显微镜解决方案

简单直观

Le système CIX100 offre d’excellentes performances et une grande productivité sur l’ensemble du processus d’inspection et facilite les contrôles de la propreté des composants pour les utilisateurs, quelle que soit leur expérience. Le logiciel offre des directives étape par étape tout au long du processus de contrôle de la propreté. Des flux de travaux et une gestion des droits d’utilisateur intuitifs améliorent la productivité et la fiabilité des résultats tout en réduisant la durée du cycle, le coût par analyse et les erreurs d’utilisateur. Le système est donc optimisé pour des normes de qualité à haut niveau d’exigence.

Non seulement l’interface utilisateur clairement structurée permet de répéter et de reproduire le contrôle de propreté, mais sa simplicité fait que même les utilisateurs débutants peuvent l’utiliser.

Le flux de travaux intuitif guide les utilisateurs dans l’ensemble du processus d’inspection, et comporte trois étapes faciles à exécuter : inspection de l’échantillon, examen des résultats et création de rapport. Du balayage de l’échantillon à la création de rapports conformes, l’automatisation optimisée apporte de la convivialité à chaque étape afin que les utilisateurs de tous les niveaux d’expérience puissent effectuer des inspections efficaces et produire des données fiables.

L’interface intuitive guide les utilisateurs étape par étape tout au long du processus d’inspection. Il en résulte un flux de travaux rapide et productif.

Un système prédéfini et pré-étalonné combiné à une interface utilisateur intuitive facilite les contrôles de propreté, quel que soit le niveau d’expérience.

Le système rappelle régulièrement aux utilisateurs d’exécuter des contrôles système automatiques pour assurer l’obtention de résultats précis, et les configurations système prédéfinies et personnalisées facilitent le travail quotidien des opérateurs.

Le mode microscope vous permet de quitter le processus de contrôle de la propreté pour exécuter des opérations d’imagerie. Élargissez les capacités du mode microscope avec des fonctionnalités en option dédiées à l’analyse de matériaux, comme :

• Grain intercept (granulométrie – méthode par intercepts)
• Grain Planimetric (granulométrie – méthode planimétrique)
• Cast Iron (fonte)
• Inclusion Worst Field (méthode de classement des inclusions d’après la zone d’échantillon la plus contaminée)
• Layer Thickness (épaisseur des couches)
• Dendrite Arm Spacing (espacement entre les branches dendritiques)
• Phase Analysis (analyse de phases)
• Porosity (porosité)
• Coating Thickness (épaisseur de revêtement)

Cette fonctionnalité peut être étendue au moyen de fonctions spéciales personnalisées selon les besoins de chaque utilisateur.

Solution d’apprentissage profond TruAI

Grâce à la technologie intégrée d’apprentissage profond TruAI, le système CIX100 fournit une analyse d’images qui va au-delà des algorithmes classiques. Vous pouvez appliquer un réseau neuronal entraîné à vos échantillons pour une meilleure reproductibilité et une analyse plus robuste. La solution TruAI permet au système CIX100 de catégoriser les particules détectées selon le type de particules (p. ex. réfléchissantes ou non réfléchissantes).

En savoir plus la technologie d’apprentissage profond TruAI

Toutes les données sont enregistrées automatiquement. Les utilisateurs peuvent accéder rapidement à tous les échantillons archivés, ainsi qu’à leurs données et leurs rapports associés pour les réviser ou les distribuer.

Les administrateurs peuvent accéder à l’ensemble de la configuration du système (haut), alors que les utilisateurs sans expérience ne sont limités qu’au processus de base (bas).

Les administrateurs peuvent déterminer quels utilisateurs ont accès aux différentes parties du système. Cela permet aux utilisateurs sans expérience de rester concentrés sur la tâche prévue. Ils ne peuvent pas influencer de manière importante les paramètres critiques, comme l’étalonnage et les données sélectionnées pour le rapport généré automatiquement.

Hautes performances grâce à la technologie tactile

L’interface possède de grands boutons sur lesquels il vous suffit de cliquer avec une souris ou avec l’écran tactile du moniteur.

Les configurations d’inspection servent à préciser tous les paramètres d’inspection de l’échantillon, notamment les règles associées à la caractérisation des particules, la définition des espèces de particules et les types.

Le système CIX100 vous est livré déjà configuré et étalonné. Toutefois, il est possible d’y apporter des modifications et de le personnaliser selon vos applications et exigences particulières.