Notre gamme de 17 objectifs vous offre tout ce dont vous avez besoin pour obtenir une grande variété d’images, y compris des options à très grande distance de travail et à grande ouverture numérique.
Objectif à très grande distance de travail
Il permet l’obtention d’une grande distance de travail entre l’objectif et l’échantillon.
Résolution très élevée (mode de déplacement de pixels)
5760 × 3600 (16:10)
Mode 3CMOS (haute qualité)
Non disponible
Disponible (modes de résolution élevée et très élevée seulement)
Éclairage
Source de lumière en couleurs
LED
Durée de vie
60 000 h (valeur nominale)
Observation
Fond clair (BF)
Incluse
Oblique (OBQ)
Incluse
Fond noir (DF)
Incluse
Anneau à LED divisé en quatre parties
Fond clair + fond noir (MIX)
Incluse
Observations en fond clair (BF) et en fond noir (DF) simultanées
Lumière polarisée (PO)
Incluse
Contraste interférentiel différentiel (DIC)
Non disponible
Incluse
Augmentation du contraste
Incluse
Augmentation de la profondeur de foyer
Non disponible
Incluse
Lumière transmise
Incluse*3
Mise au point
Mise au point
Motorisée
Course
101 mm (motorisée)
*1 Étalonnage requis, à effectuer par un technicien d’Evident ou d’un revendeur. Pour que la précision XY soit garantie, il est nécessaire d’effectuer l’étalonnage au moyen du DSX-CALS-HR (échantillon d’étalonnage). La délivrance de certificats de conformité d’étalonnage nécessite que la procédure soit réalisée par un technicien d’étalonnage d’Evident. *2 Lors de l’utilisation d’un objectif à grossissement 20X ou plus *3 L’illuminateur DSX10-ILT en option est requis.
Objectif
DSX10-SXLOB
DSX10-XLOB
UIS2
Objectif
Hauteur maximale des échantillons
50 mm
115 mm
145 mm
Hauteur maximale des échantillons
(observation avec inclinaison libre)
50 mm
Distance parfocale
140 mm
75 mm
45 mm
Monture d’objectif
Intégrée à l’objectif
Disponible
Grossissement total
(sur un moniteur de 27 po, format d’image 1:1, avec un grossissement d’image de 100 %)
27 – 1927X
58 – 7710X
34*4 – 9637X
Champ d’observation réel (μm)
19 200 µm – 270 µm
9100 µm – 70 µm
17 100 µm – 50 µm
Adaptateur
Adaptateur de diffusion (en option)
Disponible
Non disponible
Adaptateur d’élimination des reflets (en option)
Disponible
Non disponible
Monture d’objectif
Nombre d’objectifs pouvant y être fixés
1 objectif
(la monture est intégrée à l’objectif)
Jusqu’à 2 objectifs
Étui pour objectifs
3 montures d’objectifs peuvent y être rangées
*4 Grossissement total (maximum) lors de l’utilisation de l’objectif MPLFLN1.25X
Platine
DSX10-RMTS
DSX10-MTS
U-SIC4R2
Platine XY : motorisée/manuelle
Motorisée
(avec fonction de rotation)
Motorisée
Manuelle
Course XY
Mode « priorité course » : 100 × 100 mm
Mode « priorité rotation » : 50 × 50 mm
Les condensateurs en céramique multicouche (MCLL) ont attiré l’attention et ont été largement utilisés dans des applications allant des terminaux mobiles aux automobiles. De plus, nous nous attendons à ce que de grandes quantités de MCLL soient incorporées dans les appareils 5G. Le DSX1000 permet de mesurer facilement l’épaisseur de la couche interne des MCLL avec une haute résolution.
Le microscope numérique DSX1000 d’Olympus facilite l’obtention d’images optimales qui facilitent le contrôle de la qualité des bavures sur les composants moulés par injection. Il est équipé de diverses fonctions qui vous permettent d’acquérir des images au grossissement souhaité, avec la méthode d’observation et l’angle d’éclairage souhaités, ainsi qu’avec une fonction de traitement des images.
Dans le processus de contrôle de la qualité, les inspecteurs doivent évaluer les épaisseurs de revêtement pour s’assurer qu’elles répondent aux caractéristiques techniques et vérifier les variations d’épaisseur. Le DSX1000 fournit des algorithmes de correspondance de motifs et de correction d’ombrage qui vous permettent d’assembler des images.
S’il y a des bavures dans les rainures du piston, cela peut entraîner des problèmes de moteur importants. Le DSX1000 propose d’« observer les petites bavures avec des images claires à faible grossissement », de « passer instantanément à un objectif de grossissement plus élevé pour analyser les bavures » et de « voir la rainure de la bague de piston sous différents angles avec une potence inclinable » et assure un flux de travaux efficace.
Il existe de nombreuses pièces forgées, telles que les engrenages, les valves et les bielles utilisées dans les automobiles. Le DSX1000 peut observer le flux du métal qui affecte la ténacité à l’aide de la fonction d’assemblage automatique.
Les radiateurs jouent un rôle important dans le refroidissement du moteur et il est essentiel de confirmer le brasage des tuyaux et des ailettes pour le contrôle de la qualité. La fonction multiprévisualisation du DSX1000 facilite la visualisation de l’échantillon en utilisant plusieurs méthodes d’observation pour trouver la bonne méthode et rend les inspections plus efficaces.
Les bielles doivent être suffisamment solides pour résister à des dizaines de millions de tours par minute, et la largeur de la fente est strictement contrôlée. Avec le DSX1000, la largeur de fente qui ne pouvait pas être clairement observée avec un microscope classique peut être observée avec une grande exactitude.
La composition de la surface d’une plaquette de frein a une influence sur sa performance, notamment sur la force de freinage, la stabilité thermique, le niveau de bruit et la production de chaleur. On utilise des microscopes numériques pour s’assurer que les matériaux utilisés dans la fabrication des plaquettes de frein respectent les bonnes proportions.
Les microscopes numériques sont des outils efficaces pour analyser des défauts comme des bris de fils, des écarts de pas de fils, de l’écaillage et des migrations, qui peuvent tous survenir pendant le processus de microcâblage.
Les forets sont fréquemment utilisés dans l’industrie comme outil de découpe. En cas d’endommagement de l’arête d’un foret, des imprécisions peuvent survenir lors du centrage des perçages, et le foret risque de se casser. Le microscope numérique classique est couramment utilisé pour effectuer l’inspection de forage, mais il existe des difficultés. Le DSX1000 offre les avantages de détecter les dommages sur un bord de foret.
Les semi-conducteurs sont des composants essentiels dans de nombreux appareils électroniques. Des défauts peuvent être introduits dans le circuit pendant le processus de fabrication, et une inspection visuelle à l’aide d’un microscope est l’option préférée pour inspecter les défauts. Le DSX1000 simplifie l’inspection visuelle des semi-conducteurs.
Les fabricants utilisent des mesures de contrôle de qualité strictes pour minimiser les pannes des broches des connecteurs électriques, et les microscopes jouent un rôle essentiel. Les objectifs du microscope numérique DSX1000 offrent la profondeur de champ et la résolution nécessaires pour effectuer une seule mise au point sur la totalité d’une broche de connecteur, ce qui simplifie et accélère grandement le processus d’inspection.
La fractographie devient de plus en plus importante à mesure que les infrastructures continuent de vieillir et que les difficultés liées au contrôle de la qualité se présentent. Les microscopes optiques ou numériques sont des outils de fractographie essentiels utilisés pour produire des images de haute qualité à des fins d’analyse. Consultez les détails des avantages que le DSX1000 peut offrir pour analyser les surfaces métalliques fracturées.
Pendant le processus de découpage de la fabrication de circuits intégrés, la quantité de rugosité admissible de la surface de la plaquette est soigneusement contrôlée. La rugosité est vérifiée avec un microscope numérique, mais les propriétés physiques des puces de circuits intégrés peuvent être difficiles. Les lentilles d’objectif du DSX1000 offrent une haute résolution à faible grossissement pour réduire les ombres et les reflets, permettant aux inspecteurs de voir plus facilement les éclats lors d’observations à faible grossissement.
L’inspection des défauts de pelage de la résine est essentielle, car ces défauts peuvent entraîner une isolation et une résistance à la chaleur plus faibles d’une carte de circuit imprimé terminée, ce qui les rend plus susceptibles de tomber en panne. Les cartes de circuit imprimées sont difficiles à inspecter au microscope. Le microscope numérique DSX1000 est doté d’optiques télécentriques avancés et d’objectifs haute résolution qui offrent une excellente profondeur de champ, ce qui vous permet d’observer une carte de circuit imprimé gravée pour rechercher la cause d’un défaut.
Les fabricants mesurent les dimensions des condensateurs céramiques stratifiés et les inspectent visuellement pour rechercher des fissures dans la céramique. Des microscopes classiques ou numériques sont utilisés pour compléter le système d’inspection automatisé, mais posent des défis. Le DSX1000 offre de multiples avantages pour l’inspection des condensateurs.
Pendant le processus de fabrication des cartes de circuit imprimé, une inspection au microscope est nécessaire pour analyser précisément la forme du circuit. Il existe de nombreux avantages à mesurer la forme d’un circuit avec le DSX1000.
