la possibilité sélectionner un quadrant de LED en particulier afin de diriger la lumière depuis des angles différents. Cette association de fond clair et de fond noir directionnel, de fluorescence et de polarisation est nommée « éclairage MIX » et est particulièrement utile pour mettre en évidence les défauts et différencier les surfaces en relief des zones de dépression.

Créez des images avec une mise au point parfaite sur l’ensemble de l’objet : EFI

La fonction d’imagerie à profondeur de champ étendue (EFI) du logiciel PRECiV crée plusieurs images d’échantillons dont la hauteur dépasse la profondeur de mise au point de l’objectif et les superpose pour former une image entièrement nette. La fonction EFI peut être utilisée selon un axe Z manuel ou motorisé et permet de cartographier l’échantillon en fonction d’une échelle de hauteurs pour faciliter la visualisation des différentes structures. Il est également possible de construire une image EFI en mode hors ligne au moyen du logiciel PRECiV Desktop.

Capture des zones lumineuses et des zones sombres : HDR

À l’aide du traitement avancé d’images, la fonction de plage dynamique étendue (HDR) ajuste les différences de luminosité dans une image pour réduire les reflets. La fonction HDR améliore la qualité visuelle des images numériques et donne ainsi une qualité professionnelle aux rapports.

_{Exposition parfaite pour les zones sombres

et les zones lumineuses

grâce à la fonction HDR

(échantillon : tête d’injecteur de carburant)}

Amélioration du contraste grâce à la fonction HDR (échantillon : coupe de magnésite)

_{Amélioration du contraste

grâce à la fonction HDR}
(échantillon : tête d’injecteur de carburant)

_{Image d’une pièce de monnaie acquise avec

la fonction d’alignement d’images multiples (MIA) instantanée}

Déplacez facilement la platine pour une vision panoramique : fonction d’alignement d’images multiples (MIA) instantanée

Vous pouvez désormais assembler les images facilement et rapidement en déplaçant les molettes XY de la platine manuelle ; aucune platine motorisée n’est nécessaire. Le logiciel PRECiV utilise la fonction de reconnaissance des motifs pour générer une image panoramique qui offre à l’utilisateur un champ d’observation plus étendu qu’avec un format normal d’image.

Capacités de mesure variées

Fonctions de mesure de routine ou de base

Différentes fonctions de mesure sont disponibles dans PRECiV, pour permettre à l’utilisateur d’obtenir facilement des données utiles à partir des images. Pour le contrôle qualité et l’inspection, des fonctions de mesure sur les images sont souvent requises. Tous les types de licences PRECiV disposent de fonctions de mesure interactives permettant par exemple de mesurer les distances et les angles, et d’effectuer des mesures à partir de zones délimitées par des rectangles, cercles, ellipses et polygones. Tous les résultats mesurés sont sauvegardés avec les fichiers images à des fins de consultation ultérieure.

Fonctions de mesure de routine ou de mesure de base

Count and Measure (comptage et mesure)

La détection des objets et la mesure de la répartition par taille font partie des applications les plus importantes de l’imagerie numérique. PRECiV intègre un moteur de détection qui utilise des méthodes de seuils pour séparer avec fiabilité les objets de l’arrière-plan (p. ex., des particules ou des rayures).

Solutions pour les sciences des matériaux

Le logiciel PRECiV offre une interface intuitive et axée sur les flux opérationnels pour faciliter l’analyse d’images complexes. En un simple clic, les tâches d’analyse d’image les plus complexes peuvent être exécutées rapidement, avec précision et conformément aux normes industrielles les plus courantes. Grâce à une réduction considérable du temps de traitement pour les tâches répétitives, les opérateurs spécialisés dans les matériaux peuvent se concentrer sur leurs analyses et leurs travaux de recherche. Les extensions propres à chaque module sont faciles à utiliser à tout moment pour réaliser des tableaux de classification d’inclusions et des tableaux d’intersection.

_{Vue de surface 3D

(échantillon de test de rugosité)}

_{Vue simple et mesure de profil 3D}

Mesure d’échantillons en 3D

Lors de l’utilisation d’un système d’entraînement motorisé de la mise au point externe, une image à profondeur de champ étendue (EFI) peut être rapidement acquise et affichée en 3D. Les données de hauteur obtenues peuvent être utilisées pour les mesures 3D effectuées sur les vues de profil ou sur l’image simple.

En savoir plus sur PRECiV

Capacité d’analyse d’une grande variété de types et de tailles d’échantillon

La nouvelle platine de 150 × 100 mm fournit une course plus longue que les modèles précédents sur l’axe X. Ayant également une surface plane, elle permet aux utilisateurs d’y placer facilement des échantillons de grande taille ou plusieurs échantillons. De plus, comme la plaque de la platine comporte des trous filetés, il est possible d’y fixer un porte-échantillon. La grande platine offre aux utilisateurs une grande polyvalence en leur permettant d’observer plusieurs échantillons sur un seul microscope. Cette polyvalence leur permet également de profiter d’un gain d’espace appréciable dans le laboratoire. Enfin, le couple réglable de la platine facilite les positionnements précis à un fort grossissement avec un champ d’observation étroit.

Prise en charge d’une large gamme de hauteurs et de poids d’échantillons

Les échantillons allant jusqu’à 105 mm de hauteur peuvent être montés sur la platine avec l’unité modulaire en option. Grâce au mécanisme de mise au point amélioré, le microscope peut accueillir un poids total (échantillon + platine) maximal de 6 kg. Cela signifie que des échantillons plus grands et plus lourds peuvent être observés sur le BX53M, réduisant ainsi le nombre de microscopes nécessaires dans le laboratoire. En positionnant de façon stratégique et décentrée un support rotatif de 6 pouces pour wafers, l’utilisateur peut observer l’ensemble de la surface d’un wafer en faisant simplement tourner le support lors du déplacement sur la plage de 100 mm disponible. Le réglage du couple de la platine est optimisé pour être facile d’utilisation et la poignée confortable permet de trouver facilement la région d’intérêt de l’échantillon.

_BX53MRF-S

_BXFM

Capacité d’analyse d’échantillons de grande taille

Lorsque des échantillons sont trop grands pour être placés sur une platine de microscope classique, les composants optiques principaux pour la microscopie en lumière réfléchie peuvent être organisés selon une configuration modulaire. Ce système modulaire, le BXFM, peut être monté sur un statif plus grand avec l’utilisation d’une colonne ou sur un autre instrument au choix au moyen d’un support de montage. L’utilisateur peut ainsi continuer à utiliser nos composants optiques renommés, même lorsque leurs échantillons sont de taille ou de forme spécifiques.

Protection des appareils électroniques grâce à la dissipation des décharges électrostatiques

Le BX53M possède une fonctionnalité de dissipation des décharges électrostatiques qui protège les appareils électroniques de l’électricité statique causée par les facteurs humains ou environnementaux.

图像清晰

Une longue expérience en conception d’objectifs de pointe

Ouverture numérique élevée combinée à une grande distance frontale

Les objectifs jouent un rôle essentiel dans la performance d’un microscope.
Les objectifs MXPLFLN ajoutent de la profondeur à la série MPLFLN pour l’imagerie par épi-éclairage en augmentant simultanément l’ouverture numérique et la distance frontale. Des résolutions élevées à des grossissements de 20x et 50x sont généralement synonymes de distances frontales plus courtes, ce qui oblige à rétracter l’échantillon ou l’objectif pendant l’échange d’objectifs. Dans de nombreux cas, la distance frontale de 3 mm de la série MXPLFLN élimine ce problème, ce qui permet des opérations de contrôle plus rapides avec moins de risque de toucher l’échantillon.

Objectif 50x standard : ON 0,8, DT 1 mm / MXPLFLN50X : ON 0,8, DT 3 mm

tableau

En savoir plus sur les objectifs MXPLFLN

Performances optiques supérieures :
contrôle des aberrations de front d’onde

Les performances optiques des objectifs ont un impact direct sur la qualité des images d’observation et les résultats d’analyse. Nos objectifs à fort grossissement UIS2 sont conçus pour réduire au minimum les aberrations de front d’onde, offrant ainsi des performances optiques fiables.

En savoir plus sur les objectifs UIS2

_{Mauvais front d’onde}

_{Front d’onde correct (objectif UIS2)}

_{Lampe halogène – La couleur varie avec l’intensité lumineuse.}

LED : la couleur est compatible avec l’intensité lumineuse et est plus claire qu’avec une lumière halogène.

_{LED – La couleur reste constante indépendamment de l’intensité lumineuse et est plus claire qu’avec une lumière halogène.}
^{* Toutes les images sont prises avec une exposition automatique.}

Constance de la température des couleurs :
éclairage LED blanc d’intensité élevée

Le BX53M utilise une source de lumière à LED blanche haute intensité pour les observations en lumière réfléchie et en lumière transmise. L’éclairage par LED maintient une température de couleur constante, quelle que soit l’intensité. Les LED fournissent un éclairage efficace et longue durée, idéal pour les opérations d’inspection dans le domaine des sciences des matériaux.

Qualité supérieure pour des performances de pointe

Assistance pour des mesures précises :
étalonnage automatique

Tout comme avec les microscopes numériques, l’étalonnage automatique est possible lors de l’utilisation du logiciel PRECiV. L’étalonnage automatique élimine la variabilité humaine dans le processus d’étalonnage, offrant des mesures plus fiables. Cette fonction utilise un algorithme qui calcule automatiquement l’étalonnage adéquat à partir d’une moyenne de multiples points de mesure. Cela permet de réduire au minimum la variance induite par les différents opérateurs et de maintenir une précision homogène. Résultat : les vérifications régulières sont plus fiables.

Tranche de semi-conducteur (image binarisée) : la correction de l’ombrage produit un éclairage homogène sur l’ensemble du champ de vision.

_{Tranche de semi-conducteur (image binarisée) :}
_{correction de l’ombrage assurant un éclairage homogène

de l’ensemble du champ d’observation}

Assemblage homogène :
correction de l’ombrage de l’image

Le logiciel PRECiV comprend une fonction de correction de l’ombrage pour traiter les ombres présentes dans les coins d’une image. Utilisée avec des réglages de seuil d’intensité, la correction de l’ombrage permet d’obtenir une analyse plus précise.

En savoir plus sur PRECiV

应用

Motif de circuit intégré sur un wafer semi-conducteur

Le fond noir est utilisé pour détecter des égratignures ou des défauts minimes sur un échantillon et pour examiner des échantillons avec des surfaces réfléchissantes, comme des wafers.

L’éclairage MIX permet aux utilisateurs de voir à la fois les couleurs et les motifs.

Fond clair + fond noir (MIX)

_{Fond clair + fond noir (MIX)}

Fond noir

_{Fond noir}

Fluorescence

_{Fluorescence (FL)}

Fluorescence + fond noir (MIX)

_{Fluorescence + fond noir (MIX)}

Résidu photorésistant sur un wafer de semi-conducteur

La fluorescence est utilisée pour des échantillons qui émettent de la lumière lorsqu’ils sont éclairés avec un cube de filtres spécialement conçu à cet effet. Cette méthode est utilisée pour détecter toute contamination ou résidu photorésistant.

L’éclairage MIX permet l’observation du résidu photorésistant et du motif du circuit intégré.

Filtre de couleur LCD

Cette technique d’observation est adaptée à des échantillons transparents tels que les LCD, les plastiques et le verre.

L’éclairage MIX permet d’observer à la fois la couleur du filtre et les motifs du circuit.

Transmission

_Transmission

Transmission + fond clair (MIX)

_{Transmission + fond clair (MIX)}

Fond clair

_{Fond clair}

Contraste interférentiel différentiel (CID)

_{Contraste interférentiel différentiel (CID)}

Fonte à graphite sphéroïdal

Le contraste interférentiel différentiel («CID », ou « DIC » en anglais) est une technique d’observation où la hauteur d’un échantillon est visible en relief, à l’instar d’une image en trois dimensions avec un contraste amélioré. Il est idéal pour observer des échantillons présentant des différences de hauteur infimes, comme des structures métallurgiques et des minéraux.

Séricite

Le CID est une technique d’observation dans laquelle la hauteur d’un échantillon, généralement indétectable sur un fond clair, est visible en relief, à l’instar d’une image en trois dimensions avec un contraste amélioré. Cette technique est idéale pour examiner des échantillons présentant des différences de hauteur infimes, comme des structures métallurgiques et des minéraux.

Fond clair

_{Fond clair}

Lumière polarisée

_{Lumière polarisée}

Infrarouge (IR)

_{Infrarouge (IR)}

Plots de connexion sur un motif de circuit intégré

Le mode IR est utilisé pour rechercher des défauts à l’intérieur de puces de circuits intégrés et d’autres objets en silicone sur verre.

规格

CARACTÉRISTIQUES TECHNIQUES DU BX53M – CONFIGURATIONS SUGGÉRÉES POUR UNE UTILISATION GÉNÉRALE

			Entrée de gamme		Standard		Avancée
Système optique			Système optique UIS2 (corrigé à l’infini)
Unité principale	Potence du microscope		BX53MRF-S (lumière réfléchie)	BX53MTRF-S (lumière réfléchie/transmise)	BX53MRF-S (lumière réfléchie)	BX53MTRF-S (lumière réfléchie/transmise)	BX53MRF-S (lumière réfléchie)	BX53MTRF-S (lumière réfléchie/transmise)
	Mise au point		Course : 25 mm Course précise par rotation : 100 μm Pas minimal : 1 μm Avec butée de fin de course supérieure ; réglage du couple pour la molette de mise au point approximative
	Hauteur max. de l’échantillon		Lumière réfléchie : 65 mm (sans entretoise), 105 mm (avec BX3M-ARMAD) Lumière réfléchie/transmise : 35 mm (sans entretoise), 75 mm (avec BX3M-ARMAD)
	Tête d’observation	Champ large (FN 22)	U-TR30-2-2 Inversée : trinoculaire
	Éclairage	Lumière réfléchie Lumière transmise	BX3M-KMA-S LED blanche, diaphragme de champ BF/DIC/POL/MIX, diaphragme d'ouverture (avec mécanisme de centrage), interverrouillage BF/DF		BX3M-RLAS-S Codé, LED blanche, diaphragme de champ BF/DIC/POL/MIX, diaphragme d'ouverture (avec mécanisme de centrage), interverrouillage BF/DF
			－	BX3M-LEDT LED blanche Condenseurs Abbe/pour grande distance frontale	－	BX3M-LEDT LED blanche Condenseurs Abbe/pour grande distance frontale	－	BX3M-LEDT LED blanche Condenseurs Abbe/pour grande distance frontale
	Tourelle porte-objectifs rotative		U-5RE-2 Pour BF : quintuple		U-D6BDRE Pour BF/DF : sextuple			U-D6BDRES-S Pour BF/DF : sextuple, codé
	Oculaire (FN 22)		WHN10 WHN10X-H
	Observation MIX		－					BX3M-CB Boîtier de commande BX3M-HS Interrupteur manuel U-MIXR-2 Module coulissant MIX pour observation en lumière réfléchie U-MIXRCBL Câble pour MIXR
	Condenseur (grande distance frontale)		－	U-LWCD	－	U-LWCD	－	U-LWCD
	Câble d’alimentation		UYCP (x1)					UYCP (x2)
	Poids		Lumière réfléchie : env. 15,8 kg (potence du microscope – 7,4 kg) Lumière réfléchie/transmise : env. 18,3 kg (potence du microscope – 7,6 kg)
Objectifs	Ensemble MPLFLN		MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X Observation BF/POL/FL		－
	Ensemble MPLFLN BD		－		MPLFLN5XBD, 10XBD, 20XBD, 50XBD, 100XBD Observation BF/DF/DIC/POL/FL
	Ensemble MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD		－		MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observation BF/DF/DIC/POL/FL
	Ensemble MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD, LMPLFLN-BD		－		MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observation BF/DF/DIC/POL/FL
Platine (X x Y)	Ensemble de 76 × 52 mm		U-SVRM, U-MSSP Platine à poignée droite coaxiale / 76 (X) x 52 (Y) mm, avec réglage du couple
	Ensemble de 100 x 100 mm		U-SIC4R2, U-MSSP4 Grande platine à poignée droite coaxiale / 100 (X) x 100 (Y) mm, avec mécanisme de verrouillage sur l’axe Y
	Ensemble de 100 x 100 (G) mm		U-SIC4R2, U-MSSPG Grande platine à poignée droite coaxiale / 100 (X) × 100 (Y) mm, avec mécanisme de verrouillage sur l’axe Y (plaque en verre)
	Ensemble de 150 × 100 mm		U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Grande platine à poignée droite coaxiale / 150 (X) × 100 (Y) mm, avec réglage du couple, avec mécanisme de verrouillage sur l’axe Y
	Ensemble de 150 x 100 (G) mm		U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Grande platine à poignée droite coaxiale / 150 (X) x 100 (Y) mm, avec réglage du couple, avec mécanisme de verrouillage sur l’axe Y (plaque en verre)
Option	Ensemble d’observation MIX*		BX3M-CB, BX3M-HS, U-MIXR-2, U-MIXRCBL				－
	Contraste interférentiel différentiel* (DIC)		U-DICR
	Têtes d’observation intermédiaires		U-CA, U-EPA2, U-TRU
	Filtres		U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-25IF550, U-25L42, U-25, U-25FR
	Filtre pour condenseur		43IF550-W45, U-POT
	Plaque de platine		U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR65, U-WHP2
	Porte-échantillon		U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4
	Prise de poignée en caoutchouc		U-SHG, U-SHGT

_{* Ne peut pas être utilisé avec la tourelle porte-objectiU-5RE-2}

UNITÉS ESD BX53M / BXFM

Articles	Potence du microscope	BX53MRF-S, BX53MTRF-S
	Illuminateur	BX3M-KMA-S, BX3M-RLA-S, BX3M-URAS-S, BX3M-RLAS-S
	Tourelle porte-objectifs	U-D6BDREMC, U-D6BDRES-S, U-D5BDREMC-ESD, U-5RES-ESD
	Platine	U-SIC4R2, U-MSSP4

CARACTÉRISTIQUES TECHNIQUES DU BX53M – CONFIGURATIONS SUGGÉRÉES POUR UNE UTILISATION SPÉCIALISÉE

				Fluorescence		Infrarouge	Lumière polarisée
Système optique				Système optique UIS2 (corrigé à l’infini)
Unité principale	Potence du microscope			BX53MRF-S (lumière réfléchie)	BX53MTRF-S (lumière réfléchie/transmise)	BX53MRF-S (lumière réfléchie)	BX53MTRF-S (lumière réfléchie/transmise)
	Mise au point			Course : 25 mm Course précise par rotation : 100 μm Pas minimal : 1 μm Avec butée de fin de course supérieure ; réglage du couple pour la molette de mise au point approximative
	Hauteur max. de l’échantillon			Lumière réfléchie : 65 mm (sans entretoise), 105 mm (avec BX3M-ARMAD) Lumière réfléchie/transmise : 35 mm (sans entretoise), 75 mm (avec BX3M-ARMAD)
	Tête d’observation	Champ large (FN 22)		U-TR30-2 Inversée : trinoculaire		U-TR30IR Inversée : trinoculaire pour IR	U-TR30-2 Inversée : trinoculaire
		Module intermédiaire de lumière polarisée (U-CPA)	Lentille de Bertrand	－		－	Focalisable
			Diaphragme de champ de la lentille de Bertrand	－		－	Diamètre de 3,4 mm (fixe)
			Ajout/retrait de la lentille de Bertrand pour basculer entre les observations orthoscopiques et conoscopiques	－		－	Position de la glissière ● à l’intérieur Position de la glissière ○ à l’extérieur
			Fente de l’analyseur	－		－	Analyseur rotatif avec fente (U-AN360P-2)
	Éclairage	Lumière réfléchie	Observation FL	BX3M-URAS-S Lumière réfléchie universelle codée, tourelle à miroir à 4 positions, (standard : U-FWUS, U-FWBS, U-FWGS, U-FBF, etc.) avec diaphragme de champ, diaphragme d’ouverture (avec mécanisme de centrage), avec mécanisme d’obturation		－	－
			Observation IR	－		BX3M-RLA-S Lampe halogène de 100 W pour IR, BF/IR, AS (avec mécanisme de centrage) U-LH100IR (avec HAL-L 12 V 10 W) Source de lumière halogène de 100 W pour IR TH4-100 Bloc d’alimentation de 100 W TH4-HS Interrupteur manuel U-RMT Rallonge	－
		Lumière transmise	Observation POL	－		－	BX3M-LEDT LED blanche Condenseurs Abbe/pour grande distance frontale
	Tourelle porte-objectifs rotative			U-D6BDRES-S Pour BF/DF : sextuple, codé		U-5RE-2 Pour BF : quintuple	U-P4RE Quadruple, composants accessoires pouvant être centrés Une lame quart d’onde (U-TAD), une lame teintée (U-TP530) et divers compensateurs peuvent être fixés grâce à l’adaptateur de plaque (U-TAD)
	Oculaire (FN 22)			WHN10X
				WHN10X-H			CROSS-WHN10X
	Cubes porte-filtres			U-FDF Pour DF U-FBFL Pour BF, filtre ND intégré U-FBF Pour BF, filtre ND amovible U-FWUS Pour FL ultraviolet U-FWBS Pour FL bleu U-FWGS Pour FL vert		－
	Filtre / Polariseur / Analyseur			U-25FR Filtre de Frost		U-BP1100IR/U-BP1200IR Filtres passe-bande pour IR	43IF550-W45 Filtre vert
				U-POIR Module coulissant de polariseur à lumière réfléchie pour IR		U-AN360IR Module coulissant d’analyseur rotatif pour IR	U-AN360P-2 Molette rotative à 360° Angle minimum de rotation de 0,1°
	Condenseur			U-LWCD Grande distance frontale		－	U-POC-2 Condenseur achromatique sans contrainte Polariseur tournant à 360° avec lentille supérieure achromatique pivotante La butée à déclic à la position « 0° » est ajustable. ON 0,9 (lentille supérieure à l’intérieur) / ON 0,18 (lentille supérieure à l’extérieur) Diaphragme d’ouverture à iris : réglable de 2 à 21 mm de diamètre
	Module coulissant /compensateurs			－			U-TAD Module coulissant (adaptateur de plaque)
							U-TP530 Plaque teintée U-TP137 Lame quart d’onde
	Câble d’alimentation			UYCP (x1)		UYCP (x2)	UYCP (x1)
	Poids			Lumière réfléchie : env. 15,8 kg (potence du microscope – 7,4 kg)	Lumière réfléchie/transmise : nv. 18,3 kg (potence du microscope – 7,6 kg)	Env. 18,9 kg (potence du microscope – 7,4 kg)	Env. 16,2 kg (potence du microscope – 7,6 kg)
Source de lumière FL/réfléchie	Guide de lumière			Ensemble de guides de lumière U-LLGAD, U-LLG150		－	－
	Lampe au mercure			Ensemble de lampe au mercure U-LH100HGAPO1-7, USH-103OL (x2), U-RFL-T, U-RCV		－	－
Objectifs	Ensemble MPLFLN			MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X Observation BF/DIC/POL/FL		－	－
	Ensemble MPLFLN BD			MPLFLN5XBD, 10XBD, 20XBD, 50XBD, 100XBD Observation BF/DF/DIC/POL/FL		－	－
	Ensemble MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD			MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observation BF/DF/DIC/POL/FL		－	－
	Ensemble MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD, LMPLFLN-BD			MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observation BF/DF/DIC/POL/FL		－	－
	Ensemble IR			－		LMPLN5XIR, 10XIR, LCPLN20XIR, 50XIR, 100XIR Observation IR	－
	Ensemble POL			－		－	UPLFLN4XP, 10XP, 20XP, 40XP Observation POL
Platine (X x Y)	Ensemble de 76 × 52 mm			U-SVRM, U-MSSP Platine à poignée droite coaxiale / 76 (X) x 52 (Y) mm, avec réglage du couple
	Ensemble de 100 × 100 mm			U-SIC4R2, U-MSSP4 Grande platine à poignée droite coaxiale / 100 (X) x 100 (Y) mm, avec mécanisme de verrouillage sur l’axe Y
	Ensemble de 100 x 100 (G) mm			U-SIC4R2, U-MSSPG Grande platine à poignée droite coaxiale / 150 (X) x 100 (Y) mm, avec mécanisme de verrouillage sur l’axe Y (plaque en verre)
	Ensemble de 150 × 100 mm			U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Grande platine à poignée droite coaxiale / 150 (X) × 100 (Y) mm, avec réglage du couple, avec mécanisme de verrouillage sur l’axe Y
	Ensemble de 150 x 100 (G) mm			U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Grande platine à poignée droite coaxiale / 150 (X) x 100 (Y) mm, avec réglage du couple, avec mécanisme de verrouillage sur l’axe Y (plaque en verre)
	Ensemble POL			－			U-SRP+U-FMP Platine tournante de polarisation + platine mécanique
Option	Ensemble d’observation MIX*			BX3M-CB, BX3M-HS, U-MIXR-2, U-MIXRCBL
	Contraste interférentiel différentiel* (DIC)			U-DICR
	Têtes d’observation intermédiaires			U-CA, U-EPA2, U-TRU
	Filtres			U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-25IF550, U-25L42, U-25, U-25FR
	Filtre pour condenseur			43IF550-W45, U-POT
	Plaque de platine			U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR65, U-WHP2
	Porte-échantillon			U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4
	Prise de poignée en caoutchouc			U-SHG, U-SHGT